一种光强测试设备制造技术

本发明专利技术公开了一种光强测试设备，为了解决现有技术中存在的无法对被测设备进行光强测试的问题，本发明专利技术实施例提供一种光强测试设备，光强测试设备包括光源和光强测试器，其中光源发射的光线经过第一光路，经被测设备反射后经过第二光路，光强测试器的光接收面位于第一光路之外且位于第二光路之上，由于通过光源和光强测试器采用反射的方式进行测试，从而实现光强测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶面板技术，尤其涉及一种光强测试设备。
技术介绍
随着薄膜场效应晶体管液晶显示(TFT-IXD)技术的发展和工业技术的进步，液晶显示器件生产成本降低、制造工艺的日益完善，使其成为当前显示领域的主流技术。LCD是所有显示器中耗电较低的产品，特别是反射型TFT-LCD，由于取消了背光源，其功耗比透射 式TFT-LCD低了一个数量级。传统透射型液晶显示器在光强测试时，是由背面照射，正面测试的方法进行光强测试，而反射型薄膜场效应晶体管液晶显示器或没有背光源的其它被测设备，由于没有背光源无法按照上述的方法进行光强测试。由此可见现有技术中存在无法对没有背光源的被测设备进行光强测试的问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种光强测试设备，解决现有技术中存在的无法对没有背光源的被测设备进行光强测试的问题。本专利技术提供一种光强测试设备，光强测试设备包括光源和光强测试器，其中光源发射的光线经过第一光路，经被测设备反射后经过第二光路，光强测试器的光接收面位于第一光路之外，且能够接收第二光路上的光。优选地，所述被测设备为反射型液晶面板。优选地，还包括光反射板,其中光源发射的光线经光反本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光强测试设备，其特征在于，光强测试设备包括光源和光强测试器，其中光源发射的光线经过第一光路，经被测设备反射后经过第二光路，光强测试器的光接收面位于第一光路之外，且能够接收第二光路上的光。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张弥，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：