【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种LED测试仪器,特别是一种LED老化测试仪。
技术介绍
在LED生产企业,需要采用LED加速老化测试仪对产品进行老化试验测试,测试的时候,首先将LED芯片固定在测试架上,然后将测试架置于_40°C到+150°C环境中进行加速老化测试,现有的测试架边框及支撑脚为塑料或塑胶件,测试时在加速LED老化的同时,也在加速测试架的老化,致使测试架产生形变及材料老化,使用寿命较短。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足,本技术提供一种使用寿命长、LED芯片固定方便、可靠的LED加速老化测试仪。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是一种LED加速老化测试仪,包括测试架,所述测试架包括由金属材料制成的边框,所述边框内安装有PCB板,所述PCB板上设置有用于固定LED芯片的固定结构。作为本技术的进一步改进,所述边框由铝合金材料制成。所述边框的内壁设置有台阶,所述PCB板下侧的周边贴在所述台阶的上侧面上。所述边框的下侧安装有底板。所述底板顶面的周边贴在所述台阶的下侧面上。所述底板的下侧面上连接有由硅胶材料制成的支撑脚。所述固定结构为矩阵式排列的弹簧顶针。所述固定结构为矩阵式排列的夹子。本技术的有益效果是本技术的边框由金属材料制成,金属边框使用寿命长,不会变形,边框内安装有PCB板,PCB板上排列有用于固定LED芯片的固定结构,该固定结构为矩阵式排列的弹簧顶针或夹子,LED芯片固定方便、可靠,在边框的底部设置有由硅胶材料制成的支撑脚,能够将测试架层叠堆码,放置方便,具有结构简单、使用寿命长等优点。以下结合附图和实施例对本技术进一步说明。附图说明图1是测试架的第一种实施方式 ...
【技术保护点】
一种LED加速老化测试仪,包括测试架,其特征在于所述测试架包括由金属材料制成的边框(1),所述边框(1)内安装有PCB板(2),所述PCB板(2)上设置有用于固定LED芯片的固定结构。
【技术特征摘要】
1.一种LED加速老化测试仪,包括测试架,其特征在于所述测试架包括由金属材料制成的边框(I),所述边框(I)内安装有PCB板(2 ),所述PCB板(2 )上设置有用于固定LED芯片的固定结构。2.根据权利要求1所述的测试仪,其特征在于所述边框(I)由铝合金材料制成。3.根据权利要求1所述的测试仪,其特征在于所述边框(I)的内壁设置有台阶(7),所述PCB板(2)下侧的周边贴在所述台阶(7)的上侧面上。4.根据权利要求1...
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