测量高钙质材料中总铁含量过程中沉积和悬浮物的消除方法技术

本发明专利技术公开了一种测量高钙质材料中总铁含量过程中沉积和悬浮物的消除方法，先配置高钙质材料溶液、待显色完全后加入酸溶液。其中，先配置的溶液是在100ml容量瓶里配置50ml～80ml的溶液；等待显色完全的时间为20～30分钟；酸溶液是pH为2.5～4的酸溶液50ml～1ml；酸溶液是电离出H+的酸性溶液；酸溶液是与溶解高钙质材料所用的酸溶液的浓度相同但pH值不同的同一种酸溶液。本发明专利技术能够减少和消除在测量中产生的沉积物和悬浮颗粒，减少等待沉积时间，提高测量的准确度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及化学分析
，尤其涉及一种。
技术介绍
使用邻菲罗啉分光光度法测量物质中总铁是一种比较简便的测量方法。 邻菲罗啉分光光度法是利用测量材质中的铁含量是利用二价铁在pH值为2 9的溶液中与邻菲罗啉反映生成橙红色络合物，再应用分光光度计在510nm处进行测量，从而得到铁含量的一种方法。常规技术在使用邻菲罗啉分光光度法测量物质中总铁含量的时候，首先建立三氧化二铁的标准曲线，然后对试样进行溶解处理，置入IOOml容量瓶，依次加入4ml酒石酸、I 2滴对硝基酚、滴加(1+1)氨水调制黄色、立即滴加盐酸至无色(此时pH值近似5)、力口2ml盐酸氢胺、IOml邻菲罗啉溶液，用水稀释至刻度线，摇匀，放置20min后，于分光光度计上，与空白做参比，选用I厘米比色皿，在波长510nm处进行吸光度测定。目前使用邻菲罗啉分光光度法测量高钙质的材料有石灰石、白云石、方解石、碳酸隹丐等。在测量高钙质物质中总铁含量时，在反应过程中pH值约等于5的时候会析出大量的沉淀和悬浮物，在静置20min的时间内不能达到沉淀完全，一般沉淀较多的情况下实现完全沉淀一般会在3 8个小时之间，并且在溶液波动的情况下本文档来自技高网...

【技术保护点】
测量高钙质材料中总铁含量过程中沉积和悬浮物的消除方法，其特征在于，先配置高钙质材料溶液、待显色完全后加入酸溶液。

【技术特征摘要】
1.测量高钙质材料中总铁含量过程中沉积和悬浮物的消除方法，其特征在于，先配置闻隹丐质材料溶液、待显色完全后加入Ife溶液。2.根据权利要求I所述的沉积和悬浮物的消除方法，其特征在于，先配置的高钙质材料溶液是在IOOml容量瓶里配置50ml 80ml的高钙质材料溶液。3.根据权利要求I所述的沉积和悬浮物的消除方法，其特征在于，所述等待显色完全的时间为20 30分钟。4.根据权利要求I所述的沉积和悬浮物的消...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘成斌，李兆廷，李震，施敖荣，孙景晓，向小芬，
申请(专利权)人：芜湖东旭光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：