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本实用新型公开了属于粒子探测器技术领域的一种辐射粒子探测器及应用该探测器的辐射粒子探测系统。所述的辐射粒子探测器，在x-y绝缘条上依次层叠4层涂覆硼的GEM膜，在最上面那层涂覆硼的GEM膜上再层叠涂覆硼的铝膜，其中GEM膜为辐射粒子探测膜简...
该专利属于北京新立机械有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京新立机械有限责任公司授权不得商用。

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