一种氮镁共掺杂的p型氧化锌薄膜的制造方法技术

技术编号:8830756 阅读:180 留言:0更新日期:2013-06-21 18:32
本发明专利技术公开了一种氮镁共掺杂的p型氧化锌薄膜的制造方法,该制造方法依次包括如下步骤:第一步,选取蓝宝石作为衬底,将该衬底进行清洗,以去除衬底表面;将纯度为99.99%的氧化锌粉末、镁的摩尔含量为5-11%的氧化镁粉末进行混合,然后压制形成靶材;向该磁控溅射反应室通入NO、NO2混合气体后施加射频功率,并将靶材溅射沉积在衬底之上,从而在衬底上形成厚度为300-400nm的氮镁共掺杂的p型ZnO晶体薄膜;第四步,对衬底进行热退火。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于半导体激光器领域,具体来说涉及一种可用于半导体激光二极管的一种氮镁共掺杂的P型氧化锌薄膜的制造方法。
技术介绍
氧化锌(ZnO)无论在晶格结构、晶胞参数还是在禁带宽度上都与GaN相似,且具有比GaN更高的熔点和更大的激子束缚能,又具有较低的光致发光和受激辐射的阈值以及良好的机电耦合特性、热稳定性和化学稳定性。因而在蓝紫光发光二极管、激光器及其相关光电器件方面的应用有巨大的潜力。在室温下,氧化锌(ZnO)的禁带宽度为3.37eV,自由激子结合能高达60meV,远大于GaN的激子结合能25meV和室温热离化能26meV,因此更容易在室温或更高温度下实现激子增益。但是,ZnO走向光电器件应用的关键是实现稳定可靠且低阻的P型ZnO薄膜。ZnO由于存在诸多本征施主缺陷(如Zni, V0等)和非故意掺杂的H等杂质,通常表现为η型。这些施主缺陷的存在能对掺入的受主杂质产生强烈的自补偿效应,所以难以实现ZnO的P型掺杂。ZnO同质结紫外激射二极管需要做多层量子阱结构,而且所用P-ZnO迁移率较低、稳定性较差。发展结构简单、成本低廉、光增益高的紫外激光二极管具有重要的应用价值。目前,业内已有通过共掺杂的方式来得到P型氧化锌薄膜的报道。例如,在氧化锌中掺入镁和锑来形成Mg-Sb共掺杂P型ZnO薄膜,其中镁(Mg)作为ZnO的掺杂剂可以有效地增大ZnO的禁带宽度,于是ZnO中的本征浅施主能级便会远离导带边,从而增大了其电离能,减弱了 ZnO的η型导电特性。但是由于ZnO中存在的本征浅施主缺陷的自补偿作用,使得Sb很难被用来掺杂制备P型ZnO材料。附图说明 图1是本专利技术的结构示意
技术实现思路
:本专利技术的目的是克服目前P型ZnO掺杂所存在的不足,提供一种氮镁共掺杂的P型氧化锌薄膜的制造方法,该制造方法依次包括如下步骤:第一步,选取蓝宝石作为衬底1,将该衬底I放置到具有无水乙醇的超声波振荡器中进行清洗,以去除衬底I表面的油脂,然后再将其放置到具有去离子水的超声波振荡器中进行清洗,以去除残余的无水乙醇;第二步,将纯度为99.99%的氧化锌粉末、镁的摩尔含量为5-11%的氧化镁粉末进行混合,然后压制形成靶材;第三步,将完成第一步工艺的衬底I放入磁控溅射反应室中,向该磁控溅射反应室通入氮的摩尔含量为0.8-1.7%的Ν0、Ν02混合气体后施加射频功率,该射频功率使得NO和NO2气体活化,并将靶材溅射沉积在衬底之上,从而在衬底I上形成厚度为300-400nm的氮镁共掺杂的P型ZnO晶体薄膜2 ;第四步,对完成第三步的衬底I进行热退火,退火气氛为氧气,退火温度为700°C,退火时间为40分钟。本专利技术的有益效果是经过氮镁共掺杂后生长的P型ZnO晶体薄膜在常温下,其压电常数d33大于16pC/N,其电阻率大于1.2 X 101° Ω.cm。具体实施方式:下面通过具体实施方式对本专利技术进行详细说明。实施例1所述P型ZnO晶体薄膜中Mg的摩尔百分含量是5_11 %,氮的摩尔百分含量是0.8-1.7%。经过氮镁共掺杂后生长的P型ZnO晶体薄膜在常温下,其压电常数d33大于16pC/N,其电阻率大于P大于1.2 XIOki Ω.cm。下面介绍本专利技术提出的氮镁共掺杂生长P型ZnO晶体薄膜的制造方法进行说明,所述制造方法依次包括如下步骤:第一步,选取蓝宝石作为衬底1,将该衬底I放置到具有无水乙醇的超声波振荡器中进行清洗,以去除衬底I表面的油脂,然后再将其放置到具有去离子水的超声波振荡器中进行清洗,以去除残余的无水乙醇;第二步,将纯度为 99.99%的氧化锌粉末、镁的摩尔含量为5-11%的氧化镁粉末进行混合,然后压制形成靶材 ;第三步,将完成第一步工艺的衬底I放入磁控溅射反应室中,向该磁控溅射反应室通入氮的摩尔含量为0.8-1.7%的Ν0、Ν02混合气体后施加射频功率,该射频功率使得NO和NO2气体活化,并将靶材溅射沉积在衬底之上,从而在衬底I上形成厚度为300-400nm的氮镁共掺杂的P型ZnO晶体薄膜2 ;第四步,对完成第三步的衬底I进行热退火,退火气氛为氧气,退火温度为700°C,退火时间为40分钟。第五步,将完成第四步的衬底自然冷却。其中,射频磁控溅射反应室的真空度为10_5帕斯卡。其中,衬底I在射频磁控溅射前,先进行加热并保持温度600°C。其中,射频磁控溅射的射频功率120-200W,射频磁控溅射时间为2_3小时。实施例2所述P型ZnO晶体薄膜中Mg的摩尔百分含量是9%,氮的摩尔百分含量是1.2%。经过氮镁共掺杂后生长的P型ZnO晶体薄膜在常温下,其压电常数d33大于16pC/N,其电阻率大于 P 大于 1.2Χ101ι3Ω.οιι。下面介绍本专利技术提出的氮镁共掺杂生长P型ZnO晶体薄膜的制造方法进行说明。第一步,选取蓝宝石作为衬底1,将该衬底I放置到具有无水乙醇的超声波振荡器中进行清洗,以去除衬底I表面的油脂,然后再将其放置到具有去离子水的超声波振荡器中进行清洗,以去除残余的无水乙醇;第二步,将纯度为99.99%的氧化锌粉末、镁的摩尔含量为9%的氧化镁粉末压制形成靶材;;第三步,向该磁控溅射反应室通入氮的摩尔含量为1.2%的NO、NO2混合气体后施加射频功率,该射频功率使得NO和NO2气体活化,并将靶材溅射沉积在衬底之上,从而在衬底I上形成厚度为360nm的氮镁共掺杂的P型ZnO晶体薄膜2 ;第四步,对完成第三步的衬底I进行热退火,退火气氛为氧气,退火温度为700°C,退火时间为40分钟。第五步,将完成第四步的衬底自然冷却。其中,射频磁控溅射反应室的真空度为10_5帕斯卡。其中,衬底I在射频磁控溅射前,先进行加热并保持温度600°C。其中,射频磁控溅射的射频功率160W,射频磁控溅射时间为2.5小时。以上实施 方式已经对本专利技术进行了详细的介绍,但上述实施方式并非为了限定本专利技术的范围,本专利技术的保护范围由所附的权利要求限定。本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种氮镁共掺杂的p型氧化锌薄膜的制造方法,该制造方法依次包括如下步骤:第一步,选取蓝宝石作为衬底1,将该衬底1放置到具有无水乙醇的超声波振荡器中进行清洗,以去除衬底1表面的油脂,然后再将其放置到具有去离子水的超声波振荡器中进行清洗,以去除残余的无水乙醇;第二步,将纯度为99.99%的氧化锌粉末、镁的摩尔含量为5?11%的氧化镁粉末进行混合,然后压制形成靶材;第三步,将完成第一步工艺的衬底1放入磁控溅射反应室中,向该磁控溅射反应室通入氮的摩尔含量为0.8?1.7%的NO、NO2混合气体后施加射频功率,该射频功率使得NO和NO2气体活化,并将靶材溅射沉积在衬底之上,从而在衬底1上形成厚度为300?400nm的氮镁共掺杂的p型ZnO晶体薄膜2;第四步,对完成第三步的衬底1进行热退火,退火气氛为氧气,退火温度为700℃,退火时间为40分钟。

【技术特征摘要】
1.一种氮镁共掺杂的P型氧化锌薄膜的制造方法,该制造方法依次包括如下步骤: 第一步,选取蓝宝石作为衬底1,将该衬底I放置到具有无水乙醇的超声波振荡器中进行清洗,以去除衬底I表面的油脂,然后再将其放置到具有去离子水的超声波振荡器中进行清洗,以去除残余的无水乙醇; 第二步,将纯度为99.99%的氧化锌粉末、镁的摩尔含量为5-11%的氧化镁粉末进行混合,然后压制形成IE材; 第三步,将完成第一步工艺的衬底I放入磁控溅射反应室中,向该磁控溅射反应室通入氮的摩尔含量为0.8-1.7%的NO、NO2混合气体后施加射频功率,该射频功率使得NO和NO2气体活化,并...

【专利技术属性】
技术研发人员:钱时昌
申请(专利权)人:溧阳华晶电子材料有限公司
类型:发明
国别省市:

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