基于红外测温仪的材料发射率测量方法技术

基于红外测温仪的材料发射率测量方法，属于高温不透明材料热物性测量技术领域；本发明专利技术是为了解决现有材料发射率测量方法的测量结果精确度差、使用复杂和测量速度慢的问题；本发明专利技术首先使用红外测温仪对黑体炉的温度进行测量，并通过计算得到红外测温仪接收的杂散辐射能，然后使用热电偶测温仪对待测材料所制成的试件表面温度进行测量，得到了试件表面的真实温度；本发明专利技术设计实现了在五种设定红外测温仪发射率条件下使用测量试件表面温度，得到五个测量温度值，利用五个设定发射率和五个测量温度值代入计算公式得到五个材料发射率，并取其平均值获得待测材料发射率，本发明专利技术主要应用在高温不透明材料发射率测量技术领域。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种及扣除杂散辐射的测量方法，属于高温不透明材料热物性测量

技术介绍
发射率定义为同等温度下材料表面辐射能与黑体辐射能的比值。各种材料表面的发射率是表征材料表面辐射本领的物理量，是一项极其重要的热物性参数。根据波长范围，发射率可分为全光谱发射率，光谱发射率和波段发射率；根据测量方向可分为半球发射率和方向发射率。材料发射率的测量涉及到航空航天、军事、化工、建筑、医疗、新能源及大气科学等多个领域。其典型应用包括:飞机蒙皮的红外隐身、航天飞行器再入大气层时表面的烧蚀、导弹的预警及拦截、火车车轴温度的测量、遥感辐射测量技术等。针对材料的发射率测量，美国、法国、英国、日本等国做过很多研究。现有的测量方法主要有三种:(I)量热法，通过确定样品在稳态或瞬态过程中辐射或吸收的热流，利用能量平衡方程求得发射率，一般多用于半球发射率的测量；(2)反射法，根据能量守恒定律和基尔霍夫定律，将已知强度的辐射能投射到被测不透明样品表面上，并用反射计测出表面反射能量，求得样品的反射率进而计算出发射率；(3)能量法，直接测量样品的辐射能，根据普朗克定律，借助发射率的定义式计算出样品表面的发本文档来自技高网...

【技术保护点】
基于红外测温仪的材料发射率测量方法，其特征在于，它是采用红外测温仪(1)、热电偶探头(4)、热电偶测温仪(7)、黑体炉(8)和温度控制系统实现材料发射率的测量，所述的温度控制系统包括加热炉(2)，加热器(3)，温度采集装置(5)和温度巡检操控仪(6)，所述的加热炉(2)设有圆形透光孔，实现材料发射率的测量过程为：步骤一、首先将待测材料制作成圆形试件(9)，其中待测材料为不透明材料，再将红外测温仪(1)的入瞳口对准黑体炉(8)的透光孔，所述的黑体炉(8)的发射率ε＝1、温度为Tb1，对红外测温仪(1)的测温光路进行准直调节，使黑体炉(8)的透光孔和红外测温仪(1)的入瞳口中心位于同一水平高度并相...

【技术特征摘要】
1.关于红外测温仪的材料发射率测量方法，其特征在于，它是采用红外测温仪(I)、热电偶探头(4)、热电偶测温仪(7)、黑体炉(8)和温度控制系统实现材料发射率的测量，所述的温度控制系统包括加热炉(2)，加热器(3)，温度采集装置(5)和温度巡检操控仪￠)，所述的加热炉(2)设有圆形透光孔，实现材料发射率的测量过程为: 步骤一、首先将待测材料制作成圆形试件(9)，其中待测材料为不透明材料，再将红外测温仪⑴的入瞳口对准黑体炉⑶的透光孔，所述的黑体炉⑶的发射率ε = 1、温度为Tbl，对红外测温仪(I)的测温光路进行准直调节，使黑体炉(8)的透光孔和红外测温仪(I)的入瞳口中心位于同一水平高度并相对放置，红外测温仪(I)入瞳口与黑体炉(8)的透光孔之间的距离2.根据权利要求1所述的基于红外测温仪的材料发射率测量方法，其特征在于，所述的步骤一...

【专利技术属性】
技术研发人员：牛春洋，齐宏，王大林，阮立明，姜宝成，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：