位移测量系统技术方案

本发明专利技术提供一种位移测量系统，主要包括：一激光器，用以输出双频激光、一数据采集及处理单元及一回馈单元，所述回馈单元包括一第一反射镜及第二反射镜相对间隔且平行设置，所述第一反射镜具有一第一表面以直接接收入射激光，所述第一表面的法线与所述入射激光形成一夹角α，所述第二反射镜包括一第三表面、与所述第一表面相对的第四表面及第五表面，所述第三表面与所述第一表面相对且平行的，所述第三表面包括一反射区域及透射区域，所述反射区域设置有反射膜，所述透射区域设置有增透膜，所述第五表面与所述透射区域相对设置，且表面设置有反射膜并与所述第三表面形成一夹角β。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于位移测量
，尤其是关于一种基于法布里-珀罗外腔回馈的纳米级位移测量系统。
技术介绍
纳米测量是纳米科学发展的基础，而纳米科学主要是研究、发现和加工结构尺寸小于100纳米的材料、器件和系统，以获得所需要的功能和性能，并已经在材料、化学、生物、能源和医药卫生等领域得到广泛应用。随着纳米时代的到来，对纳米尺度的产品进行检测的需求日益增大，同时也对纳米测量技术提出了更高的标准。纳米测量需要在毫米级的测量范围内达到纳米级的分辨率，同时需要综合考虑环境条件、系统复杂程度及溯源性等方面的要求。纳米测量技术按照量程、分辨率和测量不确定度的标准，可以分为两大类一类是激光干涉仪技术，其特点是量程大，可达几十米，但对小于半个光波长的位移需要用电子鉴相等细分方法来实现；另一类是差拍法布里-拍罗(Fabry-Perot,F-P)干涉仪技术、X射线干涉仪技术、光学+X射线干涉仪技术、频率测量技术和光频梳技术等，他们的特点是分辨率和测量不确定度低，可达亚纳米甚至皮米量级。然而激光干涉仪技术由于电子噪声等非线性误差的影响，半波长以内的位移测量并不可靠，因此难以满足高分辨率的要求。而差拍法布里-珀罗干涉仪技术等的量程小，一般在微米量级，限制了其应用范围。基于激光回馈的位移测量方法具有结构简单、自准直和性价比高的优点。然而，传统的利用激光回馈测量位移的测量装置中，由于采用非准直的外腔回馈，激光束在回馈外腔中的回馈阶次和分辨率并不能直接获得，而是需要干涉仪标定后才能知道该装置的分辨率，在实现纳米级的位移测量分辨率的时候，无法实现分辨率的自标定。
技术实现思路
综上所述，确有必要提供一种具纳米级的位移测量分辨率且能够直接获得分辨率的位移测量系统。一种位移测量系统，主要包括一激光器，用以输出双频激光，所述激光器包括一第一内腔反射镜、一增益管、一增透窗片、一双折射元件以及一第二内腔反射镜沿输出激光的轴线依次共轴设置，所述双折射元件设置于第二内腔反射镜与所述增透窗片之间，并分别与所述第二内腔反射镜及所述增透窗片间隔设置用以产生分频激光；一数据采集及处理单元，所述数据采集及处理单元包括一分光棱镜靠近所述第一内腔反射镜设置以接收激光器输出的激光，并将激光分成ο光及e光，一第一光电探测器及第二光电探测器与所述分光棱镜间隔设置以接收所述ο光及e光并转换为两路电信号，一滤波放大电路与所述第一光电探测器及第二光电探测器电连接以处理两路电信号，一信号处理单元与所述滤波放大电路电连接以计算脉冲数，一显示装置与所述信号处理单元电连接以显示脉冲数；其中，进一步包括一回馈单元，所述回馈单元包括一第一反射镜及第二反射镜相对间隔且平行设置，所述第一反射镜具有一第一表面以直接接收入射激光，所述第一表面的法线与所述入射激光形成一夹角α，所述第二反射镜包括一第三表面、与所述第一表面相对的第四表面及第五表面，所述第三表面与所述第一表面相对且平行的，所述第三表面包括一反射区域及透射区域，所述反射区域设置有反射膜，所述透射区域设置有增透膜，所述第五表面与所述透射区域相对设置，且表面设置有反射膜并与所述第三表面形成一夹角β，从激光器入射到回馈单元的激光直接入射到第一反射镜，经第一反射镜与第二反射镜的反射区域之间多次反射后，从所述透射区域入射到所述第五表面，并经第五表面反射后再沿原路返回所述激光器。与现有技术相比较，本专利技术提供的位移测量系统，通过在回馈单元中设置第二反射镜与第一反射镜形成回馈单元，利用激光在第一反射镜及第二反射镜之间往返的单重高阶弱回馈效应，一方面具有高阶倍频效应，能够达到纳米级的位移测量分辨率；另一方面，所述位移测量系统的分辨率同时可根据回馈单元中的反射光点数得到，而无需其他装置进行标定，因此方法更加简单，因 此具有广阔的应用前景。附图说明图1是本专利技术实施例提供的位移测量系统的结构示意图。图2为图1所述位移测量系统中第二反射镜的结构示意图。图3为图2所示第二反射镜沿线II1-1II方向的剖面图。图4为激光在图1所示位移测量系统所述回馈单元中的光路图。图5为图4所示激光在第二反射镜中的光路图。图6Α为传统位移测量系统测量位移的回馈光强调制曲线。图6Β为图1所述的位移测量系统测量位移的回馈光强调制曲线。图7Α为图1所述位移测量系统中回馈阶次η=7时的回馈光强调制曲线。图7Β为图1所述位移测量系统中回馈阶次η=21时的回馈光强调制曲线。图7C为图1所述位移测量系统中回馈阶次η=33时的回馈光强调制曲线。主要元件符号说明第一反射镜I第二反射镜2第二内腔反射镜 3双折射元件4增透窗片5增益管6第一内腔反射镜 7分光棱镜8第一光电探测器 9第二光电探测器 10滤波放大电路11信号处理单元12显示装置13激光器20回馈单元30数据采集及处理单元40第一表面101第三表面201反射区域201a透射区域201b第四表面202第五表面203如下具体实施例将结合上述附图进一步说明本专利技术。具体实施例方式以下将结合附图详细说`明本专利技术提供的位移测量系统及其测量方法。请参阅图1，本专利技术第一实施例提供一种位移测量系统，所述位移测量系统包括一激光器20，一回馈单元30以及一数据采集及处理单元40。从所述激光器20输出的激光进入所述回馈单元30，经回馈单元30回馈反射后返回所述激光器20，并进入数据采集及处理单元40。所述激光器20，用于输出双频激光；可选择为为气体激光器、固体激光器、或半导体激光器等。本实施例中，所述激光器20为一氦氖激光器。所述激光器20包括一外壳15,以及设置于外壳15内的一第一内腔反射镜7、一增益管6、一增透窗片5、一双折射元件4和一第二内腔反射镜3。所述外壳15有助于保持激光器20内部的温度以及热平衡。所述增益管6可通过一支撑架14固定于所述外壳15内。可以理解，所述支撑架14、外壳15为一可选结构。所述第一内腔反射镜7、增益管6、增透窗片5、双折射元件4以及第二内腔反射镜3沿所述激光器20输出激光的轴线依次共轴设置，并构成激光器的内腔。所述双折射元件4用于产生频率分裂，使所述激光器20输出双频激光，所述双折射元件4的材料可为石英晶体、双解石等，也可以为其他能够产生频率分裂的材料。所述双折射元件4位于所述增透窗片5与所述第二内腔反射镜3之间，且与所述增透窗片5及所述第二内腔反射镜3间隔设置。所述双折射元件4在输出激光轴线方向上具有相对的两个平面，且所述两个平面都镀增透膜。所述激光器20的内腔的腔长可为180mm 200mm。所述数据采集及处理单元40用以接收从所述激光器20第一内腔反射镜7输出的干涉激光，并进行数据处理并计算脉冲数。所述数据采集及处理单元40包括一分光棱镜8、第一光电探测器9、第二光电探测器10、一滤波放大电路11、一信号处理单兀12以及一显不装置13。所述分光棱镜8靠近所述激光器20的第一内腔反射镜7设置，以接收从激光器20中第一内腔反射镜7输出的激光，并将输出的激光在空间分成两路具有位相差的ο光、e光分量。所述第一光电探测器9、第二光电探测器10用以分别探测由分光棱镜8输出的ο光和e光分量，并将其转换为两路电信号。所述滤波放大电路11与所述第一光电探测器9以及第二光电探测器10电连接，并对两路电信号进行电流/电压转换、放大及滤波处本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种位移测量系统，主要包括：一激光器，用以输出双频激光；一数据采集及处理单元，用以接收激光器输出的干涉激光并进行数据处理；其特征在于，进一步包括一回馈单元，所述回馈单元包括一第一反射镜及第二反射镜相对且间隔设置，所述第一反射镜具有一第一表面以直接接收入射激光，所述第一表面的法线与所述入射激光形成一夹角α，所述第二反射镜包括一第三表面及与所述第三表面相对的第五表面，所述第三表面面对所述第一表面且与所述第一表面平行设置，所述第五表面背对所述第一表面设置，所述第五表面远离所述出射激光设置且具有反射膜，并与所述第三表面形成一夹角β，且在远离所述输出激光方向上逐渐靠近所述第三表面，所述第三表面包括一靠近所述入射激光的反射区域及远离所述入射激光的透射区域，所述反射区域设置有反射膜，所述透射区域设置有增透膜，从激光器入射到回馈单元的激光直接入射到第一反射镜，在第一反射镜与第二反射镜的反射区域之间经多次反射后，从所述透射区域入射到所述第五表面，并经第五表面反射后再沿原路返回所述激光器。

【技术特征摘要】
1.一种位移测量系统,主要包括: 一激光器，用以输出双频激光； 一数据采集及处理单元，用以接收激光器输出的干涉激光并进行数据处理； 其特征在于，进一步包括一回馈单元，所述回馈单元包括一第一反射镜及第二反射镜相对且间隔设置，所述第一反射镜具有一第一表面以直接接收入射激光，所述第一表面的法线与所述入射激光形成一夹角α，所述第二反射镜包括一第三表面及与所述第三表面相对的第五表面，所述第三表面面对所述第一表面且与所述第一表面平行设置，所述第五表面背对所述第一表面设置，所述第五表面远离所述出射激光设置且具有反射膜，并与所述第三表面形成一夹角β，且在远离所述输出激光方向上逐渐靠近所述第三表面，所述第三表面包括一靠近所述入射激光的反射区域及远离所述入射激光的透 射区域，所述反射区域设置有反射膜，所述透射区域设置有增透膜，从激光器入射到回馈单元的激光直接入射到第一反射镜，在第一反射镜与第二反射镜的反射区域之间经多次反射后，从所述透射区域入射到所述第五表面，并经第五表面反射后再沿原路返回所述激光器。2.如权利要求1所述的位移测量系统，其特征在于，所述α、β以及所述第二反射镜的折射率η2满足如下关系3.如权利要求1所述的位移测量系统，其特征在于，所述夹角α大于等于I度小于等于10度。4.如权利要求1所述的位移测量系统，其特征在于，所述第二反射镜进一步包括一与所述第三表面相对且平行的第...

【专利技术属性】
技术研发人员：张书练，曾召利，谈宜东，李岩，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：发明
国别省市：