立体摄像装置及阴影校正方法制造方法及图纸

提高由光瞳分割方式的立体摄像装置得到的图像的品质。由本发明专利技术涉及的立体摄像装置得到的第1及第2图像，在光瞳分割方向具有对象的阴影。由此，如果将第1及第2图像合成，则产生阴影消除后的参考数据。能够基于该参考数据，确定第1及第2图像的阴影校正量，并基于所确定的阴影校正量，对第1及第2图像进行阴影校正。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及摄像装置，特别涉及使穿过拍摄透镜的2个方向的不同区域的被摄体像分别在摄像元件上成像，获取不同的视点图像的技术。
技术介绍
在专利文献I至3中示出现有光瞳分割方式的立体摄像装置的一个例子。在专利文献I中，公示了对从不同射出瞳区域得到的A像及B像进行阴影校正，计算相位差值的立体摄像装置。此外，该阴影校正通过将A像除以B像或将A像与B像相乘而实施。在专利文献2中，公示了一种通过使层叠在光电二极管上部的微透镜偏移而进行立体摄像的立体摄像装置。在该立体摄像时，通过在基板的受光面中央部和受光面周边部对微透镜的偏移方向和偏移量进行变更，从而进行减少阴影对画质的影响的处理。另外，作为单眼立体摄像装置，例如，已知专利文献3公示的具有图13所示的光学系统的结构。图13所示的光学系统利用反射镜4对穿过主透镜I及中继透镜2的左右方向的不同区域的被摄体像进行光瞳分割，经由各个成像透镜5、6而在摄像元件7、8上成像。图14A至图14C分别是表示由焦点靠前、合焦(最佳焦距)、及焦点靠后的差异引起的在摄像元件上成像的像的分离状态的图。此外，在图14A至图14C中，为了对由聚焦引起的分离的差异进行比较本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.09.22 JP 2010-212460;2011.01.17 JP 2011-006991.一种立体摄像装置，其输出通过对来自单一摄像光学系统的光束进行光瞳分割而具有相位差的多个图像，并能够从所述多个图像还原出具有与所述相位差相对应的视差的立体观看图像， 该立体摄像装置具有: 合成部，其对所述多个图像进行合成，基于由所述多个图像合成而成的图像，输出阴影校正的参考数据；以及 校正部，其通过对所述合成部输出的参考数据和所述多个图像分别进行比较，从而确定所述多个图像各自的阴影校正量，并基于所述确定的阴影校正量，对所述多个图像分别进行阴影校正。2.根据权利要求1所述的立体摄像装置，其中， 具有缩略部，其对所述多个图像分别进行像素缩略， 所述合成部对通过所述缩略部进行像素缩略而得到的多个图像进行合成，基于由所述多个图像合成而成的图像，输出阴影校正的参考数据， 所述校正部，通过对所述参考数据进行插补以使其与所述多个图像各自的原始尺寸一致，并对所述插补后的参考数据和所述多个图像分别进行比较，从而确定所述多个图像各自的阴影校正量，基于所述确定的阴影校正量对所述多个图像分别进行阴影校正。3.根据权利要求2所述的立体摄像装置，其中， 具有滤波部，其由低通滤波器对所述参考数据、所述多个图像分别实施滤波并将其输出， 所述校正部通过对所述滤波部输出的参考数据和所述多个图像分别进行比较，从而确定所述多个图像各自的阴影校正量，并基于所述确定的阴影校正量，对所述多个图像分别进行阴影校正。4.根据权利要求1至3中任一项所述的立体摄像装置，其具有: 获取部，其获取所述多个图像各自的拍摄时的设定信息；以及 判定部，其基于所述获取部获取的设定信息，判定是否需要所述校正部执行阴影校正， 所述校正部，在所述判定部判定为需要所述校正部执行阴影校正时，对所述多个图像分别进行阴影校正。5.根据权利要求4所述的立体摄像装置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：仓桥秀和，
申请(专利权)人：富士胶片株式会社，
类型：
国别省市：