半圆形工件用检测治具制造技术

本发明专利技术公开了一种半圆形工件用检测治具，包括一V型块和百分表，所述V型块的一侧具有一两内侧面呈90度的V型槽；所述百分表固定设置于该V型块的另一侧上，且该百分表的套筒固定穿过所述V型块，所述百分表的穿套于其套筒内的测量杆的一端的测量头置于所述V型槽内，且该测量杆的轴线位于所述V型槽的两内侧面所成角的角平分线上。该检测治具不仅结构简单，使用方便，而且可以精确测量半圆形工件的直径。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种检测治具，尤其涉及一种半圆形工件用检测治具，主要用于检测工件直径。
技术介绍
机械加工中，一般的圆形工件其直径可用现有量具、环规量测，但遇到半圆形工件其直径用普通的量具无法量测，特别是对于精度要求高的半圆形工件，要在设备上量测，通过现有量具无法实现。·
技术实现思路
为了克服上述缺陷，本专利技术提供了一种半圆形工件用检测治具，该检测治具不仅结构简单，使用方便，而且可以精确测量半圆形工件的直径。本专利技术为了解决其技术问题所采用的技术方案是一种半圆形工件用检测治具，包括一 V型块和百分表，所述V型块的一侧具有一两内侧面呈90度的V型槽；所述百分表固定设置于该V型块的另一侧上，且该百分表的套筒固定穿过所述V型块，所述百分表的穿套于其套筒内的测量杆的一端的测量头置于所述V型槽内，且该测量杆的轴线位于所述V型槽的两内侧面所成角的角平分线上。作为本专利技术的进一步改进，所述V型槽还具有一底侧面，该底侧面与该V型槽的两内侧面所成角的角平分线垂直。本专利技术的有益效果是通过带V型槽的V型块和百分表的设计，先用一标准件测量调整好百分表的指针，然后再测量待测量工件，通过和标准工件的直径的对比测量出被测量工件的直径尺寸，其不仅结构简单，使用方便，而且工件在设备上加工时，不拆卸工件即可测量工件，可通过测量的结果，并调整加工参数，减少了装夹时间，提高了工作效率。附图说明图1为本专利技术结构示意图；图2为本专利技术使用状态结构示意图。结合附图，作以下说明I——V型块2——百分表111-内侧面11-V型槽112——底侧面21——测量头3-工件具体实施例方式结合附图，对本专利技术作详细说明，但本专利技术的保护范围不限于下述实施例，即但凡以本专利技术申请专利范围及说明书内容所作的简单的等效变化与修饰，皆仍属本专利技术专利涵盖范围之内。如图1所示，一种半圆形工件用检测治具，包括一 V型块I和百分表2，所述V型块的一侧具有一两内侧面111呈90度的V型槽11 ;所述百分表固定设置于该V型块的另一侧上，且该百分表的套筒固定穿过所述V型块，所述百分表的穿套于其套筒内的测量杆的一端的测量头21置于所述V型槽内，且该测量杆的轴线位于所述V型槽的两内侧面所成角的角平分线上。使用时，先将一标准工件置于V型块的V型槽内，工件的外侧面上的两个点分别抵靠V型槽的两内侧面，同时百分表的测量头抵靠标准工件外侧面上，调整百分表使其表针归零，然后拿掉该标准工件，即可以测量其他需要测量的工件3，测量时只需要把待测量工件置于V型槽内，观察百分表的指针即可，同时根据指针的偏转角度即可知道工件的直径偏大或偏小。利用该装置，在工件还在设备上加工时，不拆卸工件即可测量工件，可通过测量的结果，调整加工参数，减少了装夹时间，提高了工作效率。优选的，所述V型槽还具有一底侧面112，该底侧面与该V型槽的两内侧面所成角的角平分线垂直。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半圆形工件用检测治具，其特征在于：包括一V型块（1）和百分表（2），所述V型块的一侧具有一两内侧面(111)呈90度的V型槽（11）；所述百分表固定设置于该V型块的另一侧上，且该百分表的套筒固定穿过所述V型块，所述百分表的穿套于其套筒内的测量杆的一端的测量头（21）置于所述V型槽内，且该测量杆的轴线位于所述V型槽的两内侧面所成角的角平分线上。

【技术特征摘要】
1.一种半圆形工件用检测治具，其特征在于包括一V型块(I)和百分表(2)，所述V型块的一侧具有一两内侧面(111)呈90度的V型槽(11);所述百分表固定设置于该V型块的另一侧上，且该百分表的套筒固定穿过所述V型块，所述百分表的穿套于其套筒内的测...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕东阔，
申请(专利权)人：昆山宾达精密配件有限公司，
类型：发明
国别省市：