【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及基于点目标的地气杂散光引起的低轨空间相机光学遥感器像面的杂散光照度的计算方法，具体涉及一种把地球看做扩展面杂光源的杂散光照度计算方法。
技术介绍
在低轨空间环境中存在大量的碎片与残骸等人造空间目标，严重威胁空间飞行器的飞行安全，并且对新卫星的发射也存在潜在的威胁，因此，对低轨空间目标进行光电探测与识别具有重要的意义。空间目标本身不发光，只能利用其反射太阳光的特性进行探测，因此目标信号较弱，并且由于目标的尺寸小，在探测器靶面上成点像，与背景对比度较小。为了使光电探测系统满足一定的信噪比，实现对目标的探测，要求光电探测系统具有很高的杂光抑制能力。对于空间相机,工作时视场外的太阳光、地物散射光和大气漫射光等外部辐射源·可能直接或间接地在探测器像面形成杂光，产生假信号，使观测相机像面的对比度和信噪比下降，降低其探测性能，某些情况下甚至会造成系统失效，故正确分析这些杂光源在相机像平面的杂光照度至关重要。在空间光学遥感器杂光分析中，通常把杂光光源作为空间相机视场外的点光源来分析其在像平面的杂光照度。对于太阳、月光等强烈的杂光源，由于距离空间相机很远，可以作为点...
【技术保护点】
一种地气杂散光对低轨空间相机的杂散光照度分析方法，依次包括下述步骤：将地球球面分为若干单位面元以作为点杂源，面元的边长远小于卫星轨道高度；根据立体角投影定理将地球球面简化为平面模型，用于简化面积分计算的复杂度；确定平面M内的有效杂光区域，用于确定对空间相机光学遥感器像面的杂散光有效区域；计算有效杂光区域内各面元在空间相机入口垂直于入射方向的照度ΔEs；计算空间相机在不同方位角和离轴角下对应的点光源透过率系数PST(ω,α)值；计算平面M内有效杂光区域的地气光在像面的杂光照度E杂=∑ΔEs？PST(ω,α)。
【技术特征摘要】
1.一种地气杂散光对低轨空间相机的杂散光照度分析方法，依次包括下述步骤将地球球面分为若干单位面元以作为点杂源，面元的边长远小于卫星轨道高度；根据立体角投影定理将地球球面简化为平面模型，用于简化面积分计算的复杂度；确定平面M内的有效杂光区域，用于确定对空...
【专利技术属性】
技术研发人员：杜玉军，辛维娟，贺应红，陈海滨，吕宏，高明，王青松，李建超，
申请(专利权)人：西安工业大学，
类型：发明
国别省市：
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