一种LED光分布特性测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种LED光分布特性的测试装置。所要解决的技术问题是提供的装置应具有结构简单、成本较低，能够快速测量LED光分布特性、分析LED颗粒及LED阵列发光缺陷的LED光分布特性测试装置的特点。技术方案是：一种LED光分布特性测试装置，包括计算机；其特征在于该装置还包括一可调支架、固定在可调支架上的LED、通过导线接通LED的驱动电源、正向面对着LED发光面的漫射透光屏、位于漫射透光屏背面的光学扫描仪，所述光学扫描仪与计算机通过数据线连通。所述的可调支架包括底座、安装在底座上的垂直杆、通过可调节的十字夹固定在垂直杆上的水平杆以及固定在水平杆前端用于固定LED的光源夹。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种电光源测试装置，尤其是LED光分布特性的测试装置。
技术介绍
LED是发光二极管的简称，是一种电致发光器件，即P — N结发光，属于固态光源。LED被称为第四代照明光源或绿色光源，因其节能环保、体积小寿命长等优点，已经广泛应用于显示、装饰、城市夜景、道路等特殊照明领域。LED发光具有方向性及分布不均匀的特点，其光分布特性是分析和评价LED性能的重要指标。实验室通过测量LED光强分布图，经过换算获得LED的光均匀性参数来分析 LED的发光及照明效果。生产企业筛选LED和检验机构检验时都有必要对LED进行光分布特性测试，进而判断LED质量优劣。目前LED光分布特性的测量设备主要是分布光度计。然而分布光度计往往尺寸庞大、设计结构复杂、操作步骤繁琐、成本高昂，测试光分布特性的速度缓慢；另外，分布光度计一次只能测试一个LED光源，对大批量小尺寸的LED进行检测的时效性与性价比都很低，而且现有的分布光度计技术也不支持对多颗LED或LED阵列的光分布特性进行同步测试。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是克服上述
技术介绍
的不足，提供一种结构简单、成本较低，能够快速测量LED光分布特性、分析LED颗粒及LED阵列发光缺陷的LED光分布特性测试装置。本技术所采用的技术方案为一种LED光分布特性测试装置，包括计算机；其特征在于该装置还包括一可调支架、固定在可调支架上的LED、通过导线接通LED的驱动电源、正向面对着LED发光面的漫射透光屏、位于漫射透光屏背面的光学扫描仪，所述光学扫描仪与计算机通过数据线连通。所述的可调支架包括底座、安装在底座上的垂直杆、通过可调节的十字夹固定在垂直杆上的水平杆以及固定在水平杆前端用于固定LED的光源夹。所述的LED的发光面竖直朝下，所述漫射透光屏水平定位在LED的下边且覆盖在光学扫描仪的扫描台上。所述漫射透光屏是磨砂PC膜板或毛玻璃。所述漫射透光屏尺寸与所述的光学扫描仪的扫描台尺寸相同。本技术的工作原理是接通电源后，LED发出的光线近距离照射到所述的漫射透光屏后，在所述的漫射透光屏朝向扫描台的一面(即漫射透光屏的背面)形成与LED光分布相对应的明暗光斑；计算机通过扫描软件控制所述的光学扫描仪扫描光斑获取图像后，经图像处理软件处理就获得LED光强分布图，即可用于直观判定LED光分布特性。本技术的有益效果是由于以光学扫描仪作为LED探测器件，且以计算机处理图像，可迅速得到LED光强分布图，进而能够直观判定LED光分布特性。该装置支持多颗LED同时同步测量光分布特性，能够对单颗LED的发光缺陷、LED阵列中的LED排列情况和光分布均匀性进行诊断式分析，特别适用于批量LED光源的光分布特性快速检测。另外，整套装置结构简单，操作便捷，成本极低。附图说明图I为本技术的结构示意图。图2为测量单个LED得到的光强分布图。图3为测量LED阵列得到的光强分布图。具体实施方式以下结合附图所示的实施例对本技术作进一步说明。 如图I所示的LED光分布特性测试装置中可调支架的底座I上安装着垂直杆11，水平杆13通过十字夹12安装在垂直杆上；通过转动十字夹上的旋钮可调节水平杆13高度；水平杆13前端(图中的右端)安装光源夹14，LED3通过光源夹夹紧固定于漫射透光屏4的上方；LED的发光面正对漫射透光屏4 (图中显示LED的发光面方向是竖直向下，由箭头A表示)；调节十字夹可使LED3与漫射透光屏4保持测试所需的距离。驱动电源2通过导线21连接并点亮LED，LED发出的发散光线，近距离照射到下方的漫射透光屏4，在漫射透光屏朝向光学扫描仪5的扫描台一面形成与LED发光方向、发光强度相对应的明暗光斑,光斑包含LED的光分布信息。漫射透光屏水平放置并包覆着光学扫描仪的扫描台区域，光学扫描仪扫描并记录漫射透光屏4上的LED3的光斑。光学扫描仪通过与计算机6连接的数据线51,将光斑信号传输到计算机；由于光斑与LED发光角度、发光强度存在对应关系；计算机通过图像分析软件及相关程序计算，即可将包含LED光分布信息的光斑图转换为某一发光面上的光强分布图(如图2所示)。测试多颗LED形成的LED阵列，光源夹上需接通LED阵列；通过光学扫描仪扫描、计算机处理后获得的光强分布图(如图3所示)。所述漫射透光屏，应选取对LED发出的光线具有一定的漫射效应和透射效应的材料(对LED光的透光率为I. 5%-80%);具体材料可以是磨砂PC (聚碳酸酯塑料)膜板(厚度O.或是毛玻璃(厚度2mm-4mm)等。所述漫射透光屏尺寸与所述的光学扫描仪的扫描台尺寸最好相同(一致)。作为推荐，所述的光学扫描仪具有300dpi以上的像素分辨率，216mmX 297mm的扫描尺寸。所述驱动电源包括用于驱动LED的直流电源和交流电源；推荐选用输出电源大小可调的驱动电源。以上所述的各种电气元件及机械零部件可全部外购获得。最后还需注意的是，以上列举的仅是本技术的具体实施例子。显然，本技术不限于上述实施例子，还可以有许多功能扩展，光源结构和数量的变化、其它类似光源的更换等扩展均应认为是本技术的保护范围。权利要求1.一种LED光分布特性测试装置，包括计算机(6);其特征在于该装置还包括一可调支架、固定在可调支架上的LED (3 )、通过导线(21)接通LED的驱动电源(2 )、正向面对着LED发光面的漫射透光屏(4)、位于漫射透光屏背面的光学扫描仪(5)，所述光学扫描仪与计算机通过数据线(51)连接。2.根据权利要求I所述的一种LED光分布特性测试装置，其特征在于所述的可调支架包括底座(1)、安装在底座上的垂直杆(11)、通过可调节的十字夹(12)固定在垂直杆上的水平杆(13)以及固定在水平杆前端用于固定LED的光源夹(14)。3.根据权利要求I或2所述的一种LED光分布特性测试装置，其特征在于所述的LED的发光面竖直朝下，所述漫射透光屏水平定位在LED的下边且覆盖在光学扫描仪的扫描台上。4.根据权利要求3所述的一种LED光分布特性测试装置，其特征在于所述漫射透光屏是磨砂PC膜板或毛玻璃。5.根据权利要求4所述的一种LED光分布特性测试装置，其特征在于所述漫射透光屏尺寸与所述的光学扫描仪的扫描台尺寸相同。专利摘要本技术涉及一种LED光分布特性的测试装置。所要解决的技术问题是提供的装置应具有结构简单、成本较低，能够快速测量LED光分布特性、分析LED颗粒及LED阵列发光缺陷的LED光分布特性测试装置的特点。技术方案是一种LED光分布特性测试装置，包括计算机；其特征在于该装置还包括一可调支架、固定在可调支架上的LED、通过导线接通LED的驱动电源、正向面对着LED发光面的漫射透光屏、位于漫射透光屏背面的光学扫描仪，所述光学扫描仪与计算机通过数据线连通。所述的可调支架包括底座、安装在底座上的垂直杆、通过可调节的十字夹固定在垂直杆上的水平杆以及固定在水平杆前端用于固定LED的光源夹。文档编号G01J1/00GK202676282SQ20122027046公开日2013年1月16日 申请日期2012年6月6日 优先权日2012年6月6日专利技术者朱腾飞, 蒋一成, 张俊, 蔡怡 申请人:杭州市质量技术监督检测院本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种LED光分布特性测试装置，包括计算机（6）；其特征在于该装置还包括一可调支架、固定在可调支架上的LED（3）、通过导线（21）接通LED的驱动电源（2）、正向面对着LED发光面的漫射透光屏（4）、位于漫射透光屏背面的光学扫描仪（5），所述光学扫描仪与计算机通过数据线（51）连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：朱腾飞，蒋一成，张俊，蔡怡，
申请(专利权)人：杭州市质量技术监督检测院，
类型：实用新型
国别省市：