【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种激光扫描采样装置，具体涉及一种利用抛物面镜校正扫描角度的激光扫描采样装置，利用光偏转器对激光束形成偏转，再通过抛物面镜，将扫描激光垂直于扫描面反射；每一时刻的扫描点反射回的光信号再经由原光路返回，最终送入探测器组接收。
技术介绍
随着各类激光光谱技术的高速发展，激光扫描采样技术已经变得日益成熟，被广泛应用于扫描成像、图像打印、投影、矿物探测、食品检测等诸多领域。目前常用的激光扫描采样技术使用半导体激光器，通过光路的设计和搭建，配合光偏转器件如振镜、转鼓棱镜、声光调制器等，形成一定角度的激光扫描，扫描的同时完成米样。然而，由光偏转器实现的扫描采样，有如下缺点:一、扫描平面时，不易得到相对一致的扫描信号，扫描线中间曝光量强，两边曝光量弱。这主要是由扫描激光入射角度、扫描激光程以及光偏转器在偏转时通光口径不一致引起的。其中扫描激光入射角度的变化是导致该现象的主要原因。二、扫描平面时，扫描激光斑的大小会随着扫描角度变化而变化，具体表现为当光斑聚焦在扫描线中心时，该处光斑为圆形，而扫描线两端光斑为椭圆状，光斑宽度从扫描线两端向中心逐渐变窄。导致扫描后的图像会畸变。三、扫描平面时，虽然扫描角速度是匀速的，但是单位时间内扫描点的位移是变化的，在扫描线中心位移小，在扫描线两端位移大。导致不同时刻扫描区域尺寸不一致。针对以上三个缺点，有人提出了光学透镜组和活动挡板以及柱面转镜的设计:通过光学透镜组也即F-Theta镜组，可以得到一致的扫描角度，部分解决第一个缺点，较好解决了第二和第三个缺点，但结构复杂，且透镜尺寸随着扫描角度或扫描区域的增大而增大。高精度...
【技术保护点】
一种利用抛物面镜校正扫描角度的激光扫描采样装置，其特征在于：包括激光器组、合束镜组、半透半反镜、光偏转器、抛物面镜、分色镜组和探测器组，所述激光器组发出不同波长的激光，经合束镜组合束后出射至半透半反镜，所述激光由半透半反镜分为透射激光与反射激光，其中透射激光经光偏转器偏转后形成一定角度的扫描激光，经由抛物面镜反射后，形成平行的扫描激光垂直入射扫描面，扫描面散射的部分光信号按原光路返回至光偏转器，再由光偏转器反射至半透半反镜，经分色镜组将不同波长的光信号送入探测器组。
【技术特征摘要】
1.种利用抛物面镜校正扫描角度的激光扫描米样装置，其特征在于:包括激光器组、合束镜组、半透半反镜、光偏转器、抛物面镜、分色镜组和探测器组，所述激光器组发出不同波长的激光，经合束镜组合束后出射至半透半反镜，所述激光由半透半反镜分为透射激光与反射激光，其中透射激光经光偏转器偏转后形成一定角度的扫描激光，经由抛物面镜反射后，形成平行的扫描激光垂直入射扫描面，扫描面散射的部分光信号按原光路返回至光偏转器，再由光偏转器反射至半透半反镜，经分色镜组将不同波长的光信号送入探测器组。2.据权利要求1所述利用抛物面镜校正扫描角度的激光扫描采样装置，其特征在于:所述合束镜组与分色镜组为二向色镜组。3.据权利要求1所述利用抛物面镜校正扫描角度的激光扫描采样装置，其特征在于:所述光偏转器为转鼓棱镜或振镜。4.据权...
【专利技术属性】
技术研发人员：叶莉华，王文轩，吕昌贵，赵翀，王叶轩，崔一平，
申请(专利权)人：东南大学，
类型：发明
国别省市：
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