一种单晶空心叶片壁厚超声波检测方法技术

技术编号:8321498 阅读:288 留言:0更新日期:2013-02-13 20:57
本发明专利技术提出了一种单晶空心叶片壁厚超声波检测方法,首先制作检测专用模板,并用检测专用模板在叶片上标出检测点,将各个测量截面上处于同一晶体生长方向上的待测点连成直线,并将所述直线延伸至叶尖,利用单晶材料沿其生长方向上声速大致相同的原理,采用游标卡尺测出待测点沿其生长方向上叶尖部位的壁厚,通过仪器测出待测点沿其生长方向上叶尖部位的声速,进而获得各待测点的声速,最后将各待测点的声速输入测厚仪,就可测的各待测点的壁厚值。采用该检测方法具有较高的检测精度,精度可到0.03mm,并且检测时间较工业CT时间缩短2/3,因此该检测方法具有检测精度高,检测效率高,检测结果可靠的优点。满足生产要求。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及叶片壁厚检测
,具体为。
技术介绍
目前单晶空心叶片壁厚测量常用的方法有工业CT层析法、和超声脉冲反射法。通过检索国内外专利和论文数据库,检测到《航空制造技术》2005年11期论文《基于CBVCT图像序列的空心润轮叶片壁厚检测技术》是基于叶片维束体积CT图像序列和CAD模型的叶片壁厚检测方法,其原理就是工业CT技术其基本原理为当射线束穿过被检物时,根据各个透射方向上探测器接收到的透射能量,按照一定的图像重建算法,即可获得被检工件截面一薄层无影像重叠的断层扫描图像,重复上述过程又可获得一个新的断层 图像,当测得足够多的二维断层图像就可重建出三维图像。这种方法可以用于复杂型腔的空心叶片的壁厚测量,但测量速度较慢,每小时只能测量1-2个叶片,工作效率低,测量精度也不高,不能满足航空叶片制造的要求。通过检索国内外专利,检测到专利号为200920288310 ;专利类型为新型;专利申请日为2009/12/23 ;分类号为G01B17/02专利名称为“一种复杂空心涡轮叶片壁厚检测专用摸板”该专利内容为常规脉冲反射法检测空心涡轮叶片壁厚检测专用摸板的加工。不涉及检测方法。超声本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种单晶空心叶片壁厚超声波检测方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤1:根据待检测的单晶空心叶片尺寸,制作检测专用模板;步骤2:将检测专用模板固定在待检测的单晶空心叶片上,并采用标记工具在待检测的单晶空心叶片上标出各个测量截面上的待测点;所述测量截面垂直于待检测的单晶空心叶片主轴方向;同一晶体生长方向上至少两个待测点;步骤3:将各个测量截面上处于同一晶体生长方向上的待测点连成直线,并将所述直线延伸至叶尖;步骤4:对于一个晶体生长方向上的各个待测点,采用如下步骤得到各个待测点位置处的叶片厚度:步骤4.1:采用机械式测量工具测量所述晶体生长方向上各待测点连线延伸线在叶尖处的叶片厚度;步骤4.2:采用...

【技术特征摘要】
1. 一种单晶空心叶片壁厚超声波检测方法,其特征在于包括以下步骤 步骤I:根据待检测的单晶空心叶片尺寸,制作检测专用模板; 步骤2 :将检测专用模板固定在待检测的单晶空心叶片上,并采用标记工具在待检测的单晶空心叶片上标出各个测量截面上的待测点;所述测量截面垂直于待检测的单晶空心叶片主轴方向;同一晶体生长方向上至少两个待测点; 步骤3 :将各个测量截面上处于同一晶体生长方向上的待测点连成直线,并将所述直线延伸至叶尖; 步骤4 :对于一个晶体生长方向上的各个待测点,采用如下步骤得到各个待测点位...

【专利技术属性】
技术研发人员:李泽董瑞琴何喜
申请(专利权)人:西安航空动力股份有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1