【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于优化激光吸收光谱仪中的激光装置的第一激光参数的操作值的方法及设备。
技术介绍
激光吸收光谱测定(LAS)可以用于通过吸收光谱测定来评估气相的物质的浓度或数量。以及气相的不同原子和分子的数量的定量评估,LAS还可以用于基于相同分子的同位素分子的吸收进行同位素比测量。LAS的这种应用被称作同位素比光学光谱测定(IROS)。举例来说,可以评估CO2气体样本中的13C:12C和18O:16O同位素比。在LAS中,使激光源发出的光穿过有待分析的气体到达检测器,检测器测量接收到的激光的强度。跨越气体中的原子或分子物质的吸收峰扫描激光的波长。物质的吸收峰发生在物质吸收光所在的波长(峰位置)。特性峰位置(即,在特性波长下)的测量到的信号强度的降低可以指示特定物质的存在和/或浓度。在IROS的情况下,物质的每个同位素物具有至少一个特性峰位置。特性峰位置处的测量到的信号强度的降低可以指示存在特定同位素物,并且降低程度可以用于确定所述物质中的同位素物的浓度和/或同位素比。举例来说,CO2同位素分子12C16O16O、13C16O16O和12C18O16O在特定的波长下各自具有不同的吸收峰,这是因为量子机械旋转振动状态(即,每个同位素物吸收不同波长的光)的缘故。测量两个或更多个同位素分子的不同吸收峰可以用于确定CO2中的同位素比,例如13C:12C或18O:16O。LAS中使用的激光源可包括至少一个激光二极管。通过改变至少一个激光参数,可以变更或调谐从激光二极管发出的光的波长。因而,可以通过改变至少一个激光参数跨越一系列波长扫描从激光二极管发出的光的波长。 ...
【技术保护点】
一种优化激光吸收光谱仪中的激光装置的第一激光参数的操作值的方法,其中通过调整所述激光装置的所述第一激光参数和第二激光参数,能改变从所述激光装置发射的激光的波长,并且其中所述激光吸收光谱仪包括光强度检测器,所述光强度检测器被配置成测量从所述激光装置接收的激光的强度,所述方法包括:对于所述第一激光参数的多个值中的每一个:跨越所述第二激光参数的值范围获得在所述光强度检测器处接收到的光强度的量度;识别所述光强度的量度中的极值;以及识别所述极值的峰位置;识别所述第一激光参数的所述多个值内的所述第一激光参数的值范围,对于所述值范围,随着所述第一激光参数的改变,所述识别的峰位置的改变存在连续趋势;以及将所述第一激光参数的所述操作值设置在所述第一激光参数的所述识别的值范围内。
【技术特征摘要】
2015.09.02 GB 1515553.41.一种优化激光吸收光谱仪中的激光装置的第一激光参数的操作值的方法,其中通过调整所述激光装置的所述第一激光参数和第二激光参数,能改变从所述激光装置发射的激光的波长,并且其中所述激光吸收光谱仪包括光强度检测器,所述光强度检测器被配置成测量从所述激光装置接收的激光的强度,所述方法包括:对于所述第一激光参数的多个值中的每一个:跨越所述第二激光参数的值范围获得在所述光强度检测器处接收到的光强度的量度;识别所述光强度的量度中的极值;以及识别所述极值的峰位置;识别所述第一激光参数的所述多个值内的所述第一激光参数的值范围,对于所述值范围,随着所述第一激光参数的改变,所述识别的峰位置的改变存在连续趋势;以及将所述第一激光参数的所述操作值设置在所述第一激光参数的所述识别的值范围内。2.根据权利要求1所述的方法,其中所述第一激光参数的所述识别的值范围是所述第一激光参数的所述多个值内的所述第一激光参数的这样的值范围:对于所述值范围,随着所述第一激光参数的改变限定所述识别的峰位置的函数是连续函数。3.根据权利要求1或权利要求2所述的方法,其中所述连续趋势是线性连续趋势。4.根据在前的任一项权利要求所述的方法,其中所述识别的峰位置至少部分地基于所述第二激光参数的对应于所述识别的极值的值。5.根据权利要求4所述的方法,其中所述识别的峰位置是所述第二激光参数的对应于所述识别的极值的所述值。6.根据在前的任一项权利要求所述的方法,其进一步包括:在所述第一激光参数的所述多个值内识别所述第一激光参数的值范围,对于所述值范围:随着所述第一激光参数的改变,所述识别的峰位置的改变存在连续趋势;并且所述识别的极值中的每一个的峰强度在阈值容差内是相同的。7.根据权利要求6所述的方法,其中所述峰强度至少部分地基于峰高度和/或峰面积中的至少一个。8.根据在前的任一项权利要求所述的方法,其进一步包括:在所述第一激光参数的所述多个值内识别所述第一激光参数的值范围,对于所述值范围:随着所述第一激光参数的改变,所述识别的峰位置的改变存在连续趋势;并且所述第一激光参数的所述多个值中的每一个处的所识别的极值的数目对应于极值的预期数目。9.根据在前的任一项权利要求所述的方法,其中所述极值是使用峰寻找算法识别的。10.根据在前的任一项权利要求所述的方法,其中在所述第一激光参数的多个另外的值内识别所述第一激光参数的两个或更多个值范围,所述方法进一步包括:将所述第一激光参数的所述操作值设置成在所述第一激光参数的所述两个或更多个识别的值范围中的最大范围内。11.根据在前的任一项权利要求所述的方法,其中将所述第一激光参数的所述操作值设置成距所述第一激光参数的所述识别的值范围的中心比距所述第一激光参数的所述识别的值范围的任一极限更近的值。12.根据权利要求1到10中任一项权利要求所述的方法,其中将所述第一激光参数的所述操作值设置成在所述第一激光参数的所述识别的值范围的所述中心的容差阈值内。13.根据在前的任一项权利要求所述的方法,其中所述激光装置包括激光二极管,并且其中:所述第一激光参数是所述激光二极管的温度,并且所述第二激光参数是所述激光二极管的注入电流;或者所述第一激光参数是所述激光二极管的注入电流,并且所述第二激光参数是所述激光二极管的温度。14.根据权利要求...
【专利技术属性】
技术研发人员:U·弗勒里希,E·瓦佩尔郝斯特,
申请(专利权)人:塞莫费雪科学不来梅有限公司,
类型:发明
国别省市:德国;DE
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