具备X射线产生部(1)，产生对被检体(P)照射的X射线；X射线检测部(2)，包含检测透过被检体P的X射线的检测器(21)，该X射线检测部生成X射线透过信息；图像生成部(7)，根据X射线透过信息生成X射线图像；以及寿命探测部(11)，根据X射线图像的输出值探测检测器的寿命，寿命探测部(11)具备：亮度等级值运算部(11b)，根据在X射线图像或检测器中设定的关心区域中的输出值，计算对检测器(21)照射的X射线量；照射剂量累计部(11c)，将由亮度等级值运算部(11b)计算出的X射线量加到每个关心区域的过去的X射线量上，计算关心区域中的累计照射剂量；以及寿命判定部(11d)，根据累计照射剂量，进行与检测器21相关的寿命的判定。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术的实施方式涉及X射线诊断装置，特别是该X射线诊断装置能够掌握与检测对患者曝光的X射线的检测器的灵敏度劣化相关的状态。
技术介绍
作为为了得到被检体的放射线透视图像的放射线检测器，一直以来使用将像增强器(Image Intensifier:以下表示为“1.1.”)和撮像管或固体撮像元件(例如，电荷I禹合器件，Charge Coupled Device:以下表示为“CXD”)组合得到的放射线检测器。其将透过了被检体的X射线信息变换为光学信息，将该光学信息取入到电视摄像机，作为图像显示在电视监视器上，或加晒到胶片上。对于由1.1.与撮像管或C⑶组合得到的这样的放射线检测器，正在开发运用半导体技术的平板型放射线检测器(Flat Panel Detector:以下表示为“FPD”)作为响应于希望检测出更加细小的缺陷、病变这样的强烈需求的新的放射线检测器。该FPD是以通过将放射线变换为电荷等的光导电膜等覆盖在例如玻璃基板上形成的切换元件、电容的方式来形成的半导体阵列。FH)具备高分辨率、质量轻、紧凑，并且图像畸变也少的特征。作为为了这样地得到被检体的放射线透视图像的检测器，列举了 1.1.，FPD(例如日本特开2009-75951号公报)。关于这些检测器的寿命，求出产品化时对寿命起作用的X射线的合计的累计量，假定检测器的使用频度来计算耐久年数。用户以该耐久年数为基准来了解检测器的寿命。 现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开2009-75951号公报但是，在安装了搭载着这些检测器的X射线诊断装置的医疗现场，装置的使用用途、频度各不相同，所以上述假定的耐久年数无法成为实际上正确的耐久年数。此外，目前状况是一直没有确立通知操作者伴随着由照射的X射线量而引起的灵敏度劣化的检测器的寿命的具体的方法。
技术实现思路
实施方式是为了解决上述问题点儿被提出的，其目的在于能够更加准确地掌握搭载于X射线诊断装置的检测器的寿命并进行通知。为了实现上述目的，实施方式涉及的第一 X射线诊断装置，具备:X射线产生部，产生对被检体照射的X射线；x射线检测部，包含检测透过上述被检体的上述X射线的检测器，该X射线检测部生成X射线透过信息；图像生成部，根据上述X射线透过信息生成X射线图像；以及寿命探测部，根据上述X射线图像中的输出值探测上述检测器的寿命，上述寿命探测部具备:亮度等级值运算部，根据在上述X射线图像或上述检测器中设定的关心区域中的上述输出值，计算对上述检测器照射的X射线量；照射剂量累计部，将由上述亮度等级值运算部计算出的上述X射线量加到每个上述关心区域的过去的X射线量上，计算上述关心区域中的累计照射剂量；以及寿命判定部，根据上述累计照射剂量，进行与上述检测器相关的寿命的判定。为了实现上述目的，实施方式的第二 X射线诊断装置，其特征在于，具备:X射线产生装置；以及图像收集装置，上述X射线产生装置具备:χ射线产生部，产生对被检体照射的X射线；系统控制部，控制上述X射线产生部，上述图像收集装置，具备:X射线检测部，包含检测透过上述被检体的上述X射线的检测器，该X射线检测部生成X射线透过信息；图像生成部，根据上述X射线透过信息，生成X射线图像；亮度等级值运算部，根据在上述X射线图像或上述检测器中设定的关心区域中的上述输出值，计算对上述检测器照射的X射线量；照射剂量累计部，将由上述亮度等级值运算部计算出的上述X射线量加到每个上述关心区域的过去的X射线量上，计算上述关心区域中的累计照射剂量；以及寿命判定部，根据上述累计照射剂量，进行与上述检测器相关的寿命的判定。为了实现上述目的，实施方式的第三X射线诊断装置，其特征在于，具备X射线产生部，产生对被检体照射的X射线；x射线检测部，包含检测透过上述被检体的上述X射线的检测器，该X射线检测部生成X射线透过信息；图像生成部，根据上述X射线透过信息，生成X射线图像；以及寿命探测部，根据上述X射线图像中的像素值探测上述检测器的寿命，上述寿命探测部具备:亮度等级值运算部，计算在上述X射线图像或上述检测器中设定的关心区域中的上述像素值；像素值累计部，将由上述亮度等级值运算部计算出的上述像素值加到每个上述关心区域的过去的像素值上，计算上述关心区域中的累计了的像素值；以及寿命判定部，根据上述累计像素值，进行与上述检测器相关的寿命的判定。附图说明图1是示出第I实施方式中的X射线诊断装置的概略结构的整体图。图2是示出第I实施方式中的寿命探测部的内部结构的方框图。图3是示出第I实施方式中的X射线检测部的平面检测器的寿命探测的步骤的流程图。图4是示出第I实施方式中设定的关心区域的一个例子的图。图5是示出第I实施方式中的亮度等级值运算部中的输出值的计算方法的图。图6是示出根据第I实施方式中的输出值计算X射线量的方法的曲线图。图7是示出第I实施方式中的通知部的显示例子的图。图8是示出第I实施方式中的通知部的显示例子的图。图9是示出第I实施方式中的通知部的显示例子的图。图10是示出第I实施方式中的通知部的显示例子的图。图11是示出第I实施方式中的其它的通知方法的方框图。图12是示出第2实施方式中的X射线诊断装置的概略结构的整体图。图13是示出第3实施方式中的寿命探测部的内部结 构的方框图。具体实施例方式以下，参照附图对实施方式进行说明。(第I实施方式)在第I实施方式中，对以下例子进行说明，S卩、使用以固定型接受X射线的照射且未另体设置平面检测器的X射线诊断装置100来计算对平面检测器所照射的X射线量。首先，使用图1对第I实施方式中的X射线诊断装置100的结构进行说明。图1是示出第I实施方式中的X射线诊断装置100的概略结构的整体图。该X射线诊断装置100具备对被检体P照射X射线的X射线产生部I ;二维地检测透过被检体P的X射线的X射线检测部2。此外，具备:产生照射X射线产生部I中的X射线所需的高电压的高电压产生部3 ;通过例如C臂保持X射线产生部I和X射线检测部2的保持臂4 ;载置被检体P的床(顶板)B。此外，该X射线诊断装置100具备:进行该保持臂4、床(顶板)B的移动、安装于后述的X射线检测部2的平面检测器21的栅格20的装卸等的机构部5 ;对机构部5的各机构进行控制的机构控制部6 ;将由X射线检测部2检测的X射线透过信息生成并保存为图像的图像生成部7。更进一步地，X射线诊断装置100具备:显示由图像生成部7生成并保存的X射线图像数据(Data)的通知部8 ;用于装置操作者(以下，表示为“操作者”)对该X射线诊断装置100提供各种指示的操作部9 ;控制X射线诊断装置100的上述各单元的系统控制部10。而且此外，还设置了探测平面检测器21的寿命的寿命探测部11、存储部12。X射线产生部I具备对被检体P照射X射线的X射线管la、将从该X射线管Ia照射的X射线对准被检体P的X射线光阑器lb。X射线管Ia是产生X射线的真空管，通过高电压加速由阴极(灯丝)放出的电子并撞击钨阳极而产生X射线。另一方面，X射线光阑器Ib位于X射线管Ia和被检体P之间，具有将从X射线管Ia照射的X射线光束收敛到撮影区域的大小的功能。 另一方面，接受X射线的照射而对X射线进行检测的X射线检测部2具备:栅格20、平面检测器21、栅极驱动器22本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.01.11 JP 2011-003438;2012.01.09 JP 2012-001731.一种X射线诊断装置，其特征在于，具备: X射线产生部,产生对被检体照射的X射线； X射线检测部，包含检测透过上述被检体的上述X射线的检测器，该X射线检测部生成X射线透过信息； 图像生成部，根据上述X射线透过信息生成X射线图像；以及 寿命探测部，根据上述X射线图像的输出值探测上述检测器的寿命， 上述寿命探测部具备: 亮度等级值运算部，根据在上述X射线图像或上述检测器中设定的关心区域中的上述输出值，计算对上述检测器照射的X射线量； 照射剂量累计部，将由上述亮度等级值运算部计算出的上述X射线量加到每个上述关心区域的过去的X射线量上，计算上述关心区域中的累计照射剂量；以及 寿命判定部，根据上述累计照射剂量，进行与上述检测器相关的寿命的判定。2.根据权利要求1所述的X射线诊断装置，其特征在于， 对于上述X射线图像设定单个上述关心区域或者多个上述关心区域。3.根据权利要求1或2所述的X射线诊断装置，其特征在于， 使上述X射线以收敛的状态透过上述被检体，在根据上述X射线透过信息生成的上述X射线图像的周围产生上述被检体未映到的周边区域的情况下，在上述X射线图像的上述周边区域设定上述关心区域。4.根据权利要求1所述的X射线诊断装置，其特征在于， 上述亮度等级值运算部使用表示上述X射线量与上述输出值的关系的关系式，计算对上述检测器照射的上述X射线量。5.根据权利要求4所述的X射线诊断装置，其特征在于， 上述亮度等级值运算部考虑针对上述被检体的上述X射线的照射条件，计算对上述检测器照射的上述X射线量。6.根据权利要求1-5中的任一项所述的X射线诊断装置，其特征在于， 上述X射线诊断装置具备通知基于上述寿命判定部的判定的结果的通知部。7.根据权利要求6所述的X射线诊断装置，其特征在于， 对上述X射线图像设定有多个上述关心区域的情况下，上述通知部以能够识别多个上述关心区域的每一个的上述累计照射剂量的状态进行通知。8.根据权利要求6所述的X射线诊断装置，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：松崎武夫，后藤康则，落合理绘，
申请(专利权)人：株式会社东芝，东芝医疗系统株式会社，
类型：
国别省市：
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