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半导体制冷片中空玻璃露点监测系统技术方案

技术编号:8821619 阅读:234 留言:0更新日期:2013-06-14 13:45
本实用新型专利技术公开了一种半导体制冷片中空玻璃露点监测系统,包括温度控制部分、温度采集部分和集中控制系统,温度控制系统包括微型风机、半导体制冷片和微型加热棒,温度采集系统为高精度温度传感器,温度控制部分和温度采集部分的数据信息传输到集中控制系统,并通过数显仪表显示出来。本实用新型专利技术使用半导体制冷片对接触面进行快速制冷降温,试验时降温时间更短、降温操作过程更简单、试验温度更稳定;使用微型加热棒对接触面进行快速控温,使试验温度更稳定、并且控制温度更准确;使用高精度温度传感器对试验箱温度准确采集并通过数显仪表显示出来,温度控制部分在集中控制系统的精确计算下进行控制,使整个系统快速、稳定的达到所要求的工作状态。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

半导体制冷片中空玻璃露点监测系统
:本技术涉及一种检测装置,特别是涉及一种半导体制冷片中空玻璃露点监测系统,属于建筑物检测领域。
技术介绍
:为了改善居住建筑室内热环境质量,提高人民居住水平,提高采暖、空调能源利用效率,贯彻执行国家可持续发展战略,建筑行业作为耗能大户,在不断提高人居环境舒适度的同时,降低建筑耗能总量,判定建筑物围护结构热工性能是否达到标准要求,仅靠资料并不能给出结论,需要现场实测,因此,这使得建筑节能检测技术的研究开发就显得尤为迫切和重要。为适应国家降低建筑能耗,大力发展节能型建筑的要求,提高降耗节能监督能力,国家对建筑外窗、幕墙中空玻璃露点做了 一系列规定和检测标准。依据《GB/T 11944-2002》中对建筑外窗、幕墙中空玻璃露点的检测标准,为了满足此规定,为了符合检测标准,经研究发现:由于检测环境复杂,传统检测设备采用干冰制冷,实验检测繁琐复杂,干冰不易保存留置,工作效率低,致使检测成本加大。
技术实现思路
:本技术所要解决的技术问题是:克服现有技术的不足,提供一种半导体制冷片中空玻璃露点监测系统,采用系统控制制冷和加热的方式对中控玻璃进行露点试验。本技术为解决技术问题所采取的技术方案是:一种半导体制冷片中空玻璃露点监测系统,包括温度控制部分、温度采集部分和集中控制系统,所述温度控制系统包括微型风机、半导体制冷片和微型加热棒,所述温度采集系统为温度传感器,所述温度控制部分和温度采集部分的数据信息传输到集中控制系统,并通过数显仪表显示出来。所述温度传感器为高精度温度传感器。本技术的积极效果如下:本技术的半导体制冷片中空玻璃露点监测系统,其温度控制系统包括微型风机、半导体制冷片和微型加热棒,使用半导体制冷片对接触面进行快速制冷降温,并达到要求温度,试验时试验降温时间更短、降温操作过程更简单、试验温度更稳定。克服了现有设备中因使用干冰+酒精来达到降温目的、操作过于繁琐、并且干冰不易保存等的缺陷;使用微型加热棒对接触面进行快速控温,并达到要求温度条件,使试验温度更稳定、并且控制温度更准确。本技术的半导体制冷片中空玻璃露点监测系统,其温度采集系统为一支高精度温度传感器,可以对试验箱的温度准确的采集,并通过数显仪表显示出来。本技术的半导体制冷片中空玻璃露点监测系统,在供电后,温度控制部分在集中控制系统的精确计算下进行控制,使得整个系统快速、稳定的达到要求的工作状态。本技术结构简单,操作方便,露点温度稳定控制精准,超过检测标准需要的标准要求,保证在标准规定范围内来完成对中空玻璃露点的试验检测。附图说明:图1为本技术的试验原理示意图。具体实施方式:以下结合附图对本技术做进一步的说明:参见图1,一种半导体制冷片中空玻璃露点监测系统,包括温度控制部分、温度采集部分和集中控制系统2,其中:温度控制系统包括微型风机3、半导体制冷片4和微型加热棒5,温度采集系统为高精度温度传感器6,温度控制部分和温度采集部分的数据信息传输到集中控制系统2,并通过数显仪表I显示出来。该技术使用半导体制冷片4对接触面进行快速制冷降温,并达到要求温度,试验时试验降温时间更短、降温操作过程更简单、试验温度更稳定;使用微型加热棒5对接触面进行快速控温,并达到要求温度条件,使试验温度更稳定、并且控制温度更准确;使用高精度温度传感器6对试验箱的温度进行准确的采集,并通过数显仪表I显示出来;供电后,温度控制部分在集中控制系统2的精确计算下进行控制,使得整个系统快速、稳定的达到要求的工作状态。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体制冷片中空玻璃露点监测系统,包括温度控制部分、温度采集部分和集中控制系统(2),其特征在于:所述温度控制系统包括微型风机(3)、半导体制冷片(4)和微型加热棒(5),所述温度采集系统为温度传感器(6),所述温度控制部分和温度采集部分的数据信息传输到集中控制系统(2),并通过数显仪表(1)显示出来。

【技术特征摘要】
1.一种半导体制冷片中空玻璃露点监测系统,包括温度控制部分、温度采集部分和集中控制系统(2),其特征在于:所述温度控制系统包括微型风机(3)、半导体制冷片(4)和微型加热棒(5),所述温度采集系统为温度传感器(...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄晓天陈天宇张文洁杜沛杨玉霞刘霞张志刚王立霞范金周曲礼英魏香玉朱鸿飞薛学涛叶辉李明杨涛韦伟陈华岩程媛胡永广
申请(专利权)人:黄晓天
类型:实用新型
国别省市:

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