【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种层合结构的老化失效机理的实验分析方法，尤其涉及一种利用临界积分值来分析层合结构中分子迁移或聚合物本体材料老化导致的性能退化失效机理的实验方法。
技术介绍
由两种或多种聚合物材料组成的层合结构广泛应用于航天、机械等领域，在实际的贮存与使用环境中，由于温度、湿度、氧扩散速率以及组份迁移等多种因素的影响，层合结构出现非均匀老化。在实际应用中，层合结构的老化失效往往表现为粘接界面脱粘，而结构失效的机理又与聚合物中添加的小分子迁移和聚合物本体材料老化导致的性能退化相关，如何判定占优的失效机理对改进材料设计以改善结构耐老化性能具有重要意义。目前，对于判断老化的主要原因，以及非均匀老化的趋势一般都是采用化学，材料学的方法，工序繁琐，成本高昂，而且层合结构中小分子迁移和聚合物本体材料老化导致的性能退化往往耦合作用，不宜区分，因此寻找一种简单的实验测试方法是研究层合结构老化失效机理所需要解决的问题。
技术实现思路
针对现有技术存在的问题，本专利技术提供一种简单的聚合物层合结构老化失效机理的实验分析方法。本专利技术的目的是通过如下技术方案实现的 本专利技术的层合结构a...
【技术保护点】
一种聚合物层合结构老化失效机理的实验分析方法，其特征在于所述方法为：层合结构a由两种或多种聚合物材料组成，将采用上述单一材料组成的试件在界面处切割后重新粘结成层合结构b，通过测定不同老化时间的临界???????????????????????????????????????????????积分值，绘制出老化曲线，通过对层合结构a与层合结构b两条老化曲线的比较，判定出界面老化的主要机理。2012104798280100001dest_path_image002.jpg
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：谢志民，陈思驰，王友善，阎相桥，刘宇艳，万志敏，
申请(专利权)人：哈尔滨工业大学，
类型：发明
国别省市：
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