一种共聚焦光学扫描仪制造技术

本实用新型专利技术涉及一种共聚焦光学扫描仪，特别涉及使用CCD、EMCCD、CMOS和sCOMS等面阵检测器作为检测单元的、应用于生物荧光显微成像的共聚焦光学扫描仪。该共聚焦光学扫描仪的主要特征是：光路里放置了照明针孔阵列滑块和成像针孔阵列滑块，且两个阵列滑块上排列的针孔一一对应；所述成像针孔阵列滑块位于显微镜物镜的成像焦平面，只透过位于显微镜物镜的焦平面的样品发射的荧光，且不反射光源发射的光，；由电机驱动照明针孔阵列滑块和成像针孔阵列滑块以设定的速度往复滑动，实现对样品的扫描成像。因此，该共聚焦光学扫描仪具有扫描速度快、零杂散光背景噪声、照明强度均一等优点，同时该共聚焦光学扫描仪的扫描与检测器的曝光易于实现同步控制。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种共聚焦光学扫描仪，特别涉及使用CCD、EMCCD和CMOS等面阵探测器作为检测器的共聚焦光学扫描装置。
技术介绍
目前，已有的使用CCD、EMCCD和CMOS等面阵探测器作为检测器的共聚焦光学扫描装置，主要通过排列多个透光针孔的单转盘的旋转，或排列多个透光针孔的单滑块的往复滑动来实现对样品的扫描成像，光源发射的光直接照射在转盘或滑块上，有超过96%的光被转盘或滑块反射，造成杂散光噪声高的问题。通过在光源与转盘或滑块之间放置微透镜阵列，可以降低转盘或滑块对光源的反射，但是微透镜阵列制作费用过高、难以制造和尺寸限制等问题使之难以推广。
技术实现思路
本技术为解决杂散光噪声高的问题，所采用的技术方案是光路里放置了照明针孔阵列滑块和成像针孔阵列滑块，且这两个针孔阵列具有相同的针孔排列方式，所有针孔为一一对应关系。照明针孔阵列滑块的不透光部分，将光源发射的未透过针孔的光反射，使其不进入成像光路，所以避免了杂散光噪声高的问题。本技术如图I所示包括光源I ;激发滤色镜2 ;准直透镜组3 ;照明针孔阵列滑块4，其上排列了多个透光的针孔5 ;滑块支架6 ;电机7 ;二色分光镜8 ;成像针孔本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种共聚焦光学扫描仪，放置了照明针孔阵列滑块和成像针孔阵列滑块，使光源发射的光透过所述照明针孔阵列滑块上的所述针孔，照明位于显微镜的物镜焦平面的样品，所述照明针孔阵列滑块和所述成像针孔阵列滑块排列了一一对应的、透光的针孔；所述样品发射的荧光透过所述成像针孔阵列滑块的所述针孔，被面阵检测器记录成像；所述照明针孔阵列滑块和所述成像针孔阵列滑块由电机驱动，同时以设定的速度往复滑动，实现对所述样品的共聚焦扫描成像。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：赖博，
申请(专利权)人：赖博，
类型：实用新型
国别省市：