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一种物体表面三维轮廓重建方法及成像装置制造方法及图纸

技术编号:8488180 阅读:205 留言:0更新日期:2013-03-28 06:48
本发明专利技术涉及一种物体表面三维轮廓重建方法及成像装置,包括以下步骤:将参考平面板放置在旋转台上,发光二极管发出的光通过光栅投射到参考平面板的表面形成若干条纹,摄像头摄取参考平面板的条纹,并将其发送到计算机;将待测物体放置在旋转台上,发光二极管发出的光通过光栅投射到待测物体的表面形成若干条纹,摄像头摄取待测物体的所有条纹,并将其发送到计算机;控制器控制旋转台旋转,摄像头摄取待在360°范围内的n帧待测物体条纹图像;计算机通过单帧傅立叶变换轮廓术子方法,得到n个不同角度下待测物体表面的部分轮廓;综合所有角度下的待测物体表面部分轮廓得到待测物体表面完整轮廓,本发明专利技术可以广泛用于荧光分子断层成像的物体表面三维轮廓重建中。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种物体表面重建方法及成像装置,特别是关于一种适用于荧光分子断层成像的物体表面三维轮廓重建方法及成像装置
技术介绍
荧光分子断层成像技术已经成为一种用于生命医学研究的重要手段,有助于早期的疾病诊断尤其是癌症诊断和定位,有效促进药物研制和生命机理的分析。荧光分子断层成像方法主要可以分为基于有限元的方法和基于辐射传输方程的方法,无论是哪种重建方法,都需要在正向问题中先预测出边界荧光数据,然后在反演问题上更新模型的光学参数值,以使边界测量值和正向计算得出的数据之间差值最小。因此,在荧光分子断层成像的三维重建中,确定被测物体的三维表面边界轮廓是必不可少的。目前,现有技术中解决荧光分子断层成像中物体表面轮廓重建问题,如白光下反投影重建法,其优点是能够基本达到荧光分子断层成像方法所需要的轮廓精度,但是成像精度不高,白光源对荧光波段仍有一定干扰,数据采集占用CCD资源;基于格雷编码结构光的轮廓提取方法,其优点是可以通过定标实现很高的分辨率,但是对于同一个角度的物体, 重建需要多帧格雷编码图像,非常耗时,切换图案的装置也会大大增加系统复杂度和成本, 因而效果不甚理想。
技术实现思路
针本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种物体表面三维轮廓重建方法,包括以下步骤:1)设置一包括有发光二极管、光栅、旋转台、控制器、摄像头和计算机的物体表面三维轮廓成像装置;2)将一参考平面板放置在旋转台上,且参考平面板平行并通过旋转轴,发光二极管发出的光通过光栅投射到参考平面板的表面形成若干条纹,摄像头摄取参考平面板的所有条纹,并将摄取的参考平面板条纹图像发送到计算机;3)将一待测物体放置在旋转台上,发光二极管发出的光通过光栅投射到待测物体的表面形成若干条纹,摄像头摄取待测物体的所有条纹,并将摄取的待测物体条纹图像发送到计算机;4)控制器控制旋转台每间隔360°/n旋转一次,摄像头摄取待测物体在360°范围内的n帧待测物体条纹图...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:白净石璧尔张宾刘飞
申请(专利权)人:清华大学
类型:发明
国别省市:

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