X射线诊断装置制造方法及图纸

具备X射线产生部(1)，产生对被检体(P)照射的X射线；X射线检测部(2)，包含检测透过被检体P的X射线的检测器(21)，该X射线检测部生成X射线透过信息；图像生成部(7)，根据X射线透过信息生成X射线图像；以及寿命探测部(11)，根据X射线图像的输出值探测检测器的寿命，寿命探测部(11)具备：亮度等级值运算部(11b)，根据在X射线图像或检测器中设定的关心区域中的输出值，计算对检测器(21)照射的X射线量；照射剂量累计部(11c)，将由亮度等级值运算部(11b)计算出的X射线量加到每个关心区域的过去的X射线量上，计算关心区域中的累计照射剂量；以及寿命判定部(11d)，根据累计照射剂量，进行与检测器21相关的寿命的判定。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术的实施方式涉及X射线诊断装置，特别是该X射线诊断装置能够掌握与检测对患者曝光的X射线的检测器的灵敏度劣化相关的状态。
技术介绍
作为为了得到被检体的放射线透视图像的放射线检测器，一直以来使用将像增强器(Image Intensifier:以下表示为“1.1.”)和撮像管或固体撮像元件(例如，电荷I禹合器件，Charge Coupled Device:以下表示为“CXD”)组合得到的放射线检测器。其将透过了被检体的X射线信息变换为光学信息，将该光学信息取入到电视摄像机，作为图像显示在电视监视器上，或加晒到胶片上。对于由1.1.与撮像管或C⑶组合得到的这样的放射线检测器，正在开发运用半导体技术的平板型放射线检测器(Flat Panel Detector:以下表示为“FPD”)作为响应于希望检测出更加细小的缺陷、病变这样的强烈需求的新的放射线检测器。该FPD是以通过将放射线变换为电荷等的光导电膜等覆盖在例如玻璃基板上形成的切换元件、电容的方式来形成的半导体阵列。FH)具备高分辨率、质量轻、紧凑，并且图像畸变也少的特征。作为为了这样地得到被检体的放射线透视图像的检测器，列举了 1本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2011.01.11 JP 2011-003438;2012.01.09 JP 2012-001731.一种X射线诊断装置，其特征在于，具备: X射线产生部,产生对被检体照射的X射线； X射线检测部，包含检测透过上述被检体的上述X射线的检测器，该X射线检测部生成X射线透过信息； 图像生成部，根据上述X射线透过信息生成X射线图像；以及 寿命探测部，根据上述X射线图像的输出值探测上述检测器的寿命， 上述寿命探测部具备: 亮度等级值运算部，根据在上述X射线图像或上述检测器中设定的关心区域中的上述输出值，计算对上述检测器照射的X射线量； 照射剂量累计部，将由上述亮度等级值运算部计算出的上述X射线量加到每个上述关心区域的过去的X射线量上，计算上述关心区域中的累计照射剂量；以及 寿命判定部，根据上述累计照射剂量，进行与上述检测器相关的寿命的判定。2.根据权利要求1所述的X射线诊断装置，其特征在于， 对于上述X射线图像设定单个上述关心区域或者多个上述关心区域。3.根据权利要求1或2所述的X射线诊断装置，其特征在于， 使上述X射线以收敛的状态透过上述被检体，在根据上述X射线透过信息生成的上述X射线图像的周围产生上述被检体未映到的周边区域的情况下，在上述X射线图像的上述周边区域设定上述关心区域。4.根据权利要求1所述的X射线诊断装置，其特征在于， 上述亮度等级值运算部使用表示上述X射线量与上述输出值的关系的关系式，计算对上述检测器照射的上述X射线量。5.根据权利要求4所述的X射线诊断装置，其特征在于， 上述亮度等级值运算部考虑针对上述被检体的上述X射线的照射条件，计算对上述检测器照射的上述X射线量。6.根据权利要求1-5中的任一项所述的X射线诊断装置，其特征在于， 上述X射线诊断装置具备通知基于上述寿命判定部的判定的结果的通知部。7.根据权利要求6所述的X射线诊断装置，其特征在于， 对上述X射线图像设定有多个上述关心区域的情况下，上述通知部以能够识别多个上述关心区域的每一个的上述累计照射剂量的状态进行通知。8.根据权利要求6所述的X射线诊断装置，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：松崎武夫，后藤康则，落合理绘，
申请(专利权)人：株式会社东芝，东芝医疗系统株式会社，
类型：
国别省市：