检测方法及检测装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于阵列基板的检测方法和检测装置，其中，检测方法包括步骤：扫描阵列基板的缺陷，确定所述缺陷的尺寸；根据所述缺陷的尺寸，生成切换控制指令，将镜头切换至与所述缺陷尺寸相适应的放大倍率；采用切换后的所述镜头拍摄所述缺陷。本发明专利技术通过对扫描到的缺陷尺寸进行分析，根据缺陷尺寸切换拍摄镜头，使切换后的镜头能够拍摄到清晰、完整的缺陷图片，有利于对缺陷类型进行分析，有效提升了对缺陷的分析准确率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及到检测
，特别涉及用于液晶面板制程中阵列基板的检测方法及检测装置。
技术介绍
阵列基板是液晶面板的重要元件之一，在阵列基板的制程中，需要采用自动光学检测(Automatic Optic Inspection, AOI)系统对阵列基板进行检测。自动光学检测系统是基于光学原理来对阵列基板进行检测，其通过光学扫描装置自动扫描阵列基板，采集图像，检查出阵列基板上缺陷，并通过显示器或自动标志把缺陷显示或标示出来，供维修人员修复。目前常用的检测装置仅具有单一倍率的扫描镜头，在检测时通常采用该扫描镜头对阵列基板进行扫描拍照，当遇到的瑕疵太大时，超出了扫描视野，无法完整清晰的显示缺陷的图像；或当拍摄到的瑕疵部分太小时，所呈现的缺陷图像看不清缺陷，导致无法判断出正 确的缺陷类型。
技术实现思路
本专利技术的主要目的为提供一种可根据基板缺陷尺寸调整拍摄视野的检测方法和>J-U ρ α装直。本专利技术提出一种检测方法，用于检测阵列基板，包括步骤扫描阵列基板的缺陷，确定所述缺陷的尺寸；根据所述缺陷的尺寸，生成切换控制指令，将镜头切换至与所述缺陷尺寸相适应的放大倍率；采用切换后的所述镜头拍摄所述缺陷。优选地，所述将镜头切换至与所述缺陷尺寸相适应的放大倍率的步骤具体包括根据所述切换控制指令，控制镜头切换器移动，带动所述镜头切换器上的与所述缺陷尺寸相适应的放大倍率所对应的镜头移动至所述缺陷上方。优选地，所述将镜头切换至与所述缺陷尺寸相适应的放大倍率的步骤具体包括根据所述切换控制指令，调整所述镜头的放大倍率，使所述镜头的放大倍率与所述缺陷尺寸相适应。优选地，所述根据缺陷的尺寸，生成切换控制指令，将镜头切换至与所述缺陷尺寸相适应的放大倍率的步骤具体包括确定所述缺陷的尺寸所在的预设尺寸范围；根据所述预设尺寸范围，生成对应的切换控制指令；将镜头切换至与所述预设尺寸范围对应的放大倍率。优选地，所述将镜头切换至与所述缺陷尺寸相适应的放大倍率的步骤具体包括当所述缺陷的尺寸大于或等于100 μ m时，将镜头切换至5倍放大倍率；当所述缺陷的尺寸大于20 μ m且小于100 μ m时，将镜头切换至10倍放大倍率；当所述缺陷的尺寸小于或等于20 μ m时，将镜头切换至50倍放大倍率。本专利技术还提出一种检测装置，用于检测阵列基板，包括光学扫描仪、镜头切换器和镜头，所述光学扫描仪用于扫描阵列基板的缺陷，确定所述缺陷的尺寸；所述镜头切换器用于根据所述缺陷的尺寸，生成切换控制指令，并根据切换控制指令控制所述镜头切换至与所述缺陷尺寸相适应的放大倍率，并控制切换后的所述镜头拍摄所述缺陷。优选地，所述镜头切换器用于根据所述切换控制指令移动，带动所述镜头切换器上的与所述缺陷尺寸相适应的放大倍率所对应的镜头移动至所述缺陷上方。优选地，所述镜头切换器用于根据所述切换控制指令调整所述镜头的放大倍率，使所述镜头的放大倍率与所述缺陷尺寸相适应。优选地，所述镜头切换器具体包括尺寸范围确定单元，用于确定所述缺陷的尺寸所在的预设尺寸范围；切换控制指令生成单元，用于根据所述预设尺寸范围，生成对应的切换控制指令;放大倍率切换单元，用于将镜头切换至与所述预设尺寸范围对应的放大倍率。优选地，所述放大倍率切换单元进一步用于当所述缺陷的尺寸大于或等于100 μ m时，将镜头切换至5倍放大倍率；当所述缺陷的尺寸大于20 μ m且小于100 μ m时，将镜头切换至10倍放大倍率；当所述缺陷的尺寸小于或等于20 μ m时，将镜头切换至50倍放大倍率。本专利技术通过对扫描到的缺陷尺寸进行分析，根据缺陷尺寸切换拍摄镜头，确保切换后的镜头能够拍摄到清晰、完整的缺陷图片，有利于对缺陷类型进行分析，有效提升了对缺陷的分析准确率。附图说明图1为本专利技术检测方法的第一实施例的流程图；图2为本专利技术检测方法的第二实施例的流程图；图3为本专利技术检测方法的第三实施例的流程图；图4为本专利技术检测方法的第四实施例的流程图；图5为本专利技术检测方法的第五实施例的流程图；图6为本专利技术检测装置的第一实施例的结构示意图；图7为本专利技术检测装置的第二实施例的结构示意图。本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施例方式应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。如图1所示，图1为本专利技术检测方法的第一实施例的流程图。本实施例提到的检测方法，包括步骤步骤S101，扫描阵列基板的缺陷，确定缺陷的尺寸；本实施例中，阵列基板在进入检测装置后，由检测装置的光学扫描仪对阵列进行扫描，确定阵列基板上的缺陷数量和缺陷尺寸。步骤S102，根据缺陷的尺寸，生成切换控制指令，将镜头切换至与缺陷尺寸相适应的放大倍率；针对每一个缺陷，当缺陷尺寸较大时,减小镜头的放大倍率；当缺陷尺寸较小时，增大镜头的放大倍率。放大倍率的切换可采用切换镜头的方式，不同的镜头具有不同的放大倍率，或者采用放大倍率可调的镜头，对镜头的放大倍率进行调整。步骤S103，采用切换后的镜头拍摄缺陷。切换后的镜头相对于当前缺陷尺寸具备合适的视野，能够将当前缺陷拍摄清楚、完整。本实施例通过对扫描到的缺陷尺寸进行分析，根据缺陷尺寸切换拍摄镜头，确保切换后的镜头能够拍摄到清晰、完整的缺陷图片，有利于对缺陷类型进行分析，有效提升了对缺陷的分析准确率，提高了制程监控效果。如图2所示，图2为本专利技术检测方法的第二实施例的流程图。本实施例的检测方法包括步骤S201，扫描阵列基板的缺陷，确定缺陷的尺寸；本实施例中，阵列基板在进入检测装置后，由检测装置的光学扫描仪对阵列进行扫描，确定阵列基板上的缺陷数量和缺陷尺寸。步骤S202，根据缺陷的尺寸，生成切换控制指令；针对每一个缺陷，当缺陷尺寸较大时,切换控制指令指示减小镜头的放大倍率；当缺陷尺寸较小时，切换控制指令指示增大镜头的放大倍率。步骤S203，根据切换控制指令，控制镜头切换器移动，带动镜头切换器上的与缺陷尺寸相适应的放大倍率所对应的镜头移动至缺陷上方；本实施例采用切换不同的镜头，实现放大倍率的切换，将多个不同放大倍率的镜头排列于镜头切换器上，例如，放大倍率分别为50倍、20倍、10倍、5倍、2倍的镜头，可采用一字型排列，或采用圆形排列。当缺陷的尺寸较大时，可采用放大倍率较小的镜头，通过控制镜头切换器移动，带动5倍放大倍率的镜头移动至缺陷上方，采用5倍放大倍率的镜头拍摄缺陷的照片；当缺陷的尺寸较小时，采用放大倍率较大的镜头，通过控制镜头切换器移动，带动50倍放大倍率的镜头移动至缺陷上方，采用50倍放大倍率的镜头拍摄缺陷的照片。步骤S204，采用切换后的镜头拍摄缺陷。本实施例根据切换控制指令控制镜头切换器的移动，带动镜头移动，使适用于当前缺陷尺寸的镜头切换至当前缺陷上方，实现放大倍率的切换，确保切换后的镜头能够拍摄到清晰、完整的缺陷图片，有利于对缺陷类型进行分析，有效提升了对缺陷的分析准确率。如图3所示，图3为本专利技术检测方法的第三实施例的流程图。本实施例的检测方法包括步骤S301，扫描阵列基板的缺陷，确定缺陷的尺寸；本实施例中，阵列基板在进入检测装置后，由检测装置的光学扫描仪对阵列进行扫描，确定阵列基板上的缺陷数量和缺陷尺寸。步骤S302，根据缺陷的尺寸，生成切换控制指令；针对每一个缺陷，当缺陷尺寸较大本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测方法，用于检测阵列基板，其特征在于，包括步骤：扫描阵列基板的缺陷，确定所述缺陷的尺寸；根据所述缺陷的尺寸，生成切换控制指令，将镜头切换至与所述缺陷尺寸相适应的放大倍率；采用切换后的所述镜头拍摄所述缺陷。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林勇佑，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：