本实用新型专利技术涉及一种电池老化测试仪，该测试仪包括由单独适配器独立供电的CPU以及与该CPU连接的LCD显示电路、按键电路、DEBUG串口/USB调试电路、LED指示电路以及由MP2615芯片构成的12路充放电电路；所述的12路充放电电路每四路由一个9V适配器供电，且该12路充放电电路的输出端均连接有水泥电阻负载放电。本实用新型专利技术能实现一块主板可以带动12块电池同时进行老化，并且12个均属于独立运行，相互之间并不影响任何操作，大大提高生产效率。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电池检测
，特别是一种电池老化测试仪。
技术介绍
随着数码产品如手机、笔记本电脑等产品的广泛使用，锂离子电池以优异的性能在这类产品中得到广泛应用，并在逐步向其他产品应用领域发展，锂离子电池已经成为了主流。市场上充斥的许多种类的电池，因电池厂商资质不同，生产的电池质量也是良莠不齐。所以迫切需要一种设备检测电池是否合格。目前市场上的电池老化设备是针对于一些大型电池工厂使用，每台电池老化设备体积庞大且价格昂贵，对操作人员的专业需求高，操作人员的上手时间需要比较长，直接影响了生产效率。因此本技术的电池老化测试仪及测试方法可对这些缺点进行改进。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种电池老化测试仪，能实现一块主板可以带动12块电池同时进行老化，并且12个均属于独立运行。本技术采用以下方案实现:一种电池老化测试仪，其特征在于:包括由单独适配器独立供电的CPU以及与该CPU连接的IXD显示电路、按键电路、DEBUG串口 /USB调试电路、LED指示电路以及由MP2615芯片构成的12路充放电电路；所述的12路充放电电路每四路由一个9V适配器供电，且该12路充放电电路的输出端均连接有水泥电阻负载放电。在本技术一实施例中，所述的12路充电电路均包括一 MP2615芯片，所述MP2615芯片的EN端与所述的CPU连接，所述MP2615芯片的SW输出端经电感LI，经电阻Rl，与放电电路的输入端和待测电池的正极连接；SW输出端输出的信号依次经电容C5、电阻Rl5、LC滤波电路发送给BST输入端，进行调节输出波形。CSP和BATT端连接电阻Rl两端，检测电池电压。在本技术一实施例中，所述的放电电路包括一 MOS管和一三极管，所述的MOS管的栅极经电阻RlO与源极和所述输入端连接；所述的三极管的集电极与所述栅极连接；所述三级管的发射极接地，基极与电阻Rll的一端、电阻R12的一端连接；所述电阻Rll的另一端与电容ClO—端以及所述CPU连接；所述电阻R12的另一端、电容ClO的另一端接地；所述MOS管的漏极与一二极管D6的负极连接并作为放电端；所述二极管D6的正极接地。在本技术一实施例中，所述的充放电电路作为副板独立于所述CPU设置。在本技术一实施例中，待测电池是放置于电池盒内；所述电池盒包括电池放置槽，所述电池放置槽设置于所述副板上，所述电池放置槽的一内壁设置有电极触头，所述电池放置槽的下侧壁上设置有电池弹性固定件，所述副板上且位于电池放置槽上方的区域设置有指示灯以及引线插槽。在本技术一实施例中，所述的电池放置槽底部开设有散热通孔。本技术电路结构简单，通过专用芯片，能实现12块电池同时老化测试，且相互之间不构成影响，克服了现有电池检测时间长、设备复杂等问题，具有较好的实用价值。【附图说明】图1是本技术硬件原理示意图。图2是本技术充电局部电路示意图。图3是本技术放电局部电路示意图。图4是本技术副板结构示意图。【具体实施方式】为使本技术的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面结合附图对本技术的【具体实施方式】做详细的说明。在以下描述中阐述了具体细节以便于充分理解本技术。但是本技术能够以多种不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似推广。因此本技术不受下面公开的【具体实施方式】的限制。如图1所示，本实施例提供一种电池老化测试仪，其特征在于:包括由单独适配器独立供电的CPU以及与该CPU连接的IXD显示电路、按键电路、DEBUG串口 /USB调试电路、LED指示电路以及由MP2615芯片构成的12路充放电电路；所述的12路充放电电路每四路由一个9V适配器供电，且该12路充放电电路的输出端均连接有水泥电阻负载放电。在本技术一实施例中，所述的CPU还连接有预留充电电路，所述的12路充电电路的充电电流为均0.5A，所述预留充电电路的充电电流为1A。请参见图2，在本技术一实施例中，所述的12路充电电路均包括一 MP2615芯片，所述MP2615芯片的EN端与所述的CPU连接，所述MP2615芯片的SW输出端经电感LI，经电阻Rl，与放电电路的输入端和待测电池的正极连接。SW输出端输出的信号依次经电容C5、电阻R15、LC滤波电路发送给BST输入端，进行调节输出波形。CSP和BATT端连接电阻Rl两端，检测电池电压。请参见图3，在本技术一实施例中，所述的放电电路包括一 MOS管和一三极管，所述的MOS管的栅极经电阻RlO与源极和所述输入端连接；所述的三极管的集电极与所述栅极连接；所述三级管的发射极接地，基极与电阻Rll的一端、电阻R12的一端连接；所述电阻Rll的另一端与电容ClO—端以及所述CPU连接；所述电阻R12的另一端、电容ClO的另一端接地；所述MOS管的漏极与一二极管D6的负极连接并作为放电端；所述二极管D6的正极接地。值得一提的是，本技术所述的充放电电路作为副板独立于所述CPU设置。请参见图4，待测电池是放置于电池盒内；所述电池盒包括电池放置槽2，所述电池放置槽2设置于所述副板I上，所述电池放置槽的一内壁设置有电极触头3，所述电池放置槽的下侧壁上设置有电池弹性固定件，所述副板上且位于电池放置槽上方的区域设置有指示灯以及引线插槽。本实施例中，该弹性固定件包括一固定杆5，所述固定杆5内设置有复位弹性杆4 ;所述指示灯包括红灯10和绿灯11，所述引线插槽包括两个五芯插槽和一个十芯插槽，该两芯插槽作为用来测试其他类型的电池接入端；该十芯插槽用于副板与主板之间的数据通讯以及供电连接。在本技术一实施例中，所述的电池放置槽底部开设有散热通孔6。本技术一实施例中，所述充电芯片EN引脚电平的高低控制充电和放电，当EN引脚处于高电平时，所述MP2615芯片停止对电池充电，同时所述MOS管打开，电池开始恒阻放电；当EN引脚处于低电平时，所述MP2615芯片开始对电池充电，同时所述MOS关闭，电池停止放电；所述充电测试包括以下判断方式:I)当电池充电超时，所述MP2615芯片的CHGOK引脚处于高电平，红灯常亮，判断不合格；2)当充电温度超过硬件设定温度，所述MP2615芯片的CHGOK引脚处于高电平，红灯常亮，判断不合格；所述放电测试包括以下判断方式:I)放电时间结束时，主板上的AD采样模块，与设定的阈值电压进行对比，如果低于该阈值电压，红灯常亮，判断不合格。本技术原理是利用充电专用芯片对锂电池进行充电，结合电池电压检测并把充电状态位作为识别故障的标志位，通过CPU控制专用芯片的EN端以及放电MOS对锂电池进行放电和性能检测，并把检测结果通过LED显示出来。本技术虽然已以较佳实施例公开如上，但其并不是用来限定本技术，任何本领域技术人员在不脱离本技术的精神和范围内，都可以利用上述揭示的方法和
技术实现思路
对本技术技术方案做出可能的变动和修改，因此，凡是未脱离本技术技术方案的内容，依据本技术的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化及修饰，均属于本技术技术方案的保护范围。以上所述仅为本技术的较佳实施例，凡依本技术申请专利范围所做的均本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电池老化测试仪，其特征在于：包括由单独适配器独立供电的CPU以及与该CPU连接的LCD显示电路、按键电路、DEBUG串口/USB调试电路、LED指示电路以及由MP2615芯片构成的12路充放电电路；所述的12路充放电电路每四路由一个9V适配器供电，且该12路充放电电路的输出端均连接有水泥电阻负载放电。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黄少斌，林怀，陈先樑，陈雄文，
申请(专利权)人：福建实达电脑设备有限公司，
类型：新型
国别省市：福建;35
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