一种基于受抑全内反射技术的纯平多点触摸检测系统技术方案

技术编号:8669332 阅读:175 留言:0更新日期:2013-05-02 23:15
本实用新型专利技术涉及的是一种基于受抑全内反射技术的纯平多点触摸检测系统,包含上下表面及侧边按一定角度抛光的透明基板,用以传输特定波长的光;包含一个或多个具有一定发射角度的光源,所述光源被耦合到按一定角度抛光的透明基板侧边;所述角度使得该所述光源按要求的时序所发射的特定波长的光在所述透明基板内形成具有特定角度范围传播的全内反射,按不同角度传输的光经所述透明基板传输后被耦合在所述透明基板其他侧的一个或多个光感测设备侦测,所述光感测设备通过侦测所述传播光信号因受抑造成的衰减用以定位所述透明基板上表面上的一个或任意多个接触点的位置。本实用新型专利技术实现基于物理真实多点的高精度、低成本且结构简单,易于安装。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及的是一种触摸检测系统,尤其是涉及的是一种基于受抑全内反射技术的纯平多点触摸检测系统
技术介绍
目前的触摸系统有多种技术可以采用,包括电阻屏技术、电容屏技术、声波技术、红外技术和光学技术。在多点触摸检测方面,主要采用的是投射式电容屏技术、红外阵列技术和光学技术。投射式电容触摸屏生产良率低、成本高,适用于小尺寸触摸产品应用;红外触摸屏和光学触摸屏技术原理简单、易生产、成本低,适用中大尺寸产品应用,但触摸精度低,产品外框大,安装不美观。现有的专利和产品中也有采用受抑全内反射技术来实现多点触摸检测的。受抑全内反射是公知的且已在其他领域广泛使用,如指纹成像和图像显示。当光遇到具有较低折射率的介质的界面时(例如从玻璃传输到空气),会发生某种程度上的折射,折射的程度取决于光的入射角度。当光的入射角超过一定的临界角时,会形成全内反射。如果另一种材料(例如手指)放置在不同折射率介质的界面处,则全内反射受抑制,使光逸出波导。已知的专利如CN101821703A和CN101743527A,采用受抑全内反射技术来实现多点触摸检测,已知专利使用摄像头作为光感测设备,通过侦测受抑全内反射向接触点下方逸出的散射光来判断触摸位置,具有较高的触摸精度,但已知的产品需要布置多个摄像头作为光感测设备,产品实现体积较大,不适合普通用户使用。另有专利CN101866247A采用受抑全内反射技术来实现多点触摸,通过对称地在基板侧边布置光源和光感测设备来发射和接收逸出的散射光从而判断触摸位置,可实现较小的安装体积,但已知的光源和光感测设备采用一对一的方式进行接收和侦测,形成的是一个物理上的二维坐标系统,理论上不能实现物理上真实的多点触摸。
技术实现思路
针对现有技术上存在的不足,本技术目的是在于提供一种实现基于物理真实多点的高精度、低成本且结构简单,易于安装的基于受抑全内反射技术的纯平多点触摸检测系统,特别是中大尺寸的纯平触摸屏,仍有具大的市场需求。为了实现上述目的,本技术是通过如下的技术方案来实现—种基于受抑全内反射技术的纯平多点触摸检测系统,,其包括透明基板,用于传导光在其内形成全内反射,所述透明基板设置有上表面、下表面和各个侧边;一个或多个光源,设置在所述透明基板的各个侧边,用于将光信号按要求的时序传导至所述透明基板内形成全内反射传输;一个或多个光感测设备,所述光感测设备被耦合在所述透明基板各个侧边,用以检测经所述透明基板内传输的光信号受抑制后逸出所述透明基板的光信号和全内反射光信号的衰减,从而定位所述透明基板表面的一个或多个接触位置;一信息处理系统,通过计算处理传输的光信号来定位在所述透明基板上表面一个或多个接触点的位置;所述信息处理系统通过一根或多根信号线与所述光源及光感测设备通信。所述透明基板的侧边是一定角度抛光的抛光侧边,所述一定角度为使所述光信号在所述基板内形成全内反射的最小入射角,即临界角。所述光源和光感测设备设置在透明基板的下表面并与所述透明基板放入下表面形成一定夹角,所述夹角为最小入射角,即临界角。上述临界角Θ。计算方程为:. !<本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种基于受抑全内反射技术的纯平多点触摸检测系统,其特征在于,其包括:透明基板,用于传导光在其内形成全内反射,所述透明基板设置有上表面、下表面和各个侧边;一个或多个光源,设置在所述透明基板的各个侧边,用于将光信号按要求的时序传导至所述透明基板内形成全内反射传输;一个或多个光感测设备,所述光感测设备被耦合在所述透明基板各个侧边上,用以检测经所述透明基板内传输的光信号受抑制后逸出所述透明基板的光信号和全内反射光信号的衰减,从而定位所述透明基板表面的一个或多个接触位置;一信息处理系统,通过计算处理传输的光信号来定位在所述透明基板上表面一个或多个接触点的位置;所述信息处理系统通过一根或多根信号线与所述光源及光感测设备通信。

【技术特征摘要】
1.一种基于受抑全内反射技术的纯平多点触摸检测系统,其特征在于,其包括: 透明基板,用于传导光在其内形成全内反射,所述透明基板设置有上表面、下表面和各个侧边; 一个或多个光源,设置在所述透明基板的各个侧边,用于将光信号按要求的时序传导至所述透明基板内形成全内反射传输; 一个或多个光感测设备,所述光感测设备被耦合在所述透明基板各个侧边上,用以检测经所述透明基板内传输的光信号受抑制后逸出所述透明基板的光信号和全内反射光信号的衰减,从而定位所述透明基板表面的一个或多个接触位置; 一信息处理系统,通过计算处理传输的光信号来定位在所述透明基板上表面一个或多个接触点的位置;所述信息处理系统通过一根或多根信号线与所述光源及光感测设备通 目。2.根据权利要求1所述的纯平多点触摸检测系统,其特征在于,在所述透明基板上耦合了所述光源的侧边的正对侧边及相邻侧边耦合所述光感测设备,所述光源和光感测设备并成对设置。3.根据权利要求1所述的纯平多点触摸检测系统,其特征在于,所述透明基板的侧边是一定角度抛光的抛光侧边,所述一定角度为使所述光信号在所述基板内形成全内反射的最小入射角,即临界角。4.根据权利要求1所述的纯平多点触摸检测系统,其特征在于,所述光源和光感测设备设置在透明基板的下表面并与所述透明基板的下表面形成一定夹角,所述夹角为最小入射角,即临界角。5.根据权利要求3或4所述的纯平多点触摸检测系统,其特征在于,所述临界角Θ。计算方程为: α.几2Wc — arcsiii —— I 其中,n2是较低密度介质...

【专利技术属性】
技术研发人员:王志旭邓秋雄徐勇
申请(专利权)人:昆山特思达电子科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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