单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块制造技术

本实用新型专利技术公开了一种单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块，所述对比试块为圆柱体，所述对比试块的一侧底面上设置有平底孔，所述平底孔垂直于底面，所述平底孔与另一侧底面的距离为L，当L小于等于152mm时，所述对比试块的直径为50.8mm±0.76mm；当L大于152mm且小于等于305mm时，所述对比试块的直径为63.5mm±0.76mm；当L大于305mm时，所述对比试块的直径为mm±0.76mm，其中f为所述单晶探头的工作频率（单位：MHz）。本实用新型专利技术弥补了检测距离大于305mm的大尺寸平面锻件无法调试标定的困难，提高了单晶探头探测平面锻件的水平。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块，应用于平面锻件的超声波探伤。
技术介绍
超声波检测试块的作用确定检测灵敏度，测试仪器和探头的性能，调整扫描速度，评判缺陷大小。现有技术中对检测距离小于等于305mm的单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块的平底孔孔径做出了具体规定，对于检测距离大于305mm的单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块的平底孔仅做简略说明“可以要求更大的直径或齿距”，未作具体限定。 因此，需要一种新的对比试块以满足探测大尺寸平面锻件的要求。
技术实现思路
专利技术目的本专利技术的目的就是提供一种单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块，以弥补检测距离大于305mm的平面锻件超声波探伤的不足。技术方案为实现上述专利技术目的，本技术的对比试块可采用如下技术方案一种单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块，所述对比试块为圆柱体，所述对比试块的一侧底面上设置有平底孔，所述平底孔垂直于底面，所述平底孔与另一侧底面的距离为L,当L小于等于152mm时，所述对比试块的直径为50. 8mm±0. 76mm ；当L大于152mm且小于等于305mm时,所述对比试块的直径为63. 5mm±0. 76m本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种单晶探头探测平面锻件平底孔对比试块，所述对比试块为圆柱体，所述对比试块的一侧底面上设置有平底孔，所述平底孔垂直于底面，所述平底孔与另一侧底面的距离为L，当L小于等于152mm时，所述对比试块的直径为50.8mm±0.76mm；当L大于152mm且小于等于305mm时，所述对比试块的直径为63.5？mm±0.76mm；其特征在于，当L大于305mm时，所述对比试块的直径为？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？mm±0.76mm，其中f为所述单晶探头的工作频率，所述工作频率的单位为兆赫。61520dest_path_image001.j...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张利，陈昌华，
申请(专利权)人：南京迪威尔高端制造股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：