【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学检测领域，涉及一种，尤其涉及一种强。
技术介绍
神光III主机装置中，主光路中激光束在到达靶点前，要经过逐级放大、传输、整形与取样，最后才能到达靶点。在传输光路的某处，要监视此处激光光束的质量，通常可通过对取样激光光路中激光焦斑光强分布的测量，进而分析传输激光的特性，因此，激光焦斑光强分布的测量十分重要。 传统的测试方法将CXD或感光纸放置在待测激光焦斑处，由CXD或感光纸感光成像，进而获取激光焦斑的光强分布。CCD虽可定量测试激光焦斑的光强分布,但对于强激光，采用CCD直接测量可能将CCD“致盲”，测试风险较大。同时，一般CCD前端的刻窗为平行玻璃，容易产生干涉，影响测量结果；采用感光纸测试风险小，但其测出焦斑光强分布图需经过专业的设备转化，才能得到量化的光强分布，中间转化误差较大，且耗时耗力，实用性差。
技术实现思路
为了解决
技术介绍
中存在的上述问题，本专利技术提出了一种集成度高、结构紧凑以及自动化程度高的。本专利技术的技术解决方案是本专利技术提供了一种激光焦斑光强分布测试装置，其特殊之处在于所述激光焦斑光强分布测试装置包括中继镜、衰减契板、调...
【技术保护点】
一种激光焦斑光强分布测试装置，其特征在于：所述激光焦斑光强分布测试装置包括中继镜、衰减契板、调整架以及设置在调整架上的CCD；待测激光焦斑以及所述中继镜、衰减契板以及CCD处于依次处于同一光轴上。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈永权，段亚轩，赵建科，李坤，胡丹丹，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：
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