光谱仪制造技术

一种光谱仪（38），包括：一个扫描干涉仪（40，42，44），该扫描干涉仪具有一个光束分离器（40），该光束分离器用于将入射光辐射分成一个跟随反射光束路径的反射光束和一个跟随透射光束路径的透射光束；一个单色光辐射源（52），该单色光辐射源用于将一个基准光束沿着首先入射到该光束分离器（40）的一个第一表面（40’）上的一个第一传播路径（62）发射进入该干涉仪（40，42，44）；一个观察光辐射源（46），该观察光辐射源用于将一个观察光束（64）沿着首先入射到该光束分离器（40）的该第一表面（40’）上的一个第二传播路径（66）发射进入该干涉仪（4，6，8；），并且在该第一表面（40’）处与该基准光束重叠；其中当首先并且同时入射到该第一表面（40’）处时，该辐射源（52；46）合作以在该第一表面（40’）处对应的第一（62）与第二（66）传播路径之间生成一个第一夹角（θ），该第一夹角大于该观察光束（64）的发散半角（α）。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】光谱仪本专利技术涉及一种包括扫描干涉仪的光谱仪并且更具体而言包括一个根据迈克尔逊原理或从其推断的原理运行的扫描干涉仪(在本说明书中通常称作“迈克尔逊类型”干涉仪)。已知的扫描干涉仪(比如那些迈克尔逊类型的)通常包括一个光束分离器(典型地还包含一个补偿器)和两个或更多个反射器，比如反射镜或逆向反射器，这些反射器中的至少一个被安排为可相互平移。准直透镜或其他光学器件也可以与干涉仪相关联并且对其操作原理而言不是基础性的，该操作原理实质上依赖光束分离器和相对可移动的反射器的存在。应当理解的是扫描干涉仪是指一种光学安排，在该安排中光束首先由光束分离器拆分成二个分量，在每个分量已经穿过一个由一对相对可移动的反射器中的一个对应的反 射器所限定的不同路径之后这两个分量随后重新组合以便彼此干涉。然后可以从该干涉的光谱内容推断信息，该干涉涉及该光束已经与其互相作用的样本的性质。当这样的干涉仪例如应用在用于光谱学的光谱仪中时，由在感兴趣的波长区域中的相对宽带辐射组成的观察光束发射进入干涉仪以冲击该光束分离器。在此上下文中，术语“发射”是指从上一个光学元件比如光源发射、光纤端、透镜或能够影响光束路径或形状的其本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：雅各布·弗肯伯格，汉斯·拉森，
申请(专利权)人：福斯分析股份公司，
类型：
国别省市：