【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光学薄膜元件,具体涉及。
技术介绍
非制冷热敏型探测器具有室温工作不需要制冷系统、结构紧凑、可靠性高、光谱响应宽且光谱平坦、工艺简单、价格低廉等诸多优点,可以广泛应用于国防、工业、医学和科学研究等领域,例如可用于入侵报警、安全监视、防火报警、非接触测温、工业生产监控、红外成像、飞机车量辅助驾驶、医疗诊断、光谱分析等诸多方面。当红外辐射入射到热敏型非制冷红外探测器上时,红外辐射被探测器吸收而引起探测器温度变化,多数情况下温度的变化会引起探测器某电学参数发生变化(例如电阻值、自发极化强度等),从而实现对红外辐射的探测。非制冷红外探测器的吸收层对红外辐射的吸收特性,不仅直接影响探测器响应 率和探测率,还决定了探测器的光谱响应特性。目前非制冷红外探测器的吸收层存在着附着不牢固或吸收波段窄、和标准半导体工艺不兼容,难以用于线列和面阵探测器等缺点。
技术实现思路
本专利技术的目的是提出一种光谱平坦、宽波段吸收层结构及其制造工艺。解决非制冷红外探测器红外吸收层附着不牢固或吸收波段窄、和标准半导体工艺不兼容,难以用于线列和面阵探测器的问题。本专利技术公开了一种光谱平坦 ...
【技术保护点】
一种光谱平坦的探测器用吸收层,它由铬镍合金层(1)、镍金属薄膜(2)和铬金属薄膜(3)组成,其特征在于:吸收层按入射辐射的入射顺序依次为铬镍合金层(1)、镍金属薄膜(2)和铬金属薄膜(3),其中:所述的铬镍合金层(1)是方块电阻为9.5Ω/□?10.0Ω/□的铬镍合金层;所述的镍金属薄膜(2)为膜厚为75nm?85nm的金属镍;所述的铬金属薄膜(3)是膜厚为18nm?22nm的金属铬。
【技术特征摘要】
1.一种光谱平坦的探测器用吸收层,它由铬镍合金层(I)、镍金属薄膜(2)和铬金属薄膜(3)组成,其特征在于吸收层按入射辐射的入射顺序依次为铬镍合金层(I)、镍金属薄膜(2)和铬金属薄膜(3),其中 所述的铬镍合金层(I)是方块电阻为9. 5 Ω / 口 -10. O Ω / 口的铬镍合金层; 所述的镍金属薄膜(2)为膜厚为75nm-85nm的金属镍; 所述的铬金属薄膜(3)是膜厚为18nm-22nm的金属铬。2.一种制造如权利要求I所述的光谱平坦的探测器用吸收层的制备方法,其特征在于按如下的工艺流程进行 1)光谱平坦的吸收层制作在Mn-PMNT晶片上,它的两个表面分别标...
【专利技术属性】
技术研发人员:马学亮,邵秀梅,于月华,李言谨,
申请(专利权)人:中国科学院上海技术物理研究所,
类型:发明
国别省市:
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