【技术实现步骤摘要】
本技术属于粒子探测器
，特别涉及一种辐射粒子探测器及应用该探测器的辐射粒子探测系统。
技术介绍
辐射粒子探测器用于探测自然界天然或人工产生的各种辐射粒子，主要是带电的粒子和中性粒子，这些粒子从宇宙天体的形成到我们的日常生活以及在国民经济的各种应用中无处不在。比如在国际反恐行动中，探寻和区分破坏力很大的核燃料材料，海关检查关口的货物库，以及核反应堆核泄漏放射性剂量的测量等各重要领域中发挥着极其重要的作用。现在广泛应用的辐射粒子探测器主要分气体、闪烁和半导体三类探测器，它们的主要缺陷是体积大，响应速度慢，检测精度不高，本技术的关键部件属于微结构气体探测器，其优点是具有多路读出和发挥快的响应，有高气体增益并随意可调，易于制造维护，相对价廉，实用性强。
技术实现思路
本技术针对现有的辐射粒子探测系统探测器体积大，响应速度慢，检测精度不高的缺陷，提供一种辐射粒子探测器及应用该探测器的辐射粒子探测系统。辐射粒子探测器简称 THGEM (即 ThickGasElectronMultiplication)。本技术提供的辐射粒子探测器，其特征在于:在绝缘条上依次层叠4层涂覆硼的GE...
【技术保护点】
一种辐射粒子探测器，其特征在于：在绝缘条上依次层叠4层涂覆硼的GEM膜，在最上面那层涂覆硼的GEM膜上再层叠涂覆硼的铝膜，其中GEM膜为辐射粒子探测膜简称。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：董洋，张强，杨亚聃，王滨，陈国民，丁飞，
申请(专利权)人：北京新立机械有限责任公司，
类型：实用新型
国别省市：
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