测量主轴外锥面装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及到一种测量主轴外锥面装置，包括测量弓架、千分表、上、下测量头，测量弓架上端孔内装有千分表及可上下移动的上测量头，下端设有下测量头，且下测量头为固定支点。下测量头与测量弓架下面的孔配合连接，且下测量头与测量弓架之间装有位于测量弓架下面凹槽中的调节螺母和用于紧固的拧紧捏手。测量弓架上端孔中用锁紧螺钉固定千分表表杆。本实用新型专利技术操作方便，不需要辅助人员协助；可靠性强，零件的尺寸精度有效地得到了保证，大大提高了产品合格率；节省了测量时间和辅助时间，成倍地提高了生产效率。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量主轴外锥面的装置，尤其是一种用于主轴短锥以及类似短锥零件测量的装置。
技术介绍
现有的1:4短锥外圆大端直径的测量方法主要包括:(I)三角函数计算法:加工的零件如图1所示。锥度1:4的主轴短锥外圆的大端直径为Φ106.375T mm，它是锥外圆与轴肩面的空间相交尺寸。为此，在测量中用二根直径为Φ8Π1Π1的标准圆柱量棒，放在该主轴锥面上，并紧贴轴肩面，用Φ 100 Φ 125mm的外径千分尺进行测量H值。然后，按图2进行计算。如图2所示，已知:短锥外圆的锥度为1:4(半角=7°7' 30)，量棒的直径D为Φ8πιπι，圆心到锥度1:4的主轴短锥外圆的距离OI为X，经推理和计算:K=D+2X=15.062mm式中:X=4/COS(7°7' 30)故:工件大端尺寸(空间)=分厘卡实际测量尺寸-K+1，因此，短锥外圆的大端直径尺寸等于千分尺的示值减去15.062_。采用上述测量手段，存在许多不便:I)在加工过程中，零件需经过多次装卸，多次测量和多次磨削后才能完成；2)在测量过程中需要辅助人员协助；3)测量时间长，效率低；4)千分尺、圆柱量棒和量块的误差都会影响测量精度；本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量主轴外锥面装置，包括测量弓架（3）、千分表（1）、上、下测量头（4，5），其特征在于：所述测量弓架（3）上端孔内装有千分表（910）及可上下移动的上测量头（4），下端设有下测量头（5），且下测量头（5）为固定支点。

【技术特征摘要】
1.种测量主轴外锥面装置，包括测量弓架(3)、千分表(I)、上、下测量头(4，5)，其特征在于:所述测量弓架(3)上端孔内装有千分表(910)及可上下移动的上测量头(4)，下端设有下测量头(5)，且下测量头(5)为固定支点。2.据权利要求1所述的测量主轴外锥面装置，其特征在于:所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：李云龙，黄裕华，张剑飞，
申请(专利权)人：上海机床厂有限公司，
类型：实用新型
国别省市：