极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统技术方案

本发明专利技术涉及一种极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统，该测试系统包括数据采集控制计算机、自准直仪、恒温试验箱、多齿分度台以及与待测经纬仪固定连接的平面反射镜；多齿分度台设置在恒温试验箱内部并与数据采集控制计算机通过线缆电性连接；恒温试验箱的侧壁上设置有光学窗口；待测经纬仪设置在多齿分度台上；自准直仪通过光学窗口与平面反射镜相对并处于等高位置；数据采集控制计算机分别与多齿分度台以及自准直仪相连。本发明专利技术提供了一种自动化程度高、测量精度高以及稳定性高的极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属光学领域，涉及一种精度测试装置，尤其涉及一种极端温度条件下经纬仪水平一测回 精度测试系统。
技术介绍
经纬仪是测量水平面方位角和垂直面俯仰角的大地测量用精密光电测角仪器。随着光电化、数字化和自动化的发展，现代经纬仪已不单是大地测量用仪器，如今广泛应用于测绘、气象、铁路、公路、桥梁、隧道、水利、矿山、汽车、船舶、城市建设等天文测量、大地测量、精密工程测量及计量领域。当然，随着工业发展和国防建设，经纬仪也广泛应用于航空航天、靶场测量、导弹瞄准等多个领域。因此，在生产力和科学技术的不断发展下，经纬仪显示出越来越重要的作用。水平一测回精度作为经纬仪测试中最为重要的技术指标之一，也是划分该经纬仪精度等级的依据，更是衡量该经纬仪方位测量准确度的标准。目前，由于使用环境的影响，尤其是在温度变化或温度要求苛刻的条件下，一般经纬仪的水平一测回精度必会受到较大影响，甚至无法满足指标的要求。但对于要求更为严格的工业级经纬仪甚至军用级经纬仪来说，在极端温度条件下，水平一测回精度仍须满足指标的要求，而该项指标的常温检测已不足以说明其优劣。因此必须对经纬仪在极端温度条件下的水平一测回精度进行准确的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统，其特征在于：所述极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统包括数据采集控制计算机、自准直仪、恒温试验箱、多齿分度台以及与待测经纬仪固定连接的平面反射镜；所述多齿分度台设置在恒温试验箱内部并与数据采集控制计算机通过线缆电性连接；所述恒温试验箱的侧壁上设置有光学窗口；待测经纬仪设置在多齿分度台上；所述自准直仪通过光学窗口与平面反射镜相对并处于等高位置；所述数据采集控制计算机分别与多齿分度台以及自准直仪相连。

【技术特征摘要】
1.一种极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统，其特征在于所述极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统包括数据采集控制计算机、自准直仪、恒温试验箱、多齿分度台以及与待测经纬仪固定连接的平面反射镜；所述多齿分度台设置在恒温试验箱内部并与数据采集控制计算机通过线缆电性连接；所述恒温试验箱的侧壁上设置有光学窗口 ；待测经纬仪设置在多齿分度台上；所述自准直仪通过光学窗口与平面反射镜相对并处于等高位置；所述数据采集控制计算机分别与多齿分度台以及自准直仪相连。2.根据权利要求I所述的极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统，其特征在于所述极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统还包括照准部固定支架；所述待测经纬仪通过照准部固定支架设置在多齿分度台上；所述平面反射镜设在照准部固定支架的侧壁上。3.根据权利要求2所述的极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统，其特征在于所述待测经纬仪与多齿分度台同轴设置。4.根据权利要求3所述的极端温度条件下经纬仪水平一测回精度测试系统，其特征在于所述恒温试验箱上还包括过线孔；所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘亮，赵建科，张周锋，田留德，高博，段炯，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：发明
国别省市：