一种超衍射材料光传输特性的测试分析方法技术

技术编号:8799950 阅读:292 留言:0更新日期:2013-06-13 04:57
本发明专利技术公开了一种超衍射材料光传输特性的测试分析方法,利用测试激发光栅、待测超衍射材料样品和检测光栅实现测试分析,其特点是:光源从激发光栅侧入射,产生多级携带高空间频率的衍射波,然后通过待测超衍射材料样品,样品的透射波与检测光栅差频形成携带待测样品传输特性的干涉条纹。并可以通过旋转待测样品测试不同空间频率衍射波的透射光强或者干涉条纹对比度,以确定待测超衍射材料样品的光传输特性。本发明专利技术方法结构简洁,设计灵活,且测试方法便捷,实时性强。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一 种测试超衍射材料光传输特性的方法,具体原理是利用激发光栅产生不同衍射频率通过待测超衍射材料,然后利用检测光栅观察不同空间频率的透射光强或者干涉条纹对比度,确定超衍射材料的光传输特性。
技术介绍
由于衍射效应的存在,物象上超衍射极限的高频空间信息以倏逝波的形式存在,被局域在物体表面,所以传统光学仪器的分辨率受到瑞利衍射极限的限制。利用超衍射材料有效的将高频倏逝信息耦合至远场参与成像已经引起了人们的广泛关注。单层金属膜层作为超衍射材料实现了紫外波段的超衍射光刻成像(Fang N, Lee H,Sun C,Zhang X.Sub-diffraction-1imited optical imaging with a sliver superlens.Science.2005,308 (5721):534-537);金属-电解质多层曲面复合结构组成的“far-f ieldhyperlens”超衍射结构材料同样可以将表面超衍射极限的空间信息传播至远场实现成像(Jacob Z, Alekseyev LV, Narimanov E.0ptical hyperlens:Far-field imaging beyondthe diffraction limit.0pt.Express.2006,14(18):8247-8256)。多数研究都是基于固定衍射材料的光学传输特性实现超衍射成像功能,但对于不同超衍射材料光学传输特性的功能测试研究较少,一般都需要利用超衍射材料成像并进行后处理,不具有实时性,而且工艺手段复杂,成本昂贵等,不利于系统集成。
技术实现思路
对现有技术存在的不足,本专利技术的目的是提供了一种测试超衍射材料光传输特性的方法。该方法不仅简化了工艺手段,更增加了设计灵活性、实时性,具有很强的实用价值。为达成所述目的,本专利技术提供,所述测试分析的步骤包括:步骤S1:利用激发光栅和检测光栅组成测试光路;步骤S2:将光源入射光经偏振片调整为电场方向与激发光栅方向垂直的线偏振模式照射到激发光栅,使激发光栅产生多级次的携带空间频率的衍射波并通过旋转待测超衍射材料样品,得到激发光栅产生的不同空间频率衍射波的传输特性,其中转动角度与产生的衍射空间频率kx满足:本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种超衍射材料光传输特性的测试分析方法,其特征在于测试分析的步骤包括:步骤S1:利用激发光栅和检测光栅组成测试光路;步骤S2:将光源入射光经偏振片调整为电场方向与激发光栅方向垂直的线偏振模式照射到激发光栅,使激发光栅产生多级次的携带空间频率的衍射波并通过旋转待测超衍射材料样品,得到激发光栅产生的不同空间频率衍射波的传输特性,其中转动角度与产生的空间衍射频率kx满足:kx=k0sinθ+2πTexn,其中n=0,±1,±2,.......,k0为自由空间波矢,θ为斜入射角度,Tex为激发光栅周期,n表示激发光栅的衍射级次;步骤S3:待测超衍射材料样品的透射波与检测光栅差频形成携带待测超衍射材料样品传输特性的干涉条纹并利用物镜进行观测,以此确定超衍射材料的光学传输特性。

【技术特征摘要】
1.一种超衍射材料光传输特性的测试分析方法,其特征在于测试分析的步骤包括: 步骤S1:利用激发光栅和检测光栅组成测试光路; 步骤S2:将光源入射光经偏振片调整为电场方向与激发光栅方向垂直的线偏振模式照射到激发光栅,使激发光栅产生多级次的携带空间频率的衍射波并通过旋转待测超衍射材料样品,得到激发光栅产生的不同空间频率衍射波的传输特性,其中转动角度与产生的空间衍射频率kx满足:2.根据权利要求1所述的超衍射材料光传输特性的测试分析方法,其特征在于,所述的入射光选择单色平面波,经过偏振片调整为电场方向与激发光栅方向垂直的线偏振模式照射到激发光栅,然后通过待测超衍射材料样品,最后利用物镜对经过检测光栅产生的干涉条纹观测。3.根据权利要求1所述的超衍射材料光传输特性的测试分析方法,其特征在于,激发光栅与检测光栅都是一维光栅,激发光栅与检测光栅排布方向一致。4.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员:罗先刚王长涛赵泽宇王彦钦陶兴黄成蒲明薄杨欢刘利芹杨磊磊
申请(专利权)人:中国科学院光电技术研究所
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1