处理图像的方法和设备技术

本发明专利技术提供了处理图像的方法和设备。该方法包括：确定当前帧图像中被掩膜覆盖的至少一个块，掩膜以当前帧图像中的第一像素点为中心，该至少一个块是对当前帧图像进行划分得到的，该块包括多个像素点；确定至少一个块中的每个块的像素均值，并根据每个块的像素均值确定每个块对应的灰度映射曲线函数；确定至少一个块中的每个块中被该掩膜覆盖的部分的面积与掩膜的面积的比值；根据每个块中被掩膜覆盖的部分的面积与掩膜的面积的比值、每个块对应的灰度映射曲线函数以及第一像素点的原始像素值，确定第一像素点的调整像素值。本发明专利技术实施例能够在节省资源的同时，提高图像处理速度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及图像领域，并且具体地，涉及处理图像的方法和设备。
技术介绍
由于显示设备的动态范围的不足，常常导致捕获到的图像无法完美显示，当暗部细节被显示时亮部细节就会丢失，当亮部细节被显示时暗部细节就会丢失，暗部细节和亮部细节往往不能同时显示。为了获得较好的图像效果，目前常用的处理方法有局部调整法，即使用掩膜对图像进行处理，这样处理的图像细节呈现好，局部对比度高，但是该方法需要对掩膜内的像素点进行归一化处理，因此复杂度高，占用资源大，严重降低了图像处理速度。
技术实现思路
本专利技术实施例提供处理图像的方法和设备，能够在节省资源的同时，提高图像处理速度。第一方面，提供了一种处理图像的方法，包括确定当前帧图像中被掩膜覆盖的至少一个块，该掩膜以该当前帧图像中的第一像素点为中心，该至少一个块是对该当前帧图像进行划分得到的，该块包括多个像素点；确定该至少一个块中的每个块的像素均值，并根据该每个块的像素均值确定该每个块对应的灰度映射曲线函数；确定该至少一个块中的每个块中被该掩膜覆盖的部分的面积与该掩膜的面积的比值；根据该每个块中被该掩膜覆盖的部分的面积与该掩膜的面积的比值、该每个块对应的灰度映射曲线函数以及该第一像素点的原始像素值，确定该第一像素点的调整像素值。结合第一方面，在第一种可能的实现方式中，确定该至少一个块中的每个块的像素均值，并根据每个块的像素均值确定每个块对应的灰度映射曲线函数包括获取与该每个块相对应的前一帧图像中的块的像素均值；将该与该每个块相对应的前一帧图像中的块的像素均值作为该每个块的像素均值，并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数。结合第一方面，在第二种可能的实现方式中，确定该至少一个块中的每个块的像素均值，并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数包括对该每个块的全部像素点的像素值进行统计，确定该每个块的像素均值，并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数。结合第一方面，在第三种可能的实现方式中，确定该至少一个块中的每个块的像素均值，根据该每个块的像素均值确定该每个块对应的灰度映射曲线函数，包括确定该至少一个块中的每个块的像素均值；当每个块的像素均值小于或者等于第一阈值时，确定每个块对应的灰度映射曲线函数为曲线函数TRCl ;当每个块的像素均值大于第一阈值时，确定每个块对应的灰度映射曲线函数为曲线函数TRC2;该曲线函数TRCI和曲线函数TRC2用于调整根据不同像素值划分的灰度区域。结合第一方面或第一方面的第一种可能的实现方式或第一方面的第二种或第一方面的第三种可能的实现方式，在第四种可能的实现方式中，按照以下等式确定该第一像素点的调整像素值Ptjut 权利要求1.一种处理图像的方法，其特征在于，包括 确定当前帧图像中被掩膜覆盖的至少一个块，所述掩膜以所述当前帧图像中的第一像素点为中心，所述至少一个块是对所述当前帧图像进行划分得到的，所述块包括多个像素占. 确定所述至少一个块中的每个块的像素均值，并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数； 确定所述至少一个块中的每个块中被所述掩膜覆盖的部分的面积与所述掩膜的面积的比值； 根据所述每个块中被所述掩膜覆盖的部分的面积与所述掩膜的面积的比值、所述每个块对应的灰度映射曲线函数以及所述第一像素点的原始像素值，确定所述第一像素点的调整像素值。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述至少一个块中的每个块的像素均值，并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数，包括 获取与所述每个块相对应的前一帧图像中的块的像素均值； 将所述与所述每个块相对应的前一帧图像中的块的像素均值作为所述每个块的像素均值； 根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述至少一个块中的每个块的像素均值，并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数，包括 对所述每个块的全部像素点的像素值进行统计，确定所述每个块的像素均值； 根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定所述至少一个块中的每个块的像素均值，并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数，包括 确定所述至少一个块中的每个块的像素均值； 当所述每个块的像素均值小于或者等于第一阈值时，确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数为曲线函数TRCl ； 当所述每个块的像素均值大于所述第一阈值时，确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数为曲线函数TRC2 ； 所述曲线函数TRCl和所述曲线函数TRC2用于调整根据不同像素值划分的灰度区域。5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述根据所述每个块中被所述掩膜覆盖的部分的面积与所述掩膜的面积的比值、所述每个块对应的灰度映射曲线函数以及所述第一像素点的原始像素值，确定所述第一像素点的调整像素值，包括 按照以下等式确定所述第一像素点的调整像素值Ptjut 6.一种处理图像的设备，其特征在于，包括 第一确定单元，用于确定当前帧图像中被掩膜覆盖的至少一个块，所述掩膜以所述当前帧图像中的第一像素点为中心，所述至少一个块是对所述当前帧图像进行划分得到的，所述块包括多个像素点； 第二确定单元，用于确定所述至少一个块中的每个块的像素均值，并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数； 第三确定单元，用于确定所述至少一个块中的每个块中被所述掩膜覆盖的部分的面积与所述掩膜的面积的比值； 第四确定单元，与所述第一确定单元、所述第二确定单元和所述第三确定单元连接，用于根据所述每个块中被所述掩膜覆盖的部分的面积与所述掩膜的面积的比值、所述每个块对应的灰度映射曲线函数以及所述第一像素点的原始像素值，确定所述第一像素点的调整像素值。7.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述第二确定单元具体用于获取与所述每个块相对应的前一帧图像中的块的像素均值；将所述与所述每个块相对应的前一帧图像中的块的像素均值作为所述每个块的像素均值；并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数。8.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述第二确定单元具体用于对所述每个块的全部像素点的像素值进行统计，确定所述每个块的像素均值；并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数。9.根据权利要求6所述的设备，其特征在于，所述第二确定单元具体用于确定所述至少一个块中的每个块的像素均值；当所述每个块的像素均值小于或者等于第一阈值时，确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数为曲线函数TRCl ;当所述每个块的像素均值大于所述第一阈值时，确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数为曲线函数TRC2 ；所述曲线函数TRCl和所述曲线函数TRC2用于调整根据不同像素值划分的灰度区域。10.根据权利要求6至9中任一项所述的设备，其特征在于，第四确定单元具体用于按照以下等式确定所述第一像素点的调整像素值全文摘要本专利技术提供了处理图像的方法和设备。该方法包括确定当前帧图像中被掩膜覆盖的至少一个块本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种处理图像的方法，其特征在于，包括：确定当前帧图像中被掩膜覆盖的至少一个块，所述掩膜以所述当前帧图像中的第一像素点为中心，所述至少一个块是对所述当前帧图像进行划分得到的，所述块包括多个像素点；确定所述至少一个块中的每个块的像素均值，并根据所述每个块的像素均值确定所述每个块对应的灰度映射曲线函数；确定所述至少一个块中的每个块中被所述掩膜覆盖的部分的面积与所述掩膜的面积的比值；根据所述每个块中被所述掩膜覆盖的部分的面积与所述掩膜的面积的比值、所述每个块对应的灰度映射曲线函数以及所述第一像素点的原始像素值，确定所述第一像素点的调整像素值。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：郝韬，左坤隆，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：