量产同测方法技术

一种量产同测方法包括：使用用于测量数字信号的电桥以及窗口比较器来测试模拟输出电压信号；其中使用电桥来拉灌电流，使用窗口比较器用于获取测试结果，从而可以根据窗口比较器的测试结果判断是否通过测试。本发明专利技术提供了一种能够以简单的用于测量数字信号的电桥以及窗口比较器来实现模拟输出电压信号的快速量产测试的量产同测方法。而且，在带负载下的模拟输出电压信号测试的情况下，根据本发明专利技术的量产同测方法在无需为每个引脚配置一个精密测量单元的情况下实现快速带负载下的模拟输出电压信号测试，能够在多点测试的情况下执行并行测试，由此节省了大量的测试时间。

【技术实现步骤摘要】
量产同测方法
本专利技术涉及测试领域，更具体地说，本专利技术涉及一种高效的量产同测方法。
技术介绍
在电路设计与制造过程中，需要对晶圆、裸片或者电路进行大量测试。在大批量生产电路的情况下，需要进行量产测试。具体地说，例如在电路测试时会遇到要测试带负载下的模拟输出电压信号(例如稳压管的输出)或者需要进行开短路测试(OPEN/SHORT测试，O/S测试)的情况。其中，开短路测试就是测试开路与短路，具体点说就是测试一个电子器件应该连接的地方是否连接，如果没有连接上就是开路，如果不应该连接的地方连接了就是短路。在晶圆制造领域，开短路测试可用来测试探针与晶圆上的焊盘(PAD)是否良好接触。一般，为了进行并行的带负载下的模拟输出电压信号测试，需要为每个引脚配置一个精密测量单元，但是，每个引脚配置一个精密测量单元需要花费较高的成本，而一般的测试装置不会进行如此昂贵的配置。如果测试仪没有为每个引脚配置一个精密测量单元，则无法进行并行的带负载下的模拟输出电压信号测试；这样的话，只能依次对各个引脚进行带负载下的模拟输出电压信号测试；由此，当存在大量裸片(die)需要测试，将耗费大量的时间。对于上述情况以及与上述情况类似的情况，则无法以简单方式实现快速量产测试。因此，希望能够提供一种以简单方式实现快速量产测试的技术方案。例如，希望能够提供一种在无需为每个引脚配置一个精密测量单元的情况下实现快速带负载下的模拟输出电压信号测试的技术方案。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是针对现有技术中存在上述缺陷，提供一种能够在以简单方式实现模拟输出电压信号的快速量产测试的量产同测方法。为了实现上述技术目的，根据本专利技术，提供了一种量产同测方法，其包括：量产同测方法，其包括：使用用于测量数字信号的电桥以及窗口比较器来测试模拟输出电压信号；其中使用电桥来拉灌电流，使用窗口比较器用于获取测试结果，从而可以根据窗口比较器的测试结果判断是否通过测试；其中，电桥包括第一二极管、第二二极管、第三二极管、以及第四二极管，其中，第一二极管和第二二极管的输入端相连，第三二极管和第四二极管的输出端相连，第一二极管连接至第四二极管的输入端，第二二极管的输出端连接至第三二极管的输入端；其中，第一二极管与第二二极管之间的连接点连接至第一灌电流，第二二极管与第三二极管之间的连接点连接至待测器件；第三二极管与第四二极管之间的连接点连接至第二灌电流；第四二极管与第一二极管之间的连接点连接至基准电压。优选地，根据测试确定所述第一参考电压的数值以及所述第二参考电压的数值。优选地，根据测试确定根据测试确定所述基准电压的大小、所述第一灌电流的大小、以及所述第二灌电流的大小。优选地，所述量产同测方法用于开短路测试或者带负载下的模拟输出电压信号。优选地，所述量产同测方法用于负载驱动的电压测试。优选地，所述量产同测方法用于稳压管的负载驱动能力测试。优选地，当待测器件的连接端的电势小于第二参考电压，测试结果表示测试失败；当待测器件的连接端的电势大于第一参考电压，测试结果表示测试失败；当待测器件的连接端的电势不小于第二参考电压且不大于第一参考电压时，测试结果测试通过。本专利技术提供了一种能够以简单的用于测量数字信号的电桥以及窗口比较器来实现模拟输出电压信号的快速量产测试的量产同测方法。而且，在带负载下的模拟输出电压信号测试的情况下，根据本专利技术的量产同测方法在无需为每个引脚配置一个精密测量单元的情况下实现快速带负载下的模拟输出电压信号测试，能够在多点测试的情况下执行并行测试，由此节省了大量的测试时间。附图说明结合附图，并通过参考下面的详细描述，将会更容易地对本专利技术有更完整的理解并且更容易地理解其伴随的优点和特征，其中：图1示意性地示出了根据本专利技术实施例的量产同测方法。图2示意性地示出了根据本专利技术实施例的量产同测方法的测试结果判断的一个具体示例。需要说明的是，附图用于说明本专利技术，而非限制本专利技术。附图中，相同或者类似的元件标有相同或者类似的标号。具体实施方式为了使本专利技术的内容更加清楚和易懂，下面结合具体实施例和附图对本专利技术的内容进行详细描述。虽然精密测量单元可以精确地测量模拟输出电压信号的确切值，但是在很多情况下(例如稳压管的输出量测量的情况下)，无需测量模拟输出电压信号的精确值，而只需测量模拟输出电压信号是否处理合格的范围内。由此，本专利技术的专利技术人提出通过现有技术中结构简单的用于测量数字信号的电桥以及窗口比较器来实现模拟输出电压信号的快速量产测试。具体地说，图1示意性地示出了根据本专利技术实施例的量产同测方法。具体地说，例如，图1所示的根据本专利技术实施例的量产同测方法可用于测试探针与晶圆上的焊盘之间的连接。但是，开短路测试或者带负载下的模拟输出电压信号测试都只是一个例子而已，图1所示的根据本专利技术实施例的量产同测方法实际上可用于各种高效的量产测试，例如通常还可用于需要负载驱动的电压测试，比如稳压管的负载驱动能力测试等。更具体地说，如图1所示，根据本专利技术实施例的量产同测方法包括：使用用于测量数字信号的电桥以及窗口比较器来测试模拟输出电压信号；其中使用电桥来拉灌电流，使用窗口比较器用于获取测试结果，从而可以根据窗口比较器的测试结果判断是否通过测试。其中，电桥包括第一二极管D1、第二二极管D2、第三二极管D3、以及第四二极管D4。其中，第一二极管D1和第二二极管D2的输入端相连，第三二极管D3和第四二极管D4的输出端相连，第一二极管D1连接至第四二极管D4的输入端，第二二极管D2的输出端连接至第三二极管D3的输入端。其中，第一二极管D1与第二二极管D2之间的连接点连接至第一灌电流IOL，第二二极管D2与第三二极管D3之间的连接点连接至待测器件DUT1；第三二极管D3与第四二极管D4之间的连接点连接至第二灌电流IOH；第四二极管D4与第一二极管D1之间的连接点连接至基准电压VREF。由此，通过控制第一灌电流IOL和第二灌电流IOH即可控制待测器件DUT1的输出电流或者输入电流的大小。更具体地说，其中，当基准电压VREF小于待测器件DUT1的输出电压时，待测器件DUT1向外输出电流；当基准电压VREF大于待测器件DUT1的输出电压时，电流流向待测器件DUT1。其中，基准电压VREF的大小、第一灌电流IOL的大小、以及第二灌电流IOH的大小根据测试情况而定。例如，在图1所示的情况中，第一灌电流IOL的大小以及第二灌电流IOH的大小使得待测器件DUT1向第二二极管D2输入-100uA的电流。窗口比较器包括第一比较器M1和第二比较器M2。其中，第一比较器M1的反相输入端以及第二比较器M2的正向输入端连接至待测器件DUT1；第一比较器M1的正向输入端连接至第一参考电压VOH，第二比较器M2的反相输入端连接至第二参考电压VOL，而且其中第一参考电压VOH大于第二参考电压VOL。其中，第一参考电压VOH的具体数值以及第二参考电压VOL的具体数值根据测试情况而定。例如，如果认为输出电压值处于1.6V至1.9V之前则判定模拟输出电压信号是合格，则可以将第一参考电压VOH设置为1.9V，将第二参考电压VOL设置为1.6V。由此，窗口比较器根据第一比较器M1和第二比较器M2的输出结果来获取测试结果VoutComp。图2示意性地示出本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种量产同测方法，其特征在于包括：使用用于测量数字信号的电桥以及窗口比较器来测试模拟输出电压信号；其中使用电桥来拉灌电流，使用窗口比较器用于获取测试结果，从而可以根据窗口比较器的测试结果判断是否通过测试；其中，电桥包括第一二极管、第二二极管、第三二极管、以及第四二极管，其中，第一二极管和第二二极管的输入端相连，第三二极管和第四二极管的输出端相连，第一二极管连接至第四二极管的输入端，第二二极管的输出端连接至第三二极管的输入端；其中，第一二极管与第二二极管之间的连接点连接至第一灌电流，第二二极管与第三二极管之间的连接点连接至待测器件；第三二极管与第四二极管之间的连接点连接至第二灌电流；第四二极管与第一二极管之间的连接点连接至基准电压。

【技术特征摘要】
1.一种量产同测方法，其特征在于包括：使用用于测量数字信号的电桥以及窗口比较器来测试模拟输出电压信号；其中使用电桥来拉灌电流，使用窗口比较器用于获取测试结果，从而可以根据窗口比较器的测试结果判断是否通过测试；其中，电桥包括第一二极管、第二二极管、第三二极管、以及第四二极管，其中，第一二极管和第二二极管的输入端相连，第三二极管和第四二极管的输出端相连，第一二极管连接至第四二极管的输入端，第二二极管的输出端连接至第三二极管的输入端；其中，第一二极管与第二二极管之间的连接点连接至第一灌电流，第二二极管与第三二极管之间的连接点连接至待测器件；第三二...

【专利技术属性】
技术研发人员：王磊，
申请(专利权)人：上海宏力半导体制造有限公司，
类型：发明
国别省市：