一种非饱和高压加速老化试验箱制造技术

本实用新型专利技术属于检测设备技术领域，尤其涉及一种非饱和高压加速老化试验箱，包括机箱，所述机箱包括箱门、机箱主体和内箱主体，所述内箱主体内设置有由微电脑控制系统智控制的加热器、加湿器、温度传感器、湿度传感器、压力传感器、给排水口和自动补水系统，所述给排水口和所述自动补水系统连接，所述内箱主体还连接有补气装置。相对于现有技术，本实用新型专利技术通过微电脑控制系统智能迅速的产生非饱和水蒸汽，将内箱主体内的环境（湿度、温度和压力）变得非常苛刻，从而对产品进行高温、高湿、高压的加速老化寿命试验环境，从而大大缩短对产品的测试时间，性能良好可靠，对加速产品老化寿命的测试及对产品品质的监控均能起到很好的作用。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于检测设备
，尤其涉及一种能够加快被测物老化速度的非饱和高压加速老化试验箱。
技术介绍
在工业生产时，一般在产品生产制造出来后，要进行检测，检测出来的性能达标的产品才是优良品，才允许交货给客户或者进行售卖。现有技术中，常规的老化试验速度比较慢，周期较长，并且进行老化试验的设备体积较大，工作效率较低，试验效果不够好，会影响对产品质量的判断。加速老化试验应用比一般环境更高的应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，有次序地加载在测试物上，目的是发掘出新开发设计出的产品的设计弱点，而使负责设计与开发的工程师能够针对这项被暴露出的弱点进行评估，在必要的状况下，能够准确地进一步改善在设计及制程上的这项弱点，进而提升产品的可靠度。例如，为了调查分析何时出现电子元器件、机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验等。但是，随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。有鉴于此，确有必要提供一种能够加快被测物老化速度的非饱和高压本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种非饱和高压加速老化试验箱，包括机箱，所述机箱包括箱门、机箱主体和内箱主体，所述箱门上设置有把手，其特征在于：所述内箱主体内设置有由微电脑控制系统智控制的加热器、加湿器、温度传感器、湿度传感器、压力传感器、给排水口和自动补水系统，所述给排水口和所述自动补水系统连接，所述内箱主体还连接有补气装置。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：聂琳，
申请(专利权)人：东莞市瑞凯环境检测仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44