【技术实现步骤摘要】
高分辨力双轴自准直仪系统
本技术属于几何量计量测试
,具体涉及一种高分辨力双轴自准直仪。
技术介绍
自准直仪是应用最广泛的小角度测量仪器,用于测量反光镜微小的角位移。光学自准直仪在20世纪30年代中期就开始用于角度测量,到了 20世纪40年代末期,精度为I 秒的仪器被正式采用。当以光电技术取代肉眼之后,其精度有了大幅度的提高。在20世纪 60年代美国、英国及德国制造商已生产了多种光电式的商品自准直仪。之后数十年来自准直仪得到了飞速的发展。自准直仪经历了目视式、光电指零式和数显式三个发展阶段。数显式自准直仪的出现使自准直仪的性能有质的飞跃,数显式把仪器准确度由 I级提高至0.1级,最小显示值由0.1级提高至0.01级。数显式自准直仪准确度高, 使用方便,操作简单,能实现自动测量。按光电转换元件分类,典型的数显式自准直仪有振子式、、PSD式、和CCD式等。提高分辨力和示值稳定性(减小跳字量)是通用数显自准直仪的发展方向。高分辨力是高准确度的保障与前提,高稳定性(跳字量小)又是高分辨力的保障与前提。跳字量是静态数显自准直仪的特点和难点。动态测量每次采样只有 ...
【技术保护点】
一种高分辨力双轴自准直仪系统,其特征在于:该系统包括仪器外壳(14)以及固定在仪器外壳(14)上的物镜组套筒(2),其中,物镜组套筒(2)由前后依次设置的物镜前组(1)和物镜后组(4)组成,仪器外壳(14)内安装有水平LED光源(8)、垂直LED光源(19)、水平准直分划板(10)、垂直准直分划板(17)、分光棱镜A(11)、分光棱镜B(12)、分光棱镜C(16)以及反光镜(13),其中,反光镜(13)对通过物镜后组(4)的水平光线进行反射,形成垂直光线,射入两个依次布置的分光棱镜B(12)以及分光棱镜A(11),并在分光棱镜A(11)的垂直光线通路上依次设有水平准直分划板 ...
【技术特征摘要】
1.一种高分辨力双轴自准直仪系统,其特征在于该系统包括仪器外壳(14)以及固定在仪器外壳(14)上的物镜组套筒(2),其中,物镜组套筒(2)由前后依次设置的物镜前组(I)和物镜后组(4)组成,仪器外壳(14)内安装有水平LED光源(8)、垂直LED光源(19)、水平准直分划板(10)、垂直准直分划板(17)、分光棱镜A (11)、分光棱镜B (12)、分光棱镜C(16)以及反光镜(13),其中,反光镜(13)对通过物镜后组(4)的水平光线进行反射,形成垂直光线,射入两个依次布置的分光棱镜B (12)以及分光棱镜A (11),并在分光棱镜A (11)的垂直光线通路上依次设有水平准直分划板(10)、水平聚光镜(9)以及水平LED光源(8),分光棱镜A (11)反射的水平光线通路上依次安装有显微物镜B (7)和垂直安装的第二线阵CCD (5);分光棱镜B (12)反射的水平光线通路上依次安装有分光棱镜...
【专利技术属性】
技术研发人员:王震,张俊杰,张忠武,李永刚,孙方金,
申请(专利权)人:北京航天计量测试技术研究所,中国运载火箭技术研究院,
类型:实用新型
国别省市:
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