用于分析具有填料颗粒的橡胶混合物的方法技术

一种用于分析包含橡胶组分和填料颗粒的橡胶混合物的方法，其包括：STEM图像的获得步骤，其中通过使用扫描透射电子显微镜（STEM），获得橡胶混合物的STEM图像的数据；以及解析步骤，用于解析STEM图像或者基于STEM图像的原始数据的二次信息；其中在STEM图像的获得步骤中，扫描透射电子显微镜的焦点被设置在橡胶混合物试样的厚度中心区中。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，尤其涉及其中填料颗粒的分散性可被清楚地分析的方法。
技术介绍
通常，用于橡胶制品比如轮胎等中的橡胶混合物包含填料，比如炭黑、二氧化硅等作为增强剂。本领域众所周知的是，橡胶混合物中的这类填料颗粒的分散性会影响到橡胶混合物的特性比如强度。因此，人们希望橡胶混合物中的填料颗粒的分散性能被清楚地分析。因此，本专利技术的目的是提供一种，其中橡胶混合物中的填料颗粒的分散性可被清楚地分析。·
技术实现思路
根据本专利技术，用于分析包含橡胶组分和填料颗粒的橡胶混合物的方法包括STEM图像的获得步骤，其中，通过使用扫描透射电子显微镜(STEM)，获得橡胶混合物的STEM图像的数据，以及解析步骤，其用于解析STEM图像或基于STEM图像的原始数据的二次信息；其中，在STEM图像的获得步骤中，扫描透射电子显微镜的焦点被设置在橡胶混合物试样的厚度中心区。附图说明图I为橡胶混合物的简化实施例的横截面显微图。图2为用于说明作为本专利技术的实施方式的用于分析橡胶混合物的方法的流程图。图3为显示用于根据本专利技术的方法的扫描透射电子显微镜的视图。图4为显示用于暗场图像的散射角限制孔径的视图。图5为本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于分析包含橡胶组分和填料颗粒的橡胶混合物的方法，其包括：扫描透射电子显微镜STEM图像获取步骤，其中通过使用STEM获得所述橡胶混合物的STEM图像数据；以及解析步骤，用于解析所述STEM图像或者基于所述STEM图像原始数据的二次信息；其中，在所述STEM图像的获得步骤中，所述扫描透射电子显微镜的焦点被设置在橡胶混合物试样的厚度中心区。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：伊藤和加奈，内藤正登，
申请(专利权)人：住友橡胶工业株式会社，
类型：发明
国别省市：