液晶显示装置及其扫描检测方法制造方法及图纸

本发明专利技术揭示了一种液晶显示装置及其扫描检测方法，通过一种分时序的扫描检测方式来解决栅扫描信号上升沿和下降沿对于触控检测扫描的影响。一种方式包括：在所述液晶显示装置的栅扫描之中插入至少一次触控检测扫描。通过以上方式可以实现液晶盒内整合ASG、CTP的功能，避免了信号之间的相互扰动，保证了触控检测的灵敏性和分辨率，因此整个液晶面板的厚度、边框宽度都可以得到优化改善。同时，本发明专利技术也不增加额外的硬件和工艺，不会对成本和良率造成不良影响。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶显示装置
，特别是涉及一种集成面板驱动和电容触控的平面转换(IPS)。
技术介绍
现有的移动显示装置中，液晶面板越来越多的集成了触控功能。轻便、超薄、视角好、触控灵敏成了现在移动通讯设备发展的趋势。CTP是电容触摸屏的简称，是通过手指与触摸面板电极间形成的电容随着触摸距离的变化而变化，最终导致监测到的电荷冲放判定触摸位置的触控系统。现在的很多CTP产品是外挂触控系统，即将CTP触摸屏贴在液晶屏幕上，两者之间有时候为了屏蔽信号的相互干扰还要加上铟锡金属氧化物(ITO)屏蔽层。以现在的外挂电容屏的结构方案，至少需要4片玻璃:2片玻璃完成液晶显示屏，I片玻璃制作电容触摸屏电极，I片玻璃制作防碎按压玻璃(Cover Lens)。如果加上之间通常添加的ITO屏蔽层，过多的层间界面会大大降低光的透过率，导致显示装置亮度、节电特性的降低。同时，4层玻璃也使得模组的厚度大大增加，不符合现在移动通讯装置减薄的需求。另外，CTP贴合模式由于贴合良率问题(如，气泡、Mura、易碎等)，也使得制造成本大大增加。因此，开发集成了触摸功能的液晶显示装置，可以大大提升性能和良率。然而，如图1所示，由于检测方式的原因，如果直接将CTP制作在彩膜侧，在驱动液晶屏的过程会对电容屏形成电磁干扰，从而产生噪音(Noise)，影响对于触摸的检测，形成误报点的情况。因此必须对扫描和检测方式进行优化设计。另外，考虑到边框宽度和液晶面板的厚度等问题，需要对于整个系统进行重新设计和改良，满足其显示和触控的使用需求。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供了一种，以解决触控检测误报点的技术问题。为解决以上技术问题，本专利技术提供一种液晶显示装置的扫描检测方法，包括:在所述液晶显示装置的栅扫描之中插入至少一次触控检测扫描。进一步的，所述插入至少一次触控检测扫描在每一帧的栅扫描结束之后插入。进一步的，在每一帧的栅扫描之中插入至少一次触控检测扫描。进一步的，在每一巾贞的栅扫描之中插入至少一次触控检测扫描的方式为:在每若干行栅扫描后，插入触控检测扫描，直到完成该巾贞栅扫描。进一步的,在若干行栅扫描的扫描宽度达到时,插入触控检测扫描。本专利技术另提供一种液晶显示装置，包括:多级栅驱动非晶硅电路，依次级联，响应一时钟信号或反转时钟信号，来依次激活其所对应的栅极线，其中第一级栅驱动非晶硅电路在一起始触发信号驱动下工作，其他级栅驱动非晶硅电路依次在上一级栅驱动非晶硅电路的输出信号的驱动下工作；触控单元，耦接所述起始触发信号和最后一级栅驱动非晶硅电路，并以所述起始触发信号和最后一级栅驱动非晶硅电路最终的栅输出信号作为触控检测扫描结束与开始的触发信号。进一步的，所述最后一级栅驱动非晶硅电路最终的栅输出信号为虚拟级的栅扫描信号。本专利技术还提供一种液晶显示装置，包括:多级栅驱动非晶硅电路，依次级联，响应一时钟信号或反转时钟信号，来依次激活其所对应的栅极线，其中第一级栅驱动非晶硅电路在一起始触发信号驱动下工作，其他级栅驱动非晶硅电路依次在上一级栅驱动非晶硅电路的输出信号的驱动下工作；触控单元，在每一帧的栅扫描之中插入至少一次触控检测扫描，其耦接到插入位置对应的栅驱动非晶硅电路，并以对应至少两级的栅驱动非晶硅电路的栅输出信号作为触控检测扫描开始与结束的触发信号。进一步的，触控检测扫描的开始与结束的触发信号至少一者为虚拟级的栅扫描信号。进一步的，所述触控单元每隔若干级栅驱动非晶硅电路耦接至栅驱动非晶硅电路，并以对应至少两级的栅驱动非晶硅电路的栅输出信号作为触控检测扫描开始与结束的触发信号。进一步的，所述触控单元每隔3_-6_的栅扫描宽度耦接至栅驱动非晶硅电路。可见，本专利技术通过时序分离方案，实现了液晶盒内整合ASG、CTP的功能，避免了信号之间的相互扰动，保证了触控检测的灵敏性和分辨率，因此整个液晶面板(含TP功能)的厚度、边框宽度都可以得到优化改善。同时，本专利技术也不增加额外的硬件和工艺，不会对成本和良率造成不良影响。附图说明图1为一液晶面板的栅扫描信号、噪声信号以及触控检测扫描信号的波形示意图；图2为本专利技术实施例一所提供的一种液晶显示装置的扫描检测方法；图3为一种液晶显示装置的结构示意图；图4为本专利技术实施例一所提供的一种液晶显示装置的工作原理示意图；图5为本专利技术实施例二所提供的一种液晶显示装置的扫描检测方法；图6为本专利技术实施例二所提供的一种液晶显示装置的工作原理示意图。具体实施例方式为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举示例性实施例，并配合附图，作详细说明如下。现有的集成了触摸功能的液晶显示装置在触控检测时，往往存在误报点的情况。具体原因请参考图1，并描述如下:如图1所示，液晶面板的栅扫描信号(图中所示Gate信号)的上升沿和下降沿在非常短的时间内电压差发生比较大的改变(通常I μ s之内改变25V)，由于电容耦合和面板充放电能力的影响，电位的变化会造成面板其他电位的改变(特别是公共电极(Common)的电位)，并由此造成一系列的噪声(Noise)干扰。由于触控检测(此处为电容触摸屏CTP的触摸检测)是通过电位差判定电荷充放电等方式实现，所以公共电极电平的扰动会造成触控探测的误报点。本专利技术考虑到以上问题的存在，为了避免栅扫描信号上升沿和下降沿对于触控检测扫描的影响，采用了一种分时序的扫描检测方式来解决以上技术问题。具体请参考以下实施例。需要说明的是，以下实施例中触控检测扫描均以电容触摸屏(CTP)的检测扫描为例，但是本专利技术并不限于此，其他触摸屏的扫描检测均可使用本专利技术的扫描检测方法。实施例一:请参考图2，其为本专利技术实施例一所提供的一种液晶显示装置的扫描检测方法。其在每一巾贞的栅扫描(gate scan)之后进行触控检测扫描(CTP detected),即在每一桢的栅扫描之后空出一段时序来进行触控检测扫描。下面结合图3与图4来具体描述在液晶显示装置中该方法的实现方法。需要说明的是，为了窄边框的设计需求，集成栅驱动非晶硅电路(ASG)是重要的选择。通常ASG电路都是利用时钟信号CK、反转时钟信号CKB、起始触发信号STV、上一级栅输出信号Gaten等电平信号的上升沿、下降沿来调制高电平电压VGH、低电平电压VGL使得输出本级栅扫描波形。其中，STV为起始触发信号，其决定了第一级的ASG电路的工作，然后再通过电路一级一级传递下去。由于非晶硅电子迁移率比较低，因此需要非常大宽长比的薄膜晶体管(TFT)来制作最后一级输出电路，在ASG电路占用的面板面积中比重最大。首先,如图3所示,其为一种液晶显示装置的结构示意图。如图所示,该液晶显示装置包括多级栅驱动非晶硅电路(ASG) 100、显示单元200和触控单元300。其中，多级栅驱动非晶硅电路依次级联，响应一时钟信号CK或反转时钟信号CKB，来依次激活其所对应的栅极线，其中第一级栅驱动非晶硅电路在起始触发信号STV的驱动下工作，其他级栅驱动非晶硅电路依次在上一级栅驱动非晶硅电路的输出信号的驱动下工作；触控单元300耦接起始触发信号STV和最后一级栅驱动非晶硅电路，并以起始触发信号STV作为触控检测扫描结束的触发信号，以最后一级栅驱动非晶硅电路最终的栅输出信号作为触控检测扫描开始的触发信号。另外，显示单元200往往包括多本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶显示装置的扫描检测方法，其特征是，包括：在所述液晶显示装置的栅扫描之中插入至少一次触控检测扫描。

【技术特征摘要】
1.一种液晶显示装置的扫描检测方法，其特征是，包括:在所述液晶显示装置的栅扫描之中插入至少一次触控检测扫描。2.根据权利要求1所述的液晶显示装置的扫描检测方法，其特征是，所述插入至少一次触控检测扫描在每一巾贞的栅扫描结束之后插入。3.根据权利要求1所述的液晶显示装置的扫描检测方法，其特征是，在每一帧的栅扫描之中插入至少一次触控检测扫描。4.根据权利要求3所述的液晶显示装置的扫描检测方法，其特征是，在每一帧的栅扫描之中插入至少一次触控检测扫描的方式为:在每若干行栅扫描后，插入触控检测扫描，直到完成该帧栅扫描。5.根据权利要求4所述的液晶显示装置的扫描检测方法，其特征是，在若干行栅扫描的扫描宽度达到时,插入触控检测扫描。6.一种液晶显示装置，其特征是，包括: 多级栅驱动非晶硅电路，依次级联，响应一时钟信号或反转时钟信号，来依次激活其所对应的栅极线，其中第一级栅驱动非晶硅电路在一起始触发信号驱动下工作，其他级栅驱动非晶硅电路依次在上一级栅驱动非晶硅电路的输出信号的驱动下工作； 触控单元，耦接所述起始触发信号和最后一级栅驱动非晶硅电路，并以所述起始触发信号和最后一级栅驱动非晶硅电路最终的栅输出信号作为触控检测...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴勇，马骏，
申请(专利权)人：上海天马微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：