一种LED老化的检测筛选方法技术

技术编号:8593109 阅读:385 留言:0更新日期:2013-04-18 06:10
一种LED老化的检测筛选方法,通过使用计算机数控设备来周期性的调整输入到各LED的电流和电压,通过热电偶测温仪检测各LED的温度数据,所述计算机数控设备根据接收到的各个LED的温度数据以及相应的电压和/或电流值,绘制成线性关系的电压、温度函数曲线并在计算机显示器上显示,将检测到的数据与预设的阈值相比较找出不合格的LED并在显示器上显示,操作人员根据计算机上显示的标识,对不合格的LED进行标记筛选,完成LED老化的检测和筛选。通过本发明专利技术可以很好的实现对LED老化的检测筛选,提高设备的安全可靠性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种LED老化的检测筛选方法,尤其涉及一种通过对LED老化将电性和工艺存在隐患的LED排除的检测筛选方法。
技术介绍
在大功率LED路灯照明中,三大技术关键是热管理、驱动电源和LED性能质量。前两项已有许多改进成果,独有第三项仍是沿袭着前人故道蹒跚而行,其现状是由多粒大功率LED阵列或大功率多晶集成(IC)组成的光源中,剔除早期和次早期失效的LED器件,历来都是繁琐和头疼的问题,LED器件经规范条件测试合格后,最后把关便是通用的老化试验了,然而常规的老化试验只能剔除部分早期失效的大功率LED,对次早期失效的大功率LED却无能为力,同时这一方法用于剔除早期失效的大功率LED的近期效果也极为有限,因而人们期望延长老化时间来达到预期目标,有的甚至将老化时间延长至240小时,但终将于事无补,大功率照明的早期和次早期失效的LED仍不断出现(其他部件失效另文探讨),这对昂贵的大功率LED路灯而言,也就瑕疵难掩,难附长寿命之实。目前,有效地预测和检测LED的性能失效的设备还没存在,而一般的检测都是采用传统的方法来处理。一般来说,LED老化就是采用高电压耐受驱动方法,将比正常驱动电压本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种LED老化的检测筛选方法,其特征在于包括下列步骤:A.?将待检测的LED阵列对齐,使LED负极管脚与负极触点片良好接触,并且使计算机数控设备输出端的每个触点与对应的每个LED正极管脚连接,保持正极触片和负极触片的电源接通,将热电偶测温仪的每个触点分别与每个LED相接触,使LED阵列通电对阵列上各LED进行老化;其中输出的额定电压为24V、额定电流输出为50mA,LED老化时间为70分钟,所述计算机数控设备能够根据需要调整输入到各LED的电流和电压,并且能够在计算机显示器上显示出各个输出触点的电压和/或电流值,计算机数控设备周期性的更新显示出的电压和电流值,并对电压和电流值进行存储,对于电压...

【技术特征摘要】
1. 一种LED老化的检测筛选方法,其特征在于包括下列步骤 A.将待检测的LED阵列对齐,使LED负极管脚与负极触点片良好接触,并且使计算机数控设备输出端的每个触点与对应的每个LED正极管脚连接,保持正极触片和负极触片的电源接通,将热电偶测温仪的每个触点分别与每个LED相接触,使LED阵列通电对阵列上各LED进行老化; 其中输出的额定电压为24V、额定电流输出为50mA,LED老化时间为70分钟,所述计算机数控设备能够根据需要调整输入到各LED的电流和电压,并且能够在计算机显示器上显示出各个输出触点的电压和/或电流值,计算机数控设备周期性的更新显示出的电压和电流值,并对电压和电流值进行存储,对于电压和/或电流值异常的LED单元会在显示器上进行闻売显不; 所述计算机数控设备的输入端连接有热电偶测温仪,接收来自所述热电偶测温仪的温度数据,所述计算机数控设备根据接收到的各个LED的温度数据以及相应的...

【专利技术属性】
技术研发人员:张友贤王俊樊新军吴军
申请(专利权)人:三峡电力职业学院
类型:发明
国别省市:

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