基于胶片的激光光强响应范围测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种基于胶片的激光光强响应范围测量装置，该测量装置包括暗室、激光器、快门装置、积分球、胶片暗盒以及功率计；快门装置以及积分球依次设置在激光器的出射光路上；积分球包括第一出口以及第二出口；第一出口设置有胶片暗盒；第二出口电性连接功率计；激光器、快门装置、积分球以及胶片暗盒共同处于暗室中。本实用新型专利技术提供了一种基于胶片的激光光强响应范围测量装置，此装置可以对胶片的激光光强响应范围进行测试，以便提前匹配好胶片测量光路激光光强衰减片的衰减倍率完成可对目标光学元件的损伤测试。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于光学领域，涉及一种基于胶片的激光光强响应范围测量装置。
技术介绍
高功率激光系统的特点是激光的功率高、能量大、传输过程中需要大量的光学元件。由于激光的功率高、能量大，在激光的传输以及实验过程中就容易对光学元件造成损伤，特别是关键位置上的光学元件，损伤的光学元件对传输经过的激光光束质量会产生较大的影响，例如激光近场、激光波前等激光参数。为了完成对装置中此类关键元件的监视以及元件损坏程度的测量，就需要在激光参数测量系统加入对此种情况的监视测量光路。 由于CCD等光电探测器靶面尺寸的限制，难以一发次完成损伤光学元件的全口径监视测量，因此就需要大靶面的胶片来完成光学元件的损伤检测。激光装置中所涉及的波长有三种近红外光、可见光和紫外光。胶片在不同的波长处其感光灵敏度以及对激光光强的响应范围也是有差异的。由于胶片对激光光强的响应范围是未知的，因此在装置进行物理实验的过程中，在同等的激光功率和能量下需要进行多个发次的物理实验以便更换胶片光路中不同衰减倍率的衰减片来适应胶片的最佳响应值，这一过程对装置的实验成本以及时间的利用等都是不经济的。因此，通过胶片的激光光强响应范围测量装置提前完成本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于胶片的激光光强响应范围测量装置，其特征在于：所述基于胶片的激光光强响应范围测量装置包括暗室、激光器、快门装置、积分球、胶片暗盒以及功率计；所述快门装置以及积分球依次设置在激光器的出射光路上；所述积分球包括第一出口以及第二出口；所述第一出口设置有胶片暗盒；所述第二出口电性连接功率计；所述激光器、快门装置、积分球以及胶片暗盒共同处于暗室中。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李红光，张彭舜，达争尚，董晓娜，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：实用新型
国别省市：