孔径测量装置及方法制造方法及图纸

技术编号:8488171 阅读:234 留言:0更新日期:2013-03-28 06:47
一种孔径测量装置及方法,该装置包括:底座;移动平台,设于底座上,并且相对于底座可滑动;平台驱动装置,用于驱动移动平台滑动;两个CCD相机,固定于底座上,并间隔相对设置,两个CCD相机均具有摄像镜头,并且相对安置;两个远心透镜,分别设于两个CCD相机的镜头处;两个光源,分别安装在两个远心透镜中;定位夹具,固定于移动平台上,并且位于两个摄像孔之间;反光镜,靠近定位夹具设置,反光镜的相对两侧面均为反射面;反光镜驱动装置,设于移动平台上,用于驱动反光镜移动;平台驱动装置驱动移动平台在两个CCD相机之间移动。上述孔径测量装置及方法,其可测量具有多层结构的工件的中间孔径,并且检测效率较高、速度较快、可避免刮伤待检测工件。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量装置及方法,特别是涉及一种。
技术介绍
在检测一个具有多层结构的工件的中间孔径时,例如,检测硬盘磁头驱动架的中间指片的尾孔的孔径,使用光学检测技术一直很难实现。请参阅图1,一种检测硬盘磁头驱动架10,其包括四个指片,分别为第一指片11、第二指片12、第三指片13及第四指片14,其中,第一指片11及第四指片14位于外侧,第二指片12及第三指片13位于中间,第一指片11、第二指片12、第三指片13及第四指片14分别对应设置有尾孔lla、12a、13a、14a。为了检测中间指片(即第二指片12及第三指片13) 的尾孔12a、13a的孔径,在该领域一直使用接触式测量,但接触式测量需要检测多点才能计算圆的直径,速度慢,效率低,有时还会对工件内壁产生刮伤,在大批量的生产过程中,难以实现全检。
技术实现思路
鉴于上述状况,有必要提供一种,其可测量具有多层结构的工件的中间孔径,并且检测效率较高、速度较快、可避免刮伤工件。一种孔径测量装置,包括底座;移动平台,设于所述底座上,并且相对于所述底座可滑动;平台驱动装置,用于驱动所述移动平台滑动;(XD相机A及(XD相机B,固定于所述底座本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种孔径测量装置,其特征在于,包括:底座;移动平台,设于所述底座上,并且相对于所述底座可滑动;平台驱动装置,用于驱动所述移动平台滑动;CCD相机A及CCD相机B,固定于所述底座上,并间隔相对设置,所述CCD相机A及CCD相机B均具有远心镜头,并且所述CCD相机A及CCD相机B的摄像孔相对设置;远心透镜A及远心透镜B,分别设于所述CCD相机A及CCD相机B的摄像孔处;光源A及光源B,分别安装在所述远心透镜A及远心透镜B上;定位夹具,固定于所述移动平台上,并且位于所述两个摄像孔之间;反光镜,靠近所述定位夹具设置,所述反光镜的相对两侧面均为反射面;及反光镜驱动装置,设于所述移动平台上,用于驱动反光镜...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:方文李啸苏志锋刘旭明陈珏然
申请(专利权)人:福群电子深圳有限公司
类型:发明
国别省市:

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