带微波传感器的细纱前处理装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了带微波传感器的细纱前处理装置以及一种用于细纱前处理装置的校准方法，其利用微波传感器来提高测量纤维纱条或纤维结构的精度。通过布置在下述位置之一的至少一个微波传感器(30)用于测量纤维纱条厚度：a)在牵伸装置(1a)的预牵伸区；b)在牵伸装置(1a)的主牵伸区；c)在牵伸装置输出处，也即位于绒头喷嘴(19)和扎光罗拉对(34)之间或扎光罗拉对(34)和旋转板(35)之间。此外，本发明专利技术还提出了至少一个微波传感器(3，30)的校正方法。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种细纱前处理装置以及一种用于细纱前处理装置的校准方法。
技术介绍
在纺纱工艺中，在几个工序中，例如由棉生产最初的均一化的纤维纱条和最后成品的有捻度的纱线。纱线生产上游的细纱前处理装置，例如，梳棉机、梳理装置和并条机所特定的工作是均匀一条或几条纤维纱条的条干质量波动。为了这个目的，纱条传感器，例如被安装在并条机上，这些传感器检测纱条的厚度或纱条质量或它们的波动，并且把这些信息传送给一个自调匀整装置，自调匀整装置至少调节所必需的并条机的一个牵伸元件。一种根据这种调节原则工作的并条机可以是，如RIETER公司的RSB-D 30。即使这种并条机没有安装自调匀整装置，关于纱条厚度波动的信息在任何情况下都是所希望获得的。如果没有达到或超过了纱条质量或纱条厚度的临界值，这种并条机输出处的一个适宜的传感器就会发出如适当的用于并条机的开关信号和/或警告信号。为了测量纱条厚度的波动，机械检测装置是公知的，并且目前这些机械检测装置应用在这种类型的几乎所有装置上。然而，这些机械传感器的动力不再能够满足1000m/min的输出速度和高要求的剖面。此外，在机械传感器之前所必须的大的机械压力对于本文档来自技高网...

【技术保护点】
有自调匀整牵伸装置(1a)的细纱前处理装置，其中至少一根纤维纱条(2)放置在所述牵伸装置中被牵伸，至少一个有共鸣器(50)的微波传感器(3，30)在牵伸装置的输入处和/或牵伸装置的输出处测量纤维厚度，其特征在于：根据不同纤维纱条和/或不同纤维纱条混合物的校正曲线对至少一个传感器(3，30)进行校正。

【技术特征摘要】
2002.04.04 DE 10214955.01.有自调匀整牵伸装置(Ia)的细纱前处理装置，其中至少一根纤维纱条(2)放置在所述牵伸装置中被牵伸，至少一个有共鸣器(50)的微波传感器(3，30)在牵伸装置的输入处和/或牵伸装置的输出处测量纤维厚度，其特征在于:根据不同纤维纱条和/或不同纤维纱条混合物的校正曲线对至少一个传感器(3，30)进行校正。2.如权利要求1所述的细纱前处理装置，其特征在于:所述校正曲线储存在电子测量系统中和/或从外部媒介中提取。3.如权利要求1或2所述的细纱前处理装置，其特征在于:对于不同的纤维纱条材料，至少能够生成并获取一种校正曲线，其中在不同的校正曲线之间能够进行转换。4.如权利要求1所述的细纱前处理装置，其特征在于:新的校正曲线根据纤维纱条混合物的预定混合率进行确定。5.如权利要求4所述的细纱前处理装置，其特征在于:新的校正曲线通过至少两条校正曲线的均值、内插和/或回归确定。6.如权利要I所述的细纱前处理装置，其特征在于:涉及不同纤维纱条材料的校正曲线的数据，储存在电子储存器中以确定新的校正曲线。7.如权利要6所述的细纱前处理装置，其特征在于:涉及不同纤维纱条材料的校正曲线的数据以表格形式储存在电子储存器中以确定新的校正曲线。8.如权利要求1所述的细纱前处理装置，其特征在于:一输入装置用于输入混合率，并且一处理单元用于根据输入的混合率确定校正曲线。9.如权利要求1所述的细纱前处理装置，其特征在于:微波传感器(3)在牵伸装置输入处通过一个重新校正的微波传感器(30)和在牵伸装置输出处借助于一个微处理器进行重新校正。10.用于校正如权利要求1-9之一所述的细纱前处理装置的方法，其特征在于:微波输出传感器(30)根据实验测量结果进行重新校正，并且微波输入传感器(3)根据这个重新校正被人工或自动重新校正，其中所述微波输出传感器(30)为在所述牵伸装置的输出处的微波传感器，所述微波输入传感器(3)为在所述牵伸装置的输入处的微波传感器。11.用于校正如权利要求10所述的细纱前处理装置的方法，其特征在于:在所述实验测量结果中，被牵伸纤维纱条的实际纱条厚度被测量。12.用于校正如权利要求1-9之一所述的细纱前处理装置的方法，其特征在于:由规定含水量的带状纺织纤维纱条被用于校正，或者所有的纤维纱...

【专利技术属性】
技术研发人员：约阿希姆·达米格，米夏埃尔·于丁，科克里·谢里夫，
申请(专利权)人：利特英格纺织机械制造股份公司，
类型：发明
国别省市：