【技术实现步骤摘要】
本技术属于光学测量
，涉及一种基于偏振光的精密测角装置，尤其涉及一种基于双光路信号处理及压控放大实现精密测角装置。
技术介绍
光学测角方法由于具有非接触、高准确度和高灵敏度的特点而倍受人们的重视，应用越来越广泛。光学测角法除众所周知的光学分度头法和多面棱体法外，常用的还有光电编码器法、自准直法、声光调制法以及激光干涉法等。典型的设备有码盘(光电或光学码盘)、多齿分度台等设备。在距离较远的条件下(例如超过lm)，采用这些设备进行高精度测量的实现成本和难度大大增加，因而，其应用受到限制。利用偏振光进行角度测量可以攻克这一技术难点，其利用光路中偏振元件的旋转引起偏振光光强、相位或频差的变化，并基于光的偏振面对旋转的敏感性，可以方便地测量与偏振光束垂直的角位移，具有精度高、速度快且作用距离远等优点，因而在航天器对接、军用系统高精度测量、采矿和隧道开掘、生物医学等领域有广阔的应用前景。利用偏振光，可以直接应用马吕斯定律检测两个偏振片透光轴之间的夹角，但测量精度不高，这是因为目前尚无高精度测量偏振面旋转角的仪器，所以，必须将角度信号转换为光强度信号再进行测量。同时，微...
【技术保护点】
一种精密测角装置，其特征在于：所述精密测角装置包括偏振光信号发射单元以及设置在偏振光信号发射单元出射光路上的信号检测单元；所述偏振光信号发射单元包括光源、准直扩束镜、起偏器以及磁光调制器；所述准直扩束镜、起偏器以及磁光调制器依次设置在经光源的出射光路上。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：吴易明，陆卫国，李春艳，肖茂森，王海霞，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：实用新型
国别省市：
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