一种同步电机集电环状态监控与修复装置制造方法及图纸

技术编号:8581877 阅读:272 留言:0更新日期:2013-04-15 05:36
本实用新型专利技术针对同步电机运行过程中,集电环易磨损的问题,提供一种同步电机集电环状态监控与修复装置,包括集电环、集电环打磨环、固定螺杆、固定杆、步进电机、放大倍数可调的显微镜、CCD、计算机,其中,放大倍数可调的显微镜与CCD相连接,CCD与计算机相连接;集电环打磨环与固定螺杆相连接,固定螺杆安装在固定杆上,固定杆与步进电机相连接;步进电机与计算机相连接。本实用新型专利技术能够实时的监控集电环的工作状态,一旦发现问题,计算机驱动步进电机,控制集电环打磨环下降,对集电环进行打磨修复,恢复集电环的状态,保证电机运行的安全可靠。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及同步电机
,尤其是涉及到一种同步电机集电环状态监控与修复装置
技术介绍
在同步电机的运行过程中,集电环会附着尘埃、碳尘、油等。这会造成集电环的异常磨损,从而产生凹凸不平的痕迹、凹坑等。当集电环产生这些缺陷时,在运行过程中,易出现火花的现象,严重时会引起事故。目前,采用的方法都是后处理的方式,即,当工人发现集电环工作异常时,停机后,对集电环进行手工打磨来消除集电环的缺陷。但是,这样的做法不能够实时的知道何时集电环已经出现缺陷,仍然存在着安全隐患。而且,停机手工打磨要造成生产停顿,影响工作效率。
技术实现思路
本技术针对同步电机运行过程中,集电环易磨损的问题,提供一种同步电机集电环状态监控与修复装置,能够实时的监控集电环的工作状态,一旦发现问题,立即驱动在线修复装置进行集电环的修复,保证电机运行的安全可靠。本技术所采取的技术方案为,一种同步电机集电环状态监控与修复装置,包括集电环、集电环打磨环、固定螺杆、固定杆、步进电机、放大倍数可调的显微镜、CCD、计算机,其中,放大倍数可调的显微镜与集电环的最上端的水平切线成45度角;放大倍数可调的显微镜与CCD相连接,CCD与计算机相连接;集电环打磨环与固定螺杆相连接,固定螺杆安装在固定杆上,固定杆与步进电机相连接;步进电机与计算机相连接;集电环打磨环位于集电环的正上方。本技术通过放大倍数可调的显微镜能够清楚的观察到各种微小的凹坑、微痕迹,通过C⑶把图像传给计算机,能够实时的监控集电环的工作状态,一旦发现问题,计算机驱动步进电机,控制集电环打磨环下降,对集电环进行打磨修复,恢复集电环的状态,保证电机运行的安全可靠。附图说明图1为本技术的结构示意图。图中1集电环、2集电环打磨环、3固定螺杆、4固定杆、5步进电机、6放大倍数可调的显微镜、7(XD、8计算机。具体实施方式以下结合附图实施例对本技术作进一步详细描述。图1为本技术的结构示意图,集电环1、集电环打磨环2、固定螺杆3、固定杆4、步进电机5、放大倍数可调的显微镜6、(XD7、计算机8,其中,放大倍数可调的显微镜6与集电环I的最上端的水平切线成45度角;放大倍数可调的显微镜6与CCD7相连接,(XD7与计算机8相连接;集电环打磨环2与固定螺杆3相连接,固定螺杆3安装在固定杆4上,固定杆4与步进电机5相连接;步进电机5与计算机8相连接;集电环打磨环2位于集电环I的正上方。本技术通过放大倍数可调的显微镜6能够清楚的观察到各种微小的凹坑、微痕迹,通过(XD7把图像传给计算机8,能够实时的监控集电环I的工作状态,一旦发现问题,计算机8驱动步进电机5,控制集电环打磨环2下降,对集电环I进行打磨修复,恢复集电环I的状态,保证电机运行的安全可靠。 以上显示和描述了本技术的基本原理和主要特征和本技术的优点。本行业的技术人员应该了解,本技术不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本技术的原理,在不脱离本技术精神和范围的前提下,本技术还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本技术范围内。本技术要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种同步电机集电环状态监控与修复装置,包括集电环、集电环打磨环、固定螺杆、固定杆、步进电机、放大倍数可调的显微镜、CCD、计算机,其特征在于:所述的放大倍数可调的显微镜与CCD相连接,CCD与计算机相连接;所述的集电环打磨环与固定螺杆相连接,固定螺杆安装在固定杆上,固定杆与步进电机相连接,步进电机与计算机相连接。

【技术特征摘要】
1.一种同步电机集电环状态监控与修复装置,包括集电环、集电环打磨环、固定螺杆、固定杆、步进电机、放大倍数可调的显微镜、CCD、计算机,其特征在于 所述的放大倍数可调的显微镜与CCD相连接,CCD与计算机相连接; 所述的集电环打磨环与固定螺杆相连接,...

【专利技术属性】
技术研发人员:蒋能国杜姜
申请(专利权)人:浙江德盈电气制造有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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