确定材料中水分的设备和分析方法技术

本文公开一种估算材料含水量的方法，本方法包括：引导第一频率（ｆ↓［１］）信号和第二频率（ｆ↓［２］）信号通过材料；确定所述第一频率信号的第一绝对相移（Φ↓［１］）和所述第二频率信号的第二绝对相移（Φ↓［２］）；按照Φ↓［１］和Φ↓［２］之间期望的关系，把Φ↓［１］变换为第一校正绝对相移（Φ↓［１ｃ］）和把Φ↓［２］变换为第二校正绝对相移（Φ↓［２ｃ］）；和从Φ↓［１ｃ］和Φ↓［２ｃ］估算含水量。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种确定材料中含水量的方法和设备。
技术介绍
含水量是许多生产过程中的关键生产参数。要研究其含水量的材料，范围广泛，包括食品、化学品、矿砂、精矿、煤、石油、和煤气。利用电磁波与要研究的材料的相互作用，可以提供一种确定水分的方法，对此已经认识有些时候了。以微波为基础的方法，依赖于含水量与波的相移、反射、或衰减中一个或多个参数之间观察到的高度相关。该相关存在于相当多的材料中。从根本上说，相关的出现是因为游离的水，比夹带水的材料，呈现出大得多的介质常数值。有效的介质常数可以从介电张量导出，介质常数是所有类型线性媒质，包括磁性的和非磁性的媒质中，描述波的色散最普遍的物理量。一般说，非磁性材料的响应与有效介质常数的实部和虚部有关。但是，对要研究的通常材料，相移和反射率一般受实部的影响最大，而衰减则更多地依赖于实部和虚部两者。类似的情况可以应用于磁性材料，只要磁性响应依旧比受游离水分存在的影响的电性响应更弱一些。微波方法一般可以在不同测量类型之间划分。例如，测量可以采用调谐微波谐振腔设备。另一类测量涉及自由空间测量。在自由空间测量中，辐射结构(天线)发射电磁波，而电磁波的发射，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种估算材料中含水量的方法，包括：引导第一频率（ｆ↓［１］）信号和第二频率（ｆ↓［２］）信号通过材料；确定所述第一频率信号的第一绝对相移（Φ↓［１］）和所述第二频率信号的第二绝对相移（Φ↓［２］）；按照期望的Φ↓［１ ］和Φ↓［２］之间关系，把Φ↓［１］变换为第一校正绝对相移（Φ↓［１ｃ］）和把Φ↓［２］变换为第二校正绝对相移（Φ↓［２ｃ］）；和从Φ↓［１ｃ］和Φ↓［２ｃ］估算含水量。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：戴维G米利亚克，
申请(专利权)人：联邦科学和工业研究组织，
类型：发明
国别省市：AU[澳大利亚]