测量反应器表面上颗粒积聚的系统与方法技术方案

提供监控颗粒/流体混合物的系统与方法。该方法可包括使含带电颗粒和流体的混合物流经颗粒积聚探针。该方法也可包括当一些带电颗粒在没有接触探针的情况下流过探针，而其他带电颗粒接触探针时，测量通过探针检测的电信号。可操作测量的电信号，提供输出值。该方法也可包括若接触探针的带电颗粒的电荷平均不同于没有接触探针，但流过探针的带电颗粒，则根据该输出值测定。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
技术介绍
在气相聚合中，含一种或更多种单体的气态物流在催化剂存在下在反应条件下流经流化床。从反应器中引出聚合物产物，将新鲜单体引入到反应器中，替换除去的聚合物产物，且将任何未反应的单体循环回到反应器中。在反应器内的工艺扰动常常涉及在反应器内部，催化剂和/或聚合物颗粒在侧壁和/或其他表面，例如分配板上积聚或累积(“颗粒积聚”)。颗粒积聚常常称为结片(sheeting),形成大块(chunking),流挂(drooling)或堵塞(plugging)。当颗粒的积聚变得足够大时,可干扰流化,这可能要求反应器停工。使用许多技术测量颗粒积聚量和/或估计在反应器内可能发生颗粒积聚的可能性。一种方法牵涉测量催化剂/反应器内产生的聚合物上的静电荷。反应器内生成静电荷的主要原因是通过称为摩擦起电或摩擦带电效应的物理过程，不同的物质的摩擦接触。在气相聚合反应器中，通过催化剂和聚合物颗粒以及反应器壁之间的摩擦接触，生成静电荷。然而，观察到静电荷不一定且常常没有对应于同样在反应器内发生的颗粒积聚和尤其催化剂颗粒积聚。常规的静电荷测量系统不可能区分当发生颗粒积聚时存在的静电荷和当没有发生颗粒积聚时的静电荷。因此，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.07.16 US 61/364,9661.一种监控颗粒/流体混合物的方法，该方法包括: 使含带电颗粒和流体的混合物流过颗粒积聚探针； 当一些带电颗粒在没有接触探针的情况下流过探针，而其他带电颗粒接触探针时，测量通过探针检测的电信号； 操作测量的电信号以提供输出值；和 从该输出值确定接触探针的带电颗粒的电荷平均地是否不同于没有接触探针，但流过探针的带电颗粒。2.权利要求1的方法，其中操作测量的电信号包括在测量的电信号上使用绝对自相关方法，和测定电信号的绝对自相关向量。3.权利要求2的方法，其中电信号的绝对自相关包括接近曲线，离开曲线，和在零滞后时间处的曲线。4.权利要求1-3任何一项的方法，其中带电颗粒包括催化剂颗粒和聚合物颗粒，和其中流体包括一种或更多种烃。5.权利要求1-4任何一项的方法，其中带电颗粒包括主要平均具有负电荷的聚合物颗粒和少数平均具有正电荷的催化剂颗粒，其中输出值表明接触探针的带电颗粒平均是带负电的聚合物颗粒，和其中输出值表明催化剂颗粒没有以足以引起团块形成的含量从混合物中分离。6.权利要求1-4任何一项的方法，其中带电颗粒包括主要平均具有负电荷的聚合物颗粒和少数平均具有正电荷的催化剂颗粒，其中输出值表明接触探针的带电颗粒平均是带正电的催化剂颗粒，和其中输 出值表明催化剂颗粒没有以足以引起团块形成的含量从混合物中分离。7.权利要求1-4任何一项的方法，其中带电颗粒包括主要平均具有正电荷的聚合物颗粒和少数平均具有负电荷的催化剂颗粒，其中输出值表明接触探针的带电颗粒平均是带正电的聚合物颗粒，和其中输出值表明催化剂颗粒没有以足以引起团块形成的含量从混合物中分离。8.权利要求1-4任何一项的方法，其中带电颗粒包括主要平均具有正电荷的聚合物颗粒和少数平均具有负电荷的催化剂颗粒...

【专利技术属性】
技术研发人员：E·J·马克尔，
申请(专利权)人：尤尼威蒂恩技术有限责任公司，
类型：
国别省市：