一种LED光分布特性测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种LED光分布特性的测试装置。所要解决的技术问题是提供的装置应具有结构简单、成本较低，能够快速测量LED光分布特性、分析LED颗粒及LED阵列发光缺陷的LED光分布特性测试装置的特点。技术方案是：一种LED光分布特性测试装置，包括计算机；其特征在于该装置还包括一可调支架、固定在可调支架上的LED、通过导线接通LED的驱动电源、正向面对着LED发光面的漫射透光屏、位于漫射透光屏背面的光学扫描仪，所述光学扫描仪与计算机通过数据线连通。所述的可调支架包括底座、安装在底座上的垂直杆、通过可调节的十字夹固定在垂直杆上的水平杆以及固定在水平杆前端用于固定LED的光源夹。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种电光源测试装置，尤其是LED光分布特性的测试装置。
技术介绍
LED是发光二极管的简称，是一种电致发光器件，即P — N结发光，属于固态光源。LED被称为第四代照明光源或绿色光源，因其节能环保、体积小寿命长等优点，已经广泛应用于显示、装饰、城市夜景、道路等特殊照明领域。LED发光具有方向性及分布不均匀的特点，其光分布特性是分析和评价LED性能的重要指标。实验室通过测量LED光强分布图，经过换算获得LED的光均匀性参数来分析 LED的发光及照明效果。生产企业筛选LED和检验机构检验时都有必要对LED进行光分布特性测试，进而判断LED质量优劣。目前LED光分布特性的测量设备主要是分布光度计。然而分布光度计往往尺寸庞大、设计结构复杂、操作步骤繁琐、成本高昂，测试光分布特性的速度缓慢；另外，分布光度计一次只能测试一个LED光源，对大批量小尺寸的LED进行检测的时效性与性价比都很低，而且现有的分布光度计技术也不支持对多颗LED或LED阵列的光分布特性进行同步测试。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是克服上述
技术介绍
的不足，提供一种结构简单、成本较低，能够快速测量LED光分布特本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种LED光分布特性测试装置，包括计算机（6）；其特征在于该装置还包括一可调支架、固定在可调支架上的LED（3）、通过导线（21）接通LED的驱动电源（2）、正向面对着LED发光面的漫射透光屏（4）、位于漫射透光屏背面的光学扫描仪（5），所述光学扫描仪与计算机通过数据线（51）连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：朱腾飞，蒋一成，张俊，蔡怡，
申请(专利权)人：杭州市质量技术监督检测院，
类型：实用新型
国别省市：