【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及叶片壁厚检测
,具体为。
技术介绍
目前单晶空心叶片壁厚测量常用的方法有工业CT层析法、和超声脉冲反射法。通过检索国内外专利和论文数据库,检测到《航空制造技术》2005年11期论文《基于CBVCT图像序列的空心润轮叶片壁厚检测技术》是基于叶片维束体积CT图像序列和CAD模型的叶片壁厚检测方法,其原理就是工业CT技术其基本原理为当射线束穿过被检物时,根据各个透射方向上探测器接收到的透射能量,按照一定的图像重建算法,即可获得被检工件截面一薄层无影像重叠的断层扫描图像,重复上述过程又可获得一个新的断层 图像,当测得足够多的二维断层图像就可重建出三维图像。这种方法可以用于复杂型腔的空心叶片的壁厚测量,但测量速度较慢,每小时只能测量1-2个叶片,工作效率低,测量精度也不高,不能满足航空叶片制造的要求。通过检索国内外专利,检测到专利号为200920288310 ;专利类型为新型;专利申请日为2009/12/23 ;分类号为G01B17/02专利名称为“一种复杂空心涡轮叶片壁厚检测专用摸板”该专利内容为常规脉冲反射法检测空心涡轮叶片壁厚检测专用摸板的加工。不涉及检测方法。超声脉冲反射法是目前应用较为广泛的一种测厚技术,测量精度和检测效率比较高,超声波探头将电压信号转换为超声波脉冲发射出去,当遇到端面时脉冲会发生反射,反射回来的信号被超声波发射探头接收并转换为电压信号.超声波会在界面上多次反射,根据其中任一次反射来回所需的时间均可计算出两界面之间的厚度。超声脉冲反射法虽然具有测量精度和检测效率高的优点,但其测厚的前提是材料的声速是均一的,对于单晶叶片 ...
【技术保护点】
一种单晶空心叶片壁厚超声波检测方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤1:根据待检测的单晶空心叶片尺寸,制作检测专用模板;步骤2:将检测专用模板固定在待检测的单晶空心叶片上,并采用标记工具在待检测的单晶空心叶片上标出各个测量截面上的待测点;所述测量截面垂直于待检测的单晶空心叶片主轴方向;同一晶体生长方向上至少两个待测点;步骤3:将各个测量截面上处于同一晶体生长方向上的待测点连成直线,并将所述直线延伸至叶尖;步骤4:对于一个晶体生长方向上的各个待测点,采用如下步骤得到各个待测点位置处的叶片厚度:步骤4.1:采用机械式测量工具测量所述晶体生长方向上各待测点连线延伸线在叶尖处的叶片厚度;步骤4.2:采用超声波测量工具测量步骤4.1中同一测量位置处的叶片厚度,所述超声波测量工具测量过程中,调节超声波声速,得到超声波测量工具测得的叶片厚度值与步骤4.1中得到的叶片厚度值相同时的超声波声速;步骤4.3:采用步骤4.2得到的超声波声速,利用超声波测量工具测量各个待测点位置处的叶片厚度;步骤5:重复步骤4,得到所有晶体生长方向上的待测点位置处的叶片厚度。
【技术特征摘要】
1. 一种单晶空心叶片壁厚超声波检测方法,其特征在于包括以下步骤 步骤I:根据待检测的单晶空心叶片尺寸,制作检测专用模板; 步骤2 :将检测专用模板固定在待检测的单晶空心叶片上,并采用标记工具在待检测的单晶空心叶片上标出各个测量截面上的待测点;所述测量截面垂直于待检测的单晶空心叶片主轴方向;同一晶体生长方向上至少两个待测点; 步骤3 :将各个测量截面上处于同一晶体生长方向上的待测点连成直线,并将所述直线延伸至叶尖; 步骤4 :对于一个晶体生长方向上的各个待测点,采用如下步骤得到各个待测点位...
【专利技术属性】
技术研发人员:李泽,董瑞琴,何喜,
申请(专利权)人:西安航空动力股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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