白光光谱共焦线扫描装置制造方法及图纸
【技术实现步骤摘要】
白光光谱共焦线扫描装置
:本专利技术涉及物体表面轮廓和形状的检测仪器领域，具体地说是一种非接触式三维扫描仪中采用白光光谱共焦线对物体表面进行扫描，达到检测被检物体轮廓和表面形状的一种白光光谱共焦线扫描装置。
技术介绍
：现有机械电子产品的研发、生产、检测、逆向开发等各个阶段，需要对物体轮廓进行精密测量，利用光谱共焦位移传感器，可以精确地测绘被测样品的外形尺寸和位移。目前的物体表面轮廓和形状检测仪采用光谱共焦位移传感器，这种技术方案采样方式为点测量，存在着采样效率低、工作速度慢的缺陷。
技术实现思路
：本专利技术的目的是针对现有物体表面轮廓和形状检测仪所存在的采样效率低、工作速度慢的缺陷进行改进，提出一种采样效率高、工作速度快的白光光谱共焦线扫描装置。本专利技术的目的是这样来实现的：本专利技术的一种白光光谱共焦线扫描装置包括白光光源和光谱仪，其特征在于上述白光光源放置在一个准直镜的焦点处形成平行光，上述平行光经单维聚焦镜和单维准直镜形成细长状平行光，上述细长状平行光投射到平面反射振镜，经平面反射振镜反射到一个抛物面反射镜，上述抛物面反射镜的焦线是平面反射振镜的转轴，上述细长状平行光经抛物面反射镜反射到单维色散聚焦镜，在单维色散聚焦镜的焦线处会聚成线状光，被测物体的表面放置在单维色散聚焦镜的焦线处，聚焦在被测物体表面的线状光反射经单维色散聚焦镜、抛物面反射镜、平面反射振镜、分光镜投射到光谱仪。本专利技术的一种白光光谱共焦线扫描装置把白色光源通过准直镜、单维聚焦镜、单维准直镜、平面反射振镜、抛物面反射镜、单维色散聚焦镜转变成一束随平面反射振镜转动扫描的线状扫描线，平...
【技术保护点】
一种白光光谱共焦线扫描装置包括白光光源（1）和光谱仪（5），其特征在于上述白光光源（1）放置在一个准直镜（2）的焦点处形成平行光，上述平行光经单维聚焦镜（3）和单维准直镜形成细长状平行光，上述细长状平行光投射到平面反射振镜（7），经平面反射振镜（7）反射到一个抛物面反射镜（8），上述抛物面反射镜（8）的焦线是平面反射振镜（7）的转轴，上述细长状平行光经抛物面反射镜（8）反射到单维色散聚焦镜（9），在单维色散聚焦镜（9）的焦线处会聚成线状光，被测物体（10）的表面放置在单维色散聚焦镜（9）的焦线处，聚焦在被测物体（10）表面的线状光反射经单维色散聚焦镜（9）、抛物面反射镜（8）、平面反射振镜（7）、分光镜（6）投射到光谱仪（5）。
【技术特征摘要】
1.一种白光光谱共焦线扫描装置包括白光光源（1）和光谱仪（5），其特征在于上述白光光源（1）放置在一个准直镜（2）的焦点处形成平行光，上述平行光经单维聚焦镜（3）和单维准直镜形成细长状平行光，上述细长状平行光投射到平面反射振镜（7），经平面反射振镜（7）反射到一个抛物面反射镜（8），上述抛物面反射镜（8）的焦线是平面反...
【专利技术属性】
技术研发人员：姚勇，
申请(专利权)人：浙江协同光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江,33
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