【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种基于荧光法的物质导热分析装置，其特征在于：包括探头（1）、光电模块、数据处理模块；所述探头（1）用于探测设置在被测物上的荧光传感材料（7），然后将探测到的光信号通过光纤（2）传输至光电模块；所述光电模块将接收的光信号转换为电信号并且将电信号转化为温度信号，然后将温度信号发送至数据处理模块；所述数据处理模块根据每一次激励脉冲所对应的温度信号得到温度变化曲线，由温度变化曲线得到温度变化的平均速率和温度从最高到最低所经历的时间，通过将上述平均速率和经历的时间和标准数据比对得到被测物质的热扩散系数，再将上述热扩散系数传输至上位计算机进行导热分析。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：严跃，王大明，周宇，穆永超，吴江，冯晶晶，瞿帅，王泽军，
申请(专利权)人：南京五石金传感技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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