一种检测固体电解质电性能的夹具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种检测固体电解质电性能的夹具，包括夹具上体及夹具下体，其夹具上体与夹具下体结构对称，分别由铂丝、氧化铝基体及铂片组成，氧化铝基体为柱体状，其轴心设有通孔，铂片为片状，铂丝为直线状，所述氧化铝基体垂直设置，铂片设于氧化铝基体上，铂丝穿过氧化铝基体的通孔与铂片连接；夹具上体与夹具下体上的铂片相互对应。本实用新型专利技术的目的是针对现有技术的不足而提供的一种检测固体电解质电性能的夹具，本实用新型专利技术利用夹具上体的自重夹持样品，铂片作为样品电极，具有结构简单，操作方便，附加阻抗小的优点。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电解质检测
，尤其是一种检测固体电解质电性能的夹具。
技术介绍
固体电解质或称为快离子导体，是指在一定温度以上具有较高离子导电性的离子晶体。离子电导率是固体电解质材料最重要的指标之一。电导率的物理意义即表示物质导电的性能。电导率越大则导电性能越强，反之越小。影响电导率的因素主要有三个:温度、材质的纯度及各向异性。其中，电导率与温度具有很大相关性，即固体电解质材料的离子电导率与温度之间的关系可以用阿伦尼乌斯公式来描述。值得强调的是，有些固体电解质材料只有在高温下才能够实现离子的迁移，进而介电常数随温度的升高而快速增加。所以研究固体电解质材料在高温下的电性能就显得格外重要。通常电导率的测试技术主要有直流四端电极法和交流复阻抗技术。前者只能获得材料的总电导率，后者可以将晶粒、晶界、和电极的贡献分离开来，从而得到反映材料本征特性的晶粒电导率数据。交流阻抗谱方法是是交流法测量电导率的发展，即正弦波交流阻抗法，测量的是固体电解质和电极组成的电池的阻抗与微扰频率的关系。对于固体电解质，一般是把不同频率下测得的阻抗和容抗作复数平面图，并利用测量电池的等效电路分析所得谱图，可分别检测出多晶固体电解质晶粒及晶界内的离子导电率，是目前研究固体电解质离子导电性能的有效手段，同时也广泛应用于众多功能陶瓷的微观性能研究。其优点是测定频率范围广，可精密测量。LCR测试仪是以微处理器控制的数字式测量各种无源阻抗参量的仪器，是目前较理想的用于测试高温下固体电解质材料电导率的优选仪器。因其测试速度快、频率范围宽、测量范围大、稳定性和准确度较高、读数方便等众多优点而被广泛应用。存在的问题是，与LCR测试仪配套的检测夹具较繁琐，检测时，还需在样品电极上引出钼丝，为此，补充和完善一种简单、方便且有效的检测夹具，是保证对固体电解质电性能进行准确检测的一个重要环节。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术的不足而提供的一种检测固体电解质电性能的夹具，本技术利用夹具上部的自重夹持样品，钼片作为样品电极，具有结构简单，操作方便，附加阻抗小的优点。实现本技术目的的具体技术方案是:一种检测固体电解质电性能的夹具，其特点在于该夹具包括夹具上体及夹具下体，其夹具上体与夹具下体结构对称，分别由钼丝、氧化铝基体及钼片组成，氧化铝基体为柱体状，其轴心设有通孔，钼片为片状，钼丝为直线状，所述氧化铝基体垂直设置，钼片设于氧化铝基体上，钼丝穿过氧化铝基体的通孔与钼片连接；夹具上体与夹具下体上的钼片相互对应。本技术的有益效果在于:(1)本技术的夹具采用自重夹持样品，操作简单。(2)本技术的夹具组成材料熔点高，耐高温。(3)本技术的夹具无须在样品电极上引出钼丝，消除了引线的附加阻抗对测试结果的影响。(4)本技术的夹具和测试装置结构简单，操作方便。附图说明图1为本技术的结构示意图；图2为本技术的使用状态示意图。具体实施方式参阅图1，本技术包括夹具上体I及夹具下体2，其夹具上体I与夹具下体2结构对称，夹具上体I由上钼丝11、上氧化铝基体12及上钼片13组成，夹具下体2由下钼丝21、下氧化铝基体22及下钼片23组成，其上、下氧化铝基体均为柱体状，轴心设有通孔，上、下钼片均为片状，上、下钼丝为直线状；所述夹具上体I的上氧化铝基体12垂直设置，上钼片13设于上氧化铝基体12的底部，上钼丝11穿过上氧化铝基体12的通孔与上钼片13连接；所述夹具下体2的下氧化铝基体22垂直设置，下钼片23设于下氧化铝基体22的顶部，下钼丝21 —端设置“U”字形，且穿过下氧化铝基体22的通孔与下钼片23连接；所述设于夹具上体I与夹具下体2的上钼片13及下钼片23相互对应。参阅图2，本技术是这样使用的:准备工作:准备石英管5、加热炉6、待检样品7及LCR测试仪8，将加热炉6安放在试验台上；将石英管5置于加热炉6内；将夹具下体2的下钼片23朝上置于石英管5底部；将待检样品7置于夹具下体2的下钼片23上方；将夹具上体I的上钼片13朝下置于石英管5内，在夹具上体I自重的作用下使夹具上体I的上钼片13与待检样品7触及，并将待检样品7夹持在夹具上体I与夹具下体2的上钼片13及下钼片23之间；将上钼丝11、下钼丝21分别与LCR测试仪8的接线端子连接。检测工作:在温控仪的控制下，加热炉6逐渐升温，直至加热到600°C以上的高温，在不同的温度阶段，通过LCR测试仪8即可获得对应温度下的固体电解质的电导率数据。为保证检测质量，在待检样品7上下两端面涂有Pt浆，然后在950°C下烧结成Pt电极。本技术的上钼丝11、下钼丝21选用熔点极高(1773 °C)，耐高温且导电性好的惰性贵金属一钼；上氧化铝基体12及下氧化铝基体22选用熔点高(2000°C)、硬度大、不溶于酸碱耐腐蚀、绝缘性好的刚玉氧化铝材料。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测固体电解质电性能的夹具，其特征在于该夹具包括夹具上体及夹具下体，其夹具上体与夹具下体结构对称，分别由铂丝、氧化铝基体及铂片组成，氧化铝基体为柱体状，其轴心设有通孔，铂片为片状，铂丝为直线状，所述氧化铝基体垂直设置，铂片设于氧化铝基体上，铂丝穿过氧化铝基体的通孔与铂片连接；夹具上体与夹具下体上的铂片相互对应。

【技术特征摘要】
1.一种检测固体电解质电性能的夹具，其特征在于该夹具包括夹具上体及夹具下体，其夹具上体与夹具下体结构对称，分别由钼丝、氧化铝基体及钼片组成，氧化铝基体为柱体状，...

【专利技术属性】
技术研发人员：李强，郇昌天，冯涛，郭军，
申请(专利权)人：华东师范大学，
类型：实用新型
国别省市：