【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于过程监控的光学测量探针,尤其是用于在固体、乳液和悬浮液上的反射测量。
技术介绍
为了在过程工业、尤其是化学、医药和食品工业中的过程监控,在工艺装置范围中经常使用光学测量探针,借助于它们可以实时地测量浓度、识别原料、浑浊度和离析物纯度、中间产品和产品(固体、乳液和悬浮液)。光学测量探针的优点是,它们无取出地工作,它们能够同时确定多个分析物浓度并且能够在不利的(有毒的、腐蚀的、辐射的、爆炸危险的、无菌的、污染的)环境中使用。这些探针通常涉及光导纤维的部件,它们通过其远端的具有光线进入孔的端部设置在工艺装置里面,即或多或少地在工艺装置附近或者直接与分析物接触并且通过其近端部耦联在评价装置、例如NIR光谱计上。通常通过这些探针借助于一个具有已知光谱的光源进行工艺物的反射测量,其光线经常通过一个设置在测量探针里面的特殊的光导体耦入到测量地点里面。例如在聚合物熔液挤出时的过程监控时能够实时地快速和可靠地确定聚合物熔液的精确化学组分。因此可以省去通过取出试样进行费事的离线分析。通过将这种光学获得的测量参数与其它的、非光学获得的测量参数(温度、压力、PO2 ...
【技术保护点】
一种用于工业过程监控的光学测量探针(10),具有a)一个设置在工艺装置部位里面的具有一个光进入孔(12)的远端(11),b)一个耦联到评价装置上的近端(13),其中c)在测量探针的远端与近端之间设置一个杆(14),它在两个端部之间包括一个光导连接,其中,d)该测量探针在其远端部位(11)具有比杆(14)和/或近端(13)更小的外径,所述光导连接是光导纤维光导体或者光导体束,它们具有包覆以及柔性的金属加强件,其特征在于,所述光学测量探针(10)在远端部位没有柔性的金属加强件而是取而代之具有刚性的套。
【技术特征摘要】
2006.08.02 DE 102006035996.81.一种用于工业过程监控的光学测量探针(10),具有 a)—个设置在工艺装置部位里面的具有一个光进入孔(12)的远端(11), b)一个耦联到评价装置上的近端(13),其中 c)在测量探针的远端与近端之间设置一个杆(14),它在两个端部之间包括一个光导连接,其中, d)该测量探针在其远端部位(11)具有比杆(14)和/或近端(13)更小的外径, 所述光导连接是光导纤维光导体或者光导体束,它们具有包覆以及柔性的金属加强件, 其特征在于,所述光学测量探针(10)在远端部位没有柔性的金属加强件而是取而代之具有刚性的套。2.如权利要求1所述的光学测量探针,其特征在于,所述测量...
【专利技术属性】
技术研发人员:S托什,R格罗斯,M布兰德,H图普斯,
申请(专利权)人:拜尔技术服务有限责任公司,
类型:发明
国别省市:
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