基于高级次轴对称偏振光的并行共焦显微成像方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提出了一种基于高级次轴对称偏振光的并行共焦显微成像方法及装置，利用该方法可获得物体的三维超分辨显微成像。所述基于高级次轴对称偏振光束的并行共焦显微成像装置包括：针孔滤波器、准直透镜、偏振转换系统、光瞳滤波器、分束镜、滤光片、针孔阵列板和传感器，其中，样品被放置于一三维平移台上，通过移动三维平移台可改变聚焦光斑在探测样品上的探测位置，以实现样品的三维扫描成像。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种基于高级次轴对称偏振光的并行共焦显微成像装置，其中包括如下部分：针孔滤波器，激光器发出的光束经过针孔滤波器滤波，准直透镜，经过滤波的光束被准直透镜准直为平行光束，偏振转换系统，该平行光束被随后的偏振转换系统转换为预定形式的高级次轴对称偏振光束，光瞳滤波器，所述高级次轴对称偏振光束经过光瞳滤波器进行振幅及相位调制，分束镜，经振幅及相位调制的高级次轴对称偏振光束被分束镜反射后聚焦到探测样品上，得到多个聚焦光斑，可同时探测样品多个位置的信息，以及，从样品多个探测位置反射回的光信号经过分束镜后透射，滤光片，透射的光束中包含原有波长的激发信号和激发的荧光信号，利用滤光片将其中的激发信号去除，使得只允...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：祝连庆，周哲海，郭阳宽，孟晓辰，刘谦哲，王君，吴思进，
申请(专利权)人：北京信息科技大学，
类型：发明
国别省市：