基于老化的部件使用度量制造技术

本文描述了IC的基于老化的部件的使用度量的实施例。在不同实施例中，IC可以包括不同部件以及用于度量部件使用的基于老化的使用度量电路。部件可以包括彼此不同的相应的关联使用向量，而使用度量电路可以包括彼此耦合、形成用于处理不同使用向量的不同处理路径的电路元件。此外，部件可以配置为一旦部件被使用就向基于老化的使用度量电路分别发送部件的不同的关联使用矢量。并且使用度量电路可以配置为处理使用向量。此外，使用度量电路的电路元件由于处理而随时间老化，使得能够基于电路元件的老化来确定部件的使用。可以描述和要求保护其他实施例。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】基于老化的部件使用度量相关申请本申请的主题涉及2009年4月17日递交的题为“USAGEMETERING BASED UPONHARDWARE AGING”的美国专利申请No. 12/426141的主题。
技术介绍
除非本文另外指出，否则本节中描述的素材不是本申请权利要求的现有技术，并且不应因包括在本节中而承认是现有技术。 通用图形、数字信号处理(DSP)和网络处理器、静态和动态随机存取存储器(SRAM和DRAM)、现场可编程门阵列(FPGA)和其他半导体设备和系统的设计、制造和运行时间管理的许多阶段由使用这些设备的应用及其属性来指导。通常重要的是，对设备和系统进行优化，使得在时间、面积和功率方面以高效且可靠的方式执行一般情况的操作和应用。具体地，通常重要的是，适当地断定设备或系统的哪些部件最经常使用。在制造易变性和部件老化(例如，由于针对门和晶体管的负偏置温度不稳定性(NBTI)和热载流子注入(HCI)以及针对互连的电子迁移)的情况下，应用属性也是集成电路优化的重要因素。长期压型(profiling)信息可以用于提高合成流提取的所有级别下的优化，包括体系结构、微体系结构、寄存器传送级、顺本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：米奥德拉格·波特科尼亚克，
申请(专利权)人：英派尔科技开发有限公司，
类型：
国别省市：